TW201119935A - Catalytic seeding control method - Google Patents

Description

201119935 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關-種簡單且經濟的控制催化金屬晶粒形成之方法，可以 精確地控祕化金H㈣尺寸及形成的位置，並且職—維方向上成長 奈米結構。 【先前技術】 -維（one·—㈣丨，叫奈米結難造髓及純殊狐正逐漸受 鲁到重視。近年來半導體奈米線的製程技術與物理性質分析是個相當熱門的 研究主題，並且可提供未來在各搞_奈米電子元件上應用之依據，例 如氧化鋅（ZnO)奈米線因具有負電子親合力⑽㈣恤伽n施吻）， 而被廣泛應用於場發射顯示器；奈米碳管（CNT)擁有彈道導電性⑽驗 conductivity) ’而被應用於奈米場效應電晶體；以及二氧化錫（Sn〇2)奈米 線具有表面狀態控制導電性，而用作為化學感測器。 到目則為止’成長-維奈米結構的方法主要是使用化學汽相沈積法透 譽過催化金屬晶粒來成長，此催化金屬晶粒社小、結構與型態對於最終一 維奈米結構的微結構和物理特性甚為重要。催化金屬晶_大小和位置是 影響使用典型「由上而下（top_dGwn)」積體電路元件製㈣重要因素，也 ；就是說’為了在元件製程中在基板上形成各別獨立且具有良好排列的-維 奈米結構’必須尋求—種可行的晶粒控财法，對於日後要顧於積體奈 ,米電子電路製程有很大的幫助。 用來成長-維奈来結構的方法譬如有’將鐵（Fe)催化劑定位於石夕柱 陣列（SipmararrayU、將鎳（Ni)催化晶粒設置於非光刻（n〇nHth〇㈣㈤ 201119935 的陽極氧脑(剔)奈米孔模板（nanGp〇re tem細）孔洞内以及利用電 子束（dectron-beam，EB)光刻定義出晶粒的尺寸和位置於空白的石夕基板 上…等等。迄今為止，除了電子束定義之外，大部分的研究仍舊無法有效 達到精確㈣催化晶粒的尺寸、數量與位置。再者，即使使用電子束方法， 還是需要特殊的實驗室設備絲作光阻，才有接近_賴侧可以被活 化來進行後續的CNT的成長。而且，使用電子束方法來成長大約1〇奈米 (nm)的小晶粒相當耗時。 【發明内容】 雲於以上關題，本發明的主要目的在於提供—健卿化金屬晶粒 形成之方法’利贿融催化金屬薄卿成金驗滴，由於重力的作用而聚 集在疏水性斜面底部’可制良好制並具相定尺相催化金屬晶 粒’對於未來發展-維奈米結構的成長控制以及細於積體化奈米電子元 件製造將會帶來很大的幫助。 因此’為達上述目的’本發明所揭露-健制催化金屬晶粒形成之方 法，包含下列步驟：首先’於基底上製作疏水性斜面，再將催化金屬薄膜 沈積於疏水性斜面上，接著，使催化金屬薄膜加熱熔融而生成複數金屬液 滴，藉由重力使這些金屬液滴於疏水性斜面上產生滾動，並聚集形成單一 催化金屬晶粒且定位於疏水性斜面底部，用以提供成長一維奈米結構。 本發明達成之功效，在於可控制催化金屬晶粒於預先決定的位置生 成，同時，還能夠藉由調整催化金屬薄膜之厚度與疏水性斜面之面積來決 定催化金屬晶粒的尺寸，能確保單一催化金屬晶粒的生成，也就是說，本 發明可有效進行一維奈米結構的成長控制及應用於積體化奈米電子元件製 201119935 造。 為使對本發明的目的、特徵及其功能有進一步的了解，兹配合圖式詳 細說明如下： 【實施方式】 明參照第1A-1E圖’係為本發明之實施例所提供的控制催化金屬晶粒 形成之方法，其主要流程包含下列步驟： 首先，在（100)矽基底1〇上沉積5〇〇nm厚的PECVD氧化層，然後 Φ 塗佈200nm厚的光阻（圖中未示）’並利用電子束將光阻進行微影與圖案 化’接著’利用Rffi氧化物姓刻在石夕基底1〇上形成開孔，同時移除光阻， 再如第1A ®所示’彻氫氧化鉀(KOH)、甲基氫氧驗（TMAH)或鄰苯 -紛加乙一銨(EDP)進行非等向性侧，以製作倒金字塔奈米結構 nanopyramid) 2〇，並形成（⑴）之疏水性斜面η。其中基底的選擇亦可 為其他半導體基底、金屬基底或絕賴基底。而氧化物開孔的大小和倒金 予塔奈米結構2G誠邊長度具有湖性，應該控制摘小越好。 φ 然後’如第1B圖’賤鑛一層钻的催化金屬薄膜30在石夕基底1〇的疏水 性斜面21上。 接著’如第ic圖，以高溫熱退火持續一段適當時間（譬如i〇5〇〇c、 10刀鐘）’使催化金屬薄膜3〇炫融而生成複數奈米大小的始液滴（金屬液 滴）31利用重力的作用，使姑液滴31沿著疏水性斜面滚動，根據上述原 理銘液滴31會聚集形成至少一個單一始晶粒（催化金屬晶粒）η於倒金 子塔奈米結構2G的底部，如第1D圖，最後，亦可使用氫氟酸（阳、緩 衝液型風敦酸（BHF)或其他金屬氧化侧劑，將催化金屬晶粒32之尺寸 201119935 進一步縮減或移除表面不必要的氧化層，因此，本方法可用來成長一維奈 米結構40，譬如’奈米線、奈米管或奈雜，如第1E _示為奈米線。 本發明中，為了讓金屬液滴聚結於倒金字塔奈米結構底部，以形成具 有單一與定位特性的催化金屬晶粒，催化金屬晶粒的大小是由催化金屬薄 膜的沈積厚度以及倒金字塔奈米結構之疏水性斜面的尺寸所決定。接著， 針對本發明之設計的理論基礎予以詳細說明。 奈米尺寸的液滴在斜面上的運動是由表面張力所主導，由於矽基底的 表面對於始而言是疏水性’當炫融的録（Co)液滴生成於矽基底的表面時， 奈米尺寸鈷液滴的外觀可以被假設為近球形，則鈷液滴對於矽基底表面的 接觸長度1滿足公式(1): ⑴ 其中，y，/?、/?與发分別表示金屬液滴之表面張力、半徑與密度以及 重力加速度。 因此，當金屬液滴沿著具有一個傾斜角度#之疏水性斜面，基於力平 衡’疏水性斜面的傾斜角度多只要滿足公式(2)，即會觸發金屬液滴發生滾動： jis-L IZ IUin2ff ._ 3Vs V/Cg v^ + ^sin^ 其中，Θ為金屬液滴在疏水性斜面上的接觸角。 舉例而s，1514 k時錄液滴在石夕基板上之表面張力與接觸角的測量值 分別為0.23 N/m與121。，而沿著矽(11丨)平面（φ=547。）滾動的金屬液滴 之最大半徑大約是0.1mm，遠大於形成於疏水性斜面上的鈷液滴之尺寸， 顯示鈷液滴能夠滾到疏水性斜面的底部產生聚合。 201119935 同時，鈷液滴沿著疏水性斜面滚動的速度V可以由下列公式(3)來計算: ν γζηύηφ /^(Pg)'n (3) 其中’ //為金屬液滴的黏度，且能夠使用公式(4)來估計： //~0.033exp(^I^)mpa.s RT (4) 因此’可以藉由稍微提高催化金屬薄膜的熱回流溫度（reflowing temperature) —小段時間，讓金屬液滴的滾動速度加快，可以更有效的幫助 金屬晶粒在底部聚集。此外，在斜面上的炼融銘液的表面Gibbs自由能變化

量Ags ’在成核期間會受到在斜面上銘液滴之標稱半徑（n〇minaira(jius)與 變形量所影響，可以進一步由公式（5)來描述： = f(er)\ (5) 函數久和民之計算如公式（6): /(0,) = (^c〇sgJ(l-cosg,)2 ⑹ 其中，ί代表α和r，分別是前進角和後退角。藉由成核的臨界Gibbs自 由能’具有最大自由能的原子簇大小必須大於或至少等於斜面上的金屬液 滴之最小成核標稱半徑。因此’綜合公式（2)以及上面的論述，當金屬液 滴之半徑範圍滿足公式（7)，則可觸發金屬液滴沿著倒金字塔奈米結構發 生滾動： ⑺ 其中’ Θ、於和办分別是熔融始在石夕基板上的接觸角 '單位面積的界面 能、和單位面積的Gibbs自由能。因此，可得知鈷液滴在疏水性斜面上的生 成、滾動與聚集，和催化金屬薄膜的沈積厚度以及倒金字塔奈米結構之疏 201119935 水性斜面的尺寸具有蝴性，因而本發明可藉此控卿化金屬晶粒的大 小，即可順利成長一維奈米結構。 為了證明本制確實有其功效，請參鮮2圖，顯示根據上述方法之 實施例所形成之單—㉝晶粒的舰線雜賴圖（Auger· line s_ing spectrum)。此單晶粒是藉由本方法沉積3Qnm獅催化金屬薄膜並 纽由上述方法’而形成單H粒於倒金字塔奈絲構的底部，如頻譜圖 中所不’债測到774 eV鈷與1617 eV石夕的訊號，如同SEM插圖一樣，可 證明本發明之控娜化金屬晶粒縣之方糾實生成了具有⑼嘟直徑大 小的單一鈷晶粒，其位於底邊長度3〇〇1^之倒金字塔奈米結構的底部。 另一方面’第3圖顯示本實施例沉積6nm鈷的催化金屬薄膜，經由熱 回流形成單一鈷晶粒後所成長之單一 CNT的SEM微觀圖。此CNT成長於 具有氫氣（250ml/min)、氬氣（250ml/min)混合氣體的氣氛下，經過6〇(rc、 1〇分鐘的熱處理，然後，通入乙烯（QHJ 2分鐘、溫度為85〇〇c來合成 CNT其中鼠氣、氮氣與乙稀的流量分別為375、1〇〇與25ml/min。而萊曼 頻譜圖（Ramanspectrum)的插圖中，顯示具有1350(^4 mode和1598cm·1 G mode的峰值，表示成長的單—CNT係確實具有大尺寸晶粒的多壁碳管 (multi-walledtube)。然而，催化金屬晶粒的尺寸還可進一步利用在純氬氣 的氣氛中進行高溫退火’使部份的催化金屬晶粒汽化，而適用於單壁CNT 的成長β 在本發明之實施例中，使用ΚΟΗ石夕敍刻方法，來製作底邊長度範圍從 100-500nm的倒金字塔奈米結構在（10〇)矽基底上，然後沈積6或3〇nm 録的催化金屬薄膜於矽基底上，這顯示出鈷晶粒的平均大小、倒金字塔奈 201119935 米結構的尺寸與催化金㈣膜軌積厚度之間的縣。晶粒大小是由質量 守值定律所估算出i假設所有在倒金字塔奈米結構表面麟催化金屬薄 膜都會溶融、Μ，綱w—祕嫌__的底部， 則聚集後的晶粒之半徑⑻可以由公式（8)來估算： 其中’ z與ί分別為倒金字塔奈米結構的底邊長度與催化金屬薄膜的厚 度。 如第从也®所* ’提供了倒金字塔奈米結構的底邊長度祕於错晶 粒的大小之關係’第4Α圖與第4b圖分別為—與3〇啦厚度的催化金屬 薄膜’且基板都經過_。(： ' 1G分_熱社。由此可知，晶粒大小係可 進步藉由減少催化金屬薄膜的厚度與倒金字塔奈米結構的底邊長度而縮 小。 综上所述，本發明揭露一種可以成功控制催化金屬晶粒形成之位置與 修大小之方法’係根據催化金屬薄膜在熔融態下將形成金屬液滴，並於具有 疏水特性之斜面上發生滾動行為，進而導致晶姉合職單—晶粒於疏水 性斜面底部。金屬鶴沿著斜面滾_行為是聚合晶粒於疏水性斜面底部 的-個重要機制’實驗結果酬，藉由適當_整催化金屬薄賴熱處理 溫度與_，催化金屬晶粒的大小將可以由雜金屬薄膜厚度與薄膜下方 之斜面尺寸決定，因此一維奈米結構可輕易地藉由適當的晶粒尺寸選擇而 形成具有單一與定位特性之材料，並可依據此一維奈米結構製作出元件與 電路。

9 201119935 雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。在 不脫離本㈣之精神和範_，所為之更動細飾，關本發明之專利保 護範圍關於本發明戶斤界定之保護範圍請參考戶斤附之申請利範圍。 【圖式簡單說明】 第ΙΑ 1E圖為本發明之實施例所提供的控制催化金屬晶粒形成之方法之各 步驟的結構示意圖。 第2圖為本發明之實施例之單晶㈣俄歇線掃描頻譜圖。 第3圖為本發明之實施例所成長之單—cnt_m微觀圖。 第4A_4B圖林㈣之料增林料結_紐長度減浦晶 粒的大小之關係圖。 【主要元件符號說明】 10梦基底 20倒金字塔奈米結構 21疏水性斜面 30催化金屬薄膜 31金屬液滴 32催化金屬晶粒 40 —維奈米結構

Claims (1)

1. 201119935 七、申請專利範圍： 1. 一種控制催化金屬晶粒形成之方法，其步驟包含： 形成一疏水性斜面於一基底上； 沈積一催化金屬薄膜於該疏水性斜面上；及 加熱熔融該催化金屬薄膜而生成複數金屬液滴，藉由重力使該些金屬液 滴於該疏水性斜面上產生滾動，並聚集形成單一催化金屬晶粒且定位 於該疏水性斜面底部，用以提供成長—維奈米結構，其中該催化金 • 屬晶粒之半徑係隨著該催化金屬薄膜之厚度與該疏水性斜面之面積而 改變。 2. 如申π專利範圍第1項所述之控制催化金屬晶粒形成之方法，其中該疏 水性斜面之傾斜角度列系滿足下列公式： 3V5V^Vl3 + 12sini5 其中，Θ為該些金屬液滴於該疏水性斜面之接觸角；及 以Ρ與$分別為該些金屬液滴之表©張力、半徑與密度以及重力加速 • 度。 3. 如申__第丨項所述之控赚化金屬晶粒形成之方法，其中該催 . ^金屬柄之厚度與該疏水性斜®之®積係滿足下列公式： 3λ/5 V^V13 + J2sin^ 其中，W續尽分別為該些金屬液滴之表面張力、半徑與密度以及重 力加速度； Θ，备與私分別為該些金細_疏水性斜面之接_、單位面積的界 面乂及單位體積的Gibbs自由能；及 201119935 «與r分別為該些金屬液滴之前進角以及後退角。 4. 如申請專利範圍第丨項所述之控制催化金屬晶粒形成之方法，更包含使 用金屬氧化蝕刻劑蝕刻將該催化金屬晶粒之尺寸進一步縮小。 5. 如申印專利範圍第1項所述之控制催化金屬晶粒形成之方法，更包含利 用高溫退火使部份的該催化金屬晶粒汽化，而將該催化金屬晶粒之尺寸 進一步縮小。 6·如申請專利範圍第1項所述之控制催化金屬晶粒形成之方法，其中該基 底為半導體基底、金屬基底或絕緣體基底。 7. 如申請專利範圍第1項所述之控制催化金屬晶粒形成之方法，其中形成 該疏水性斜面之步驟，係製作—倒金字塔奈米結構於該基絲形成該疏 水性斜面。 8. 如申請專利範圍第7項所述之控制催化金屬晶粒形成之方法，其中該疏 水性斜面係（111)平面，該基底係（100)矽基底。 9. 如申請專利範圍第7項所述之控制催化金屬晶粒形成之方法，其中該倒 金字塔奈綠構雜贱氧化* (KOH)、Μ贼化錢（了疆）或 EDP之濕餘刻方式所形成。 1〇·如申請專利範圍第1項所述之控制催化金屬晶粒形成之方法其中該 維奈米結構係為奈米線、奈米管或奈米柱。 12