KR20210005089A - Protection relay device characteristic test system - Google Patents

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KR20210005089A
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Abstract

보호 계전 장치의 내부에 마련된 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 있는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템을 얻는다. 보호 계전 장치(1)의 연산 처리부(2)로부터의 처리 신호에 의해서 계측 회로(6)에 입력되는 테스트 신호를 생성하는 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 테스트 신호를 계측하는 전압 계측 장치(15)를 구비하고 있다. A characteristic test system of a protection relay device capable of confirming the integrity of a test signal generated by a test waveform generator circuit provided inside the protection relay device is obtained. Voltage measurement device 15 for measuring a test signal from a test waveform generation circuit 7 that generates a test signal input to the measurement circuit 6 by a processed signal from the operation processing unit 2 of the protection relay device 1 ).

Figure P1020207033141
Figure P1020207033141

Description

보호 계전 장치의 특성 시험 시스템Protection relay device characteristic test system

본원은 전기 설비를 전력 계통의 이상으로부터 보호하는 보호 계전 장치의 특성 시험을 행하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 관한 것이다. The present application relates to a characteristic test system of a protective relay device for performing a characteristic test of a protective relay device for protecting an electrical installation from an abnormality in a power system.

보호 계전 장치는, 전력 계통에 사고 혹은 고장 등의 이상이 발생했을 경우, 이 이상을 검출하여 전력 계통에 접속되어 있는 전기 설비를 전력 계통으로부터 분리시켜 보호하는 기기이다. The protection relay device is a device that detects an abnormality such as an accident or a breakdown in the power system, and separates and protects an electric facility connected to the power system from the power system.

보호 계전 장치의 적정한 보호 기능을 유지하기 위해서는, 정기적으로 보호 계전 장치의 특성 시험을 실시할 필요가 있다. In order to maintain the proper protective function of the protective relay device, it is necessary to periodically perform characteristic tests of the protective relay device.

이와 같은 보호 계전 장치의 특성 시험에서는, 보호 계전 장치의 보호 기능을 동작시키기 위한 기준이 되는 규정값(설정값이라고도 함. 이하 마찬가지임) 이상의 입력을 보호 계전 장치에 공급하여 이상을 검출하고, 이상이 검출되고 있는 시간이 규정값 동안 계속되었을 경우에 보호가 동작하는 것을 확인한다. 이 특성 시험은, 보호 계전 장치의 외부 기기 접속 단자부에 접속시킨 특성 시험에 적합한 테스트 신호를 발생시킬 수 있는 전용 시험기로부터 시험용 입력을 인가하여 시험을 행하는 방법, 또는 보호 계전 장치의 내부에 마련된 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호를 이용하여 행하는 것을 가능하게 한 특성 시험 시스템이 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조). In such a characteristic test of a protection relay device, an abnormality is detected by supplying an input equal to or greater than a specified value (also referred to as a set value, hereinafter the same) as a reference for operating the protection function of the protection relay device to the protection relay device. Check that the protection is activated when the time being detected continues for the specified value. This characteristic test is a method of performing a test by applying a test input from a dedicated tester capable of generating a test signal suitable for a characteristic test connected to the external device connection terminal of the protective relay device, or a test waveform provided inside the protective relay device. A characteristic test system has been known which makes it possible to perform using a test signal generated by a generation circuit (see, for example, Patent Document 1).

일본 특개 2010-284057호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-284057

전술한 바와 같은 보호 계전 장치의 특성 시험에 있어서, 시험기를 이용하여 특성 시험을 행하는 경우에는, 보호 계전 장치와는 별도로 준비한 시험기를 특성 시험 실시마다 보호 계전 장치에 접속시킬 필요가 있다. 또한, 보호 계전 장치에 내장된 시험 파형 발생 회로를 이용하여 특성 시험을 실시하는 경우에는, 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 없는 시스템이었으므로, 상기 시험기의 출력을 모의한 테스트 신호에 상응하도록 생성된 시험 파형 발생 회로로부터의 테스트 신호의 입력으로 규정 조건에서 보호가 동작되었는지 여부까지 판단할 수 없었다. In the characteristic test of the protective relay device as described above, in the case of performing the characteristic test using a tester, it is necessary to connect a tester prepared separately from the protective relay device to the protective relay device for each performance test. In addition, in the case of performing a characteristic test using the test waveform generator circuit built in the protection relay device, it was a system that could not verify the integrity of the test signal generated by the test waveform generator circuit. It was not possible to determine whether the protection was operated under the specified conditions by inputting the test signal from the test waveform generator circuit generated to correspond to.

본원은 상기와 같은 과제를 해결하기 위한 기술을 개시한 것으로, 보호 계전 장치와는 별도로 외부에 시험기를 준비해 둘 필요가 없고, 또한, 보호 계전 장치의 내부에 마련된 시험 파형 발생 회로를 이용하여 특성 시험을 실시하는 것에 있어서는, 해당 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 있는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템을 얻는 것을 목적으로 한다. This application discloses a technology for solving the above problems, and it is not necessary to prepare an external tester separately from the protection relay device, and also, a characteristic test using a test waveform generator circuit provided inside the protection relay device In implementing the test waveform generation circuit, it is an object to obtain a characteristic test system for a protection relay device capable of confirming the integrity of a test signal generated by the test waveform generator circuit.

본원에 개시되는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템은, 전력 계통으로부터의 아날로그 전기량이 입력되는 입력 회로와, 입력 회로로부터의 아날로그 전기량을 디지털 신호로 변환하는 A/D 컨버터를 가진 계측 회로와, 계측 회로로부터의 디지털 신호를 이용하여 연산 처리를 실행하는 연산 처리부와, 연산 처리부의 판정 결과에 기초하여 차단기를 동작시키는 신호를 생성하는 출력 회로와, 조작 스위치부로부터의 입력에 의해 표시 항목의 설정이 이루어지고, 설정된 표시 항목에 따라 연산 처리부로부터의 출력을 표시하는 표시부를 가지는 보호 계전 장치에 마련되고, 연산 처리부로부터의 처리 신호에 의해서 계측 회로에 입력되는 테스트 신호를 생성하는 시험 파형 발생 회로를 가진 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서, 시험 파형 발생 회로로 생성된 테스트 신호를 계측하는 계측 장치를 구비한 것이다. A characteristic test system for a protection relay device disclosed herein includes an input circuit for inputting an analog amount of electricity from a power system, a measurement circuit having an A/D converter that converts the amount of analog electricity from the input circuit into a digital signal, and a measurement circuit. An operation processing unit that executes arithmetic processing using a digital signal from the output circuit, an output circuit that generates a signal to operate the circuit breaker based on the determination result of the arithmetic processing unit, and the display item are set by input from the operation switch unit. Protection with a test waveform generation circuit that is provided in a protection relay device having a display unit that displays the output from the operation processing unit according to the set display item and generates a test signal input to the measurement circuit by the processing signal from the operation processing unit A characteristic test system for a relay device is provided with a measuring device for measuring a test signal generated by a test waveform generating circuit.

본원에 개시되는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 의하면, 시험 파형 발생 회로로 생성된 테스트 신호를 계측하는 계측 장치를 구비함으로써, 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 있다. According to the characteristic test system of the protective relay device disclosed herein, by including a measuring device for measuring a test signal generated by a test waveform generating circuit, the integrity of a test signal generated by the test waveform generating circuit can be confirmed.

도 1은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 2는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 정면 개략 구성을 나타내는 외관도이다.
도 3은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 신호 변환 유닛의 정면 개략 구성을 나타내는 외관도이다.
도 4는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 신호 변환 유닛과 계측 장치의 접속 구성을 나타내는 도면이다.
도 5는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 표시부의 표시 양태의 일례를 나타내는 도면이다.
도 6은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치와 신호 변환 유닛의 접속 구성과 그 사용예를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 표시부의 조정 화면의 일례를 나타내는 도면이다.
도 8은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 동작 플로차트를 나타내는 도면이다. 1 is a block diagram showing a configuration of a system for testing characteristics of a protection relay device according to a first embodiment.
2 is an external view showing a schematic front configuration of a protection relay device in a characteristic test system of the protection relay device according to the first embodiment.
3 is an external view showing a schematic front configuration of a signal conversion unit in the characteristic test system of the protective relay device according to the first embodiment.
4 is a diagram showing a connection configuration between a signal conversion unit and a measurement device in the characteristic test system of the protective relay device according to the first embodiment.
5 is a diagram illustrating an example of a display mode of a display portion of a protection relay device in a characteristic test system of a protection relay device according to the first embodiment.
6 is a diagram for explaining a connection configuration between a protection relay device and a signal conversion unit in the characteristic test system of the protection relay device according to the first embodiment and an example of use thereof.
7 is a diagram illustrating an example of an adjustment screen of a display portion of a protection relay device in a characteristic test system of a protection relay device according to the first embodiment.
8 is a diagram showing an operation flowchart of the characteristic test system of the protection relay device according to the first embodiment.

이하, 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 바람직한 실시 형태에 대해서 도면을 이용하여 설명한다. 또한, 각 도면에 있어서 동일 또는 상당하는 부분에 대해서는, 동일 부호를 부여하여 설명한다. Hereinafter, a preferred embodiment of a system for testing characteristics of a protection relay device will be described with reference to the drawings. In addition, in each drawing, the same or equivalent parts are described with the same reference numerals.

실시 형태 1. Embodiment 1.

도 1은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 구성을 나타내는 블록도이다. 1 is a block diagram showing the configuration of a characteristic test system of a protection relay device according to a first embodiment.

보호 계전 장치(1)는 전력 계통으로부터의 아날로그 전기량이 입력되는 입력 회로(5), 입력 회로(5)로부터의 아날로그 전기량을 디지털 신호로 변환하는 A/D 컨버터(61)를 가진 계측 회로(6), 계측 회로(6)로부터의 디지털 신호를 이용하여 소정의 연산 처리를 실행하는 연산 처리부(CPU)(2), 연산 처리부(2)의 판정 결과에 기초하여 차단기(13)를 동작시키는 신호를 생성하는 출력 회로(9), 조작부를 구성하는 조작 스위치부(10)로부터의 입력에 의해 표시 항목의 설정이 이루어지고, 설정된 표시 항목에 따라 연산 처리부(2)로부터의 출력을 표시하는 표시부(11), 연산 처리부(2)로부터의 처리 신호에 의해서 계측 회로(6)에 입력되는 테스트 신호를 생성하는 시험 파형 발생 회로(7)를 구비하고 있다. 시험 파형 발생 회로(7)는 연산 처리부(2)로부터의 출력(디지털 신호)을 아날로그 신호로 변환하는 D/A 컨버터(71) 및 증폭기(72)를 가지고 구성되어 있다. The protective relay device 1 is a measuring circuit 6 having an input circuit 5 for inputting an analog amount of electricity from the power system, and an A/D converter 61 for converting the amount of analog electricity from the input circuit 5 into a digital signal. ), a signal for operating the circuit breaker 13 based on the determination result of the calculation processing unit (CPU) 2 and the calculation processing unit 2 that executes predetermined arithmetic processing using digital signals from the measurement circuit 6 The output circuit 9 to be generated, the display unit 11 that sets the display item by input from the operation switch unit 10 constituting the operation unit, and displays the output from the arithmetic processing unit 2 according to the set display item. ), and a test waveform generator circuit 7 for generating a test signal input to the measurement circuit 6 by a processed signal from the arithmetic processing unit 2. The test waveform generation circuit 7 includes a D/A converter 71 and an amplifier 72 for converting an output (digital signal) from the arithmetic processing unit 2 into an analog signal.

또한, 보호 계전 장치(1)는 연산 처리부(2)에서의 연산 처리에 필요한 정보를 기억하고 있는 불휘발성 메모리(3), 보호 계전 장치(1)의 동작에 필요한 전원(4), 외부에 마련된 제어기(12)인 프로그래머블 로직 컨트롤러(PLC)와 오픈 필드 네트워크(N)를 통해서 연산 처리부(2)와 신호, 정보의 수수(授受)를 행하는 전송 인터페이스(전송 I/F)를 구성하는 전송 회로(8)를 가지고 있다. In addition, the protection relay device 1 includes a nonvolatile memory 3 that stores information required for operation in the arithmetic processing unit 2, a power supply 4 required for the operation of the protection relay device 1, and externally provided. A transfer circuit constituting a transfer interface (transfer I/F) that transfers signals and information to and from the arithmetic processing unit 2 through the programmable logic controller (PLC) and the open field network (N) as the controller 12 ( 8) has.

입력 회로(5)는 전력 계통으로부터 입력되는 아날로그 전기량을 후속 회로에 적합한 레벨로 변환하는 요소로서, 전력 계통의 전류를 검출하는 보조 변류기(보조 CT)를 가진 전류 계측 회로(51), 전력 계통의 전압을 검출하는 보조 변압기(보조 VT)를 가진 전압 계측 회로(52), 전력 계통의 영상(零相) 전류를 검출하는 보조 변류기(보조 CT)를 가진 영상 전류 계측 회로(53), 전력 계통의 영상 전압을 검출하는 보조 변압기(보조 VT)를 가진 영상 전압 계측 회로(54)를 가지고 있다. The input circuit 5 is an element that converts the amount of analog electricity input from the power system into a level suitable for subsequent circuits, and the current measurement circuit 51 having an auxiliary current transformer (assistant CT) that detects the current of the power system, A voltage measurement circuit 52 with an auxiliary transformer (auxiliary VT) for detecting voltage, an image current measurement circuit 53 with an auxiliary current transformer (auxiliary CT) for detecting the image current of the power system, It has a video voltage measurement circuit 54 with an auxiliary transformer (auxiliary VT) for detecting the video voltage.

계측 회로(6)는 입력 회로(5)로부터의 신호와 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 신호를 전환하여 A/D 컨버터(61)에 공급하는 멀티플렉서로 구성된 입력 전환기(62a, 62b, 62c, 62d)를 가지고 있고, 보호 계전 장치(1)를 통상적으로 사용하는 경우에는, 입력 회로(5)에 접속되고, 보호 계전 장치(1)의 특성 시험을 실시하는 경우에는, 시험 파형 발생 회로(7)에 접속된다. 또한, 입력 전환기(62a, 62b, 62c, 62d)와 A/D 컨버터(61)는 증폭기(63a, 63b, 63c, 63d)를 통해서 접속되어 있다. 또한, 계측 회로(6)에는, A/D 컨버터(61)의 기준 전원(기준 전원 IC라고도 함)을 가지고 있다. The measurement circuit 6 is an input converter 62a, 62b, 62c composed of a multiplexer that converts the signal from the input circuit 5 and the signal from the test waveform generator circuit 7 and supplies it to the A/D converter 61. 62d), and when the protection relay device 1 is normally used, it is connected to the input circuit 5, and when performing the characteristic test of the protection relay device 1, the test waveform generator circuit 7 ). Further, the input switching devices 62a, 62b, 62c, 62d and the A/D converter 61 are connected via amplifiers 63a, 63b, 63c, and 63d. Further, the measurement circuit 6 has a reference power supply (also referred to as reference power supply IC) of the A/D converter 61.

차단기(13)는 보호 계전 장치(1)가 접속되어 있는 전력 계통에 마련되어 있고, 출력 회로(9)로부터의 신호에 의해서 개로 동작하여, 전력 계통을 개방시킴으로써, 해당 전력 계통에 접속되어 있는 전기 설비를 전력 계통으로부터 분리시켜 보호한다. The circuit breaker 13 is provided in the power system to which the protective relay device 1 is connected, operates open by a signal from the output circuit 9, opens the power system, and is an electrical facility connected to the power system. Is protected by separating from the power system.

또한, 보호 계전 장치(1)는 신호 변환 유닛(14)을 통해서 전압 계측 장치(15), 시간 계측 장치(16)가 접속되어 있다. Further, the protection relay device 1 is connected to a voltage measuring device 15 and a time measuring device 16 via a signal conversion unit 14.

신호 변환 유닛(14)은 증폭 회로(140)와 가변 저항(141), 및 절연 트랜스를 이용한 절연 회로(142a, 142b)를 가지고 있고, 시험 파형 발생 회로(7)의 출력이 증폭 회로(140), 가변 저항(141), 절연 회로(142a)를 통해서 공급되고, 또한, 연산 처리부(2)의 제어용 시간 신호에 대응한 펄스 신호가 절연 회로(142b)를 통해서 공급되도록 구성되어 있다. The signal conversion unit 14 has an amplifying circuit 140, a variable resistor 141, and insulating circuits 142a and 142b using an insulating transformer, and the output of the test waveform generating circuit 7 is an amplifying circuit 140 , The variable resistor 141 and the insulating circuit 142a, and a pulse signal corresponding to the control time signal of the arithmetic processing unit 2 is supplied through the insulating circuit 142b.

보호 계전 장치(1)는 입력측에는 전원(4), 전류 계측 회로(51), 전압 계측 회로(52), 영상 전류 계측 회로(53), 영상 전압 계측 회로(54)를 전력 계통에 접속시키기 위한 입력 단자부를 가지고, 출력측에는 신호 변환 유닛(14), 제어기(12), 차단기(13)를 접속시키기 위한 출력 단자부를 가지고 있다. The protection relay 1 is for connecting a power supply 4, a current measurement circuit 51, a voltage measurement circuit 52, a video current measurement circuit 53, and a video voltage measurement circuit 54 to the power system on the input side. It has an input terminal part, and has an output terminal part for connecting the signal conversion unit 14, the controller 12, and the breaker 13 on the output side.

신호 변환 유닛(14)은 입력측에는 테스트 파형, 펄스 신호를 입력하기 위한 입력용 단자가 되는 입력 단자부(T2), 및 출력측에는 테스트 파형, 펄스 신호를 출력하기 위한 출력용 단자가 되는 출력 단자부(T3)를 가지고 있다. The signal conversion unit 14 has an input terminal portion T2 serving as an input terminal for inputting a test waveform and a pulse signal on the input side, and an output terminal portion T3 serving as an output terminal for outputting a test waveform and pulse signal on the output side. Have.

시험 파형 발생 회로(7)로부터의 테스트 파형의 신호, 연산 처리부(2)로부터의 펄스 출력의 신호가 출력되는 각 출력 단자부(T1)와, 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)는, 각 전용 케이블(C1)에 의해서 접속되어 있다. Each output terminal portion T1 to which the test waveform signal from the test waveform generator circuit 7 and the pulse output signal from the arithmetic processing unit 2 are output, and the input terminal portion T2 of the signal conversion unit 14, It is connected by each dedicated cable (C1).

전압 계측 장치(15) 및 시간 계측 장치(16)는, 신호 변환 유닛(14)의 출력 단자부(T3)에 각각 접속되어 있고, 전압 계측 장치(15)는 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 테스트 파형의 신호를 측정하고, 또한, 시간 계측 장치(16)는 연산 처리부(2)로부터의 펄스 출력의 신호를 측정한다. The voltage measurement device 15 and the time measurement device 16 are connected to the output terminal portion T3 of the signal conversion unit 14, respectively, and the voltage measurement device 15 is tested from the test waveform generator circuit 7 The waveform signal is measured, and the time measurement device 16 measures the signal of the pulse output from the arithmetic processing unit 2.

도 2는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 정면 개략 구성을 나타내는 외관도이다. 2 is an external view showing a schematic front configuration of a protection relay device in a characteristic test system of a protection relay device according to the first embodiment.

도 2에 나타내는 바와 같이, 보호 계전 장치(1)의 정면 부분에는, 조작 스위치부(10), 표시부(11), 출력 단자부(T1)를 가지고 있다. 조작 스위치부(10)에는, 표시 모드를 전환하는 조작 스위치(10A, 10B) 및 표시 양태를 전환하는 조작 스위치(10C, 10D)를 가지고 있다. As shown in FIG. 2, in the front part of the protective relay device 1, the operation switch part 10, the display part 11, and the output terminal part T1 are provided. The operation switch unit 10 includes operation switches 10A and 10B for switching display modes and operation switches 10C and 10D for switching display modes.

도 3은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 신호 변환 유닛의 정면 개략 구성을 나타내는 외관도이다. 3 is an external view showing a schematic front configuration of a signal conversion unit in the characteristic test system of the protection relay device according to the first embodiment.

도 3에 나타내는 바와 같이, 신호 변환 유닛(14)의 정면 부분에는, 보호 계전 장치(1)에 접속되는 입력 단자부(T2), 전압 계측 장치(15) 및 시간 계측 장치(16)가 접속되는 출력 단자부(T3), 신호 변환 유닛(14)을 교정하기 위한 기준이 되는 교정용 기기가 접속되는 입력 단자부(T4), 신호 변환 유닛(14)의 전원이 접속되는 전원 단자부(T5)를 가지고 있다. As shown in Fig. 3, in the front part of the signal conversion unit 14, the input terminal portion T2 connected to the protective relay device 1, the voltage measuring device 15, and the output to which the time measuring device 16 are connected. It has a terminal part T3, an input terminal part T4 to which a calibration device serving as a reference for calibrating the signal conversion unit 14 is connected, and a power supply terminal part T5 to which a power source of the signal conversion unit 14 is connected.

또한, 신호 변환 유닛(14)의 정면부에 나사에 의해 장착된 패널에는, 입력 단자부(T2), 출력 단자부(T3), 입력 단자부(T4), 전원 단자부(T5)의 각 단자부 근방에 해당 단자부에 접속되는 접속 대상이 표기되어 있다. In addition, on the panel mounted on the front side of the signal conversion unit 14 by screws, the corresponding terminal portions are provided in the vicinity of each terminal portion of the input terminal portion T2, the output terminal portion T3, the input terminal portion T4, and the power terminal portion T5. The connection target to be connected to is indicated.

도 4는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 신호 변환 유닛과 계측 장치의 접속 구성을 나타내는 도면이다. 4 is a diagram showing a connection configuration between a signal conversion unit and a measurement device in the characteristic test system of the protection relay device according to the first embodiment.

도 4에 나타내는 바와 같이, 신호 변환 유닛(14)의 출력 단자부(T3)에는, 전압 계측 장치(15)와 시간 계측 장치(16)가 접속되어 있다. 또한, 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 전용 케이블(C1)에 의해서, 보호 계전 장치(1)의 출력 단자부(T1)에 접속된다. As shown in FIG. 4, a voltage measuring device 15 and a time measuring device 16 are connected to the output terminal portion T3 of the signal conversion unit 14. Further, the input terminal portion T2 of the signal conversion unit 14 is connected to the output terminal portion T1 of the protection relay device 1 by a dedicated cable C1, as shown in FIG. 1.

또한, 도 4에서는, 도 1에 있어서의 전류 계측 회로(51)로부터의 출력에 상당하는 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 신호 출력을 계측하는 것으로서 전압 계측 장치(15), 및 도 1에 나타내는 연산 처리부(2)로부터의 펄스 출력의 신호를 계측하는 것으로서 시간 계측 장치(16)가 출력 단자부(T3)에 접속된 양태를 나타내고 있다. 출력 단자부(T3)에는, 계측하고 싶은 출력에 적합한 계측 장치가 접속된다. 예를 들면, 도 4에 있어서는, 도 1에 있어서의 전류 계측 회로(51)가 입력 전류를 변류하여 전압 출력하는 것인 경우, 이것에 대응하는 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 신호 출력에 대해서는 전압 계측 장치(15)로 전압을 계측하는 양태를 나타내고 있다. 후술 하는 도 6에 대해서도 마찬가지이다. In addition, in FIG. 4, the voltage measurement device 15 as shown in FIG. 1 as measuring the signal output from the test waveform generation circuit 7 corresponding to the output from the current measurement circuit 51 in FIG. As the signal of the pulse output from the arithmetic processing unit 2 is measured, a mode in which the time measurement device 16 is connected to the output terminal unit T3 is shown. A measuring device suitable for the output to be measured is connected to the output terminal portion T3. For example, in FIG. 4, when the current measuring circuit 51 in FIG. 1 current-measuring circuit 51 converts an input current and outputs a voltage, the signal output from the test waveform generator circuit 7 corresponding thereto The mode of measuring the voltage with the voltage measuring device 15 is shown. The same applies to Fig. 6 described later.

전압 계측 장치(15) 혹은 시간 계측 장치(16)에 의해서, 시험 파형 발생 회로(7) 혹은 연산 처리부(2)로부터의 출력이 특성 시험에 필요한 규정값으로 되어 있는지 여부를 확인할 수 있다. With the voltage measurement device 15 or the time measurement device 16, it is possible to confirm whether or not the output from the test waveform generation circuit 7 or the arithmetic processing unit 2 has a specified value required for a characteristic test.

또한, 입력 단자부(T4)에 교정용 기기, 예를 들면, 교류 전압 발생기를 접속시키고, 출력 단자부(T3)에 접속된 계측 장치에 의해서 신호 변환 유닛(14)의 정밀도를 확인할 수 있다. 이와 같이 하여 신호 변환 유닛(14)의 정밀도를 확인한 결과, 신호 변환 유닛(14)의 정밀도가 규정 범위 밖이면, 신호 변환 유닛(14)에 내장되어 있는 도 1에 나타내는 가변 저항(141)을 조정함으로써, 신호 변환 유닛(14)을 적정한 상태로 할 수 있다. 또한, 가변 저항(141)의 조정 작업은, 예를 들면, 신호 변환 유닛(14)의 본체에 나사 고정되어 있는 패널을 떼어내어 행할 수 있다. Further, a calibration device, for example, an AC voltage generator is connected to the input terminal portion T4, and the accuracy of the signal conversion unit 14 can be checked by a measuring device connected to the output terminal portion T3. As a result of confirming the accuracy of the signal conversion unit 14 in this way, if the accuracy of the signal conversion unit 14 is outside the specified range, the variable resistor 141 shown in Fig. 1 built in the signal conversion unit 14 is adjusted. By doing so, the signal conversion unit 14 can be in an appropriate state. In addition, the adjustment work of the variable resistor 141 can be performed by removing the panel screwed to the main body of the signal conversion unit 14, for example.

도 5는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 표시부의 표시 양태의 일례를 나타내는 도면이다. 보호 계전 장치(1)의 조작 스위치부(10)에 가지는 조작 스위치(10A, 10B, 10C, 10D)를 조작함으로써, 표시부(11)에 표시되는 화면이 선택되는 일례를 나타내고 있고, 테스트 신호 파형 조정, 연산 처리부 계측 시간의 펄스 신호의 확인이 가능한 모드로 이행한다. 조정 요소(전류, 전압), 시간 계측에 대해서는, 조작 스위치부(10)의 조작 스위치로 전환한다. 조정 요소는 (a) 전류 파형 조정(오프셋), (b) 전류 파형 조정(게인), (c) 전압 파형 조정(오프셋), (d) 전압 파형 조정(게인), (e) 연산 처리부 계측 시간 출력으로서, 표시부(11)에는, 전류 파형 조정 화면(오프셋), 전류 파형 조정 화면(게인), 전압 파형 조정 화면(오프셋), 전압 파형 조정 화면(게인), 시간 확인 화면을 화살표 방향으로 선택적으로 표시할 수 있다. 5 is a diagram illustrating an example of a display mode of a display portion of a protection relay device in a characteristic test system of a protection relay device according to the first embodiment. An example in which a screen displayed on the display unit 11 is selected by operating the operation switches 10A, 10B, 10C, 10D included in the operation switch unit 10 of the protective relay device 1 is shown, and test signal waveform adjustment , The operation processing unit shifts to the mode in which the pulse signal of the measurement time can be checked. The control elements (current, voltage) and time measurement are switched to the operation switch of the operation switch unit 10. Adjustment factors are (a) current waveform adjustment (offset), (b) current waveform adjustment (gain), (c) voltage waveform adjustment (offset), (d) voltage waveform adjustment (gain), (e) calculation processing unit measurement time As output, on the display unit 11, a current waveform adjustment screen (offset), a current waveform adjustment screen (gain), a voltage waveform adjustment screen (offset), a voltage waveform adjustment screen (gain), and a time check screen are selectively arranged in the direction of the arrow. Can be displayed.

도 6은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치와 신호 변환 유닛의 접속 구성과 그 사용예를 나타내는 도면이다. 도 6에 나타내는 바와 같이, 보호 계전 장치(1)와 신호 변환 유닛(14)은, 전용 케이블(C1)에 의해서, 보호 계전 장치(1)의 출력 단자부(T1)와 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)가 접속되어 있다. 또한, 신호 변환 유닛(14)의 출력 단자부(T3)에는, 전압 계측 장치(15)와 시간 계측 장치(16)가 접속되어 있다. 또한, 도 6에 있어서는, 보호 계전 장치(1)의 출력 단자부(T1)와 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)를 접속시키는 전용 케이블(C1)에 흐르는 신호의 표시 양태를 예시하고 있고, 오프셋(출력 파형의 중심 전압)의 조정 (A), 게인(출력 파형의 진폭)의 조정 (B), 연산 처리부 계측 시간(펄스 출력)의 확인 (C)의 예를 나타내고 있다. 이들 신호는, 예를 들면, 출력 단자부(T3)에 접속된 오실로스코프에 표시함으로써 확인 가능하다. 6 is a diagram showing a connection configuration between a protection relay device and a signal conversion unit in the characteristic test system of the protection relay device according to the first embodiment and an example of use thereof. As shown in FIG. 6, the protection relay device 1 and the signal conversion unit 14 are connected to the output terminal portion T1 of the protection relay device 1 and the signal conversion unit 14 by a dedicated cable C1. The input terminal portion T2 is connected. Further, a voltage measuring device 15 and a time measuring device 16 are connected to the output terminal portion T3 of the signal conversion unit 14. In addition, in Fig. 6, the display mode of the signal flowing through the dedicated cable C1 connecting the output terminal portion T1 of the protective relay device 1 and the input terminal portion T2 of the signal conversion unit 14 is illustrated. , The offset (center voltage of the output waveform) is adjusted (A), the gain (amplitude of the output waveform) is adjusted (B), and the calculation processing unit measurement time (pulse output) is checked (C). These signals can be confirmed, for example, by displaying them on an oscilloscope connected to the output terminal portion T3.

도 5에 있어서 설명한 조정 요소 (a)~(e)를 결정 후, 테스트 파형의 조정 화면으로 이행한다. 조정 화면에서는, 조작 스위치로 조정값을 증감시킴으로써, 출력 파형의 오프셋, 파형의 진폭에 반영한다. 연산 처리부 계측 시간 확인의 조정 화면은 없지만, 도 5의 시간 확인 화면에서의 조작 스위치 조작으로 펄스 출력한다. After determining the adjustment elements (a) to (e) described in Fig. 5, the screen moves to the adjustment screen of the test waveform. On the adjustment screen, the adjustment value is increased or decreased by the operation switch to reflect the offset of the output waveform and the amplitude of the waveform. There is no adjustment screen for checking the measurement time of the arithmetic processing unit, but pulses are output by operation of an operation switch on the time check screen in Fig. 5.

도 7은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 표시부의 조정 화면예(전류)의 일례를 나타내는 도면이다. 표시부(11)에는, 파형 조정 요소(7a), 조정값(7b)이 표시되어 있다. 도 5에 있어서의 조정 요소 선택 화면에서, 테스트 파형의 조정 요소를 선택하고, 선택 후, 이 도 7의 조정 화면으로 이행한다. 조정값은 조작 스위치에 의해 증감시킨다. 조정값은 도 6에 나타내는 바와 같이 테스트 파형의 출력에 반영한다. 7 is a diagram showing an example of an adjustment screen (current) of a display portion of a protection relay device in a characteristic test system of a protection relay device according to the first embodiment. On the display unit 11, a waveform adjustment element 7a and an adjustment value 7b are displayed. In the adjustment element selection screen in Fig. 5, an adjustment element of the test waveform is selected, and after selection, the adjustment screen in Fig. 7 is shifted. The adjustment value is increased or decreased by the operation switch. As shown in Fig. 6, the adjustment value is reflected in the output of the test waveform.

도 8은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 동작 플로차트를 나타내는 도면이다. 8 is a diagram showing an operation flowchart of the characteristic test system of the protection relay device according to the first embodiment.

먼저, 조정전 준비로서, 보호 계전 장치(1)의 출력 단자부(T1)와 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)를 전용 케이블(C1)로 접속시켜 보호 계전 장치(1)에 신호 변환 유닛(14)을 접속시키고, 또한 신호 변환 유닛(14)의 출력 단자부(T3)에 전압 계측 장치(15) 및 시간 계측 장치(16) 등의 계측 장치를 접속시킨다(스텝 S11). 신호 변환 유닛(14)에 접속된 시간 계측 장치(16)에 의해서 연산 처리부(2)의 펄스 출력의 시간 확인을 행하여, 연산 처리부(2)의 계측 시간을 확인하고(스텝 S12)(도 6 참조), 확인 결과가 규정값 범위 내이면(스텝 S13에서 Yes), 스텝 S14로 진행하고, 확인 결과가 규정값 범위 내가 아니면(스텝 S13에서 No), 스텝 S15로 진행하여, 보호 계전 장치(1)가 고장이라고 판단하여 장치의 교환을 행하여 작업을 종료한다. First, as preparation before adjustment, the output terminal portion T1 of the protective relay device 1 and the input terminal portion T2 of the signal conversion unit 14 are connected with a dedicated cable C1 to convert the signal to the protective relay device 1 The unit 14 is connected, and measurement devices such as the voltage measurement device 15 and the time measurement device 16 are connected to the output terminal portion T3 of the signal conversion unit 14 (step S11). The time measurement device 16 connected to the signal conversion unit 14 checks the time of the pulse output of the calculation processing unit 2, and checks the measurement time of the calculation processing unit 2 (step S12) (see Fig. 6). ), if the confirmation result is within the prescribed value range (Yes in step S13), the process proceeds to step S14, and if the confirmation result is within the prescribed value range (No in step S13), the process proceeds to step S15, and the protection relay device 1 Is judged to be a failure, the device is replaced, and the work is terminated.

스텝 S14에서는, 테스트 파형의 출력 요소를 선택하고(도 5 참조), 출력 요소가 전류 요소인 경우에는 전류 테스트 파형을 출력하고(스텝 S16), 출력 요소가 전압 요소인 경우에는 전압 테스트 파형을 출력하며(스텝 S17), 출력 요소가 영상 전류 요소인 경우에는 영상 전류 테스트 파형을 출력하고(스텝 S18), 출력 요소가 영상 전압 요소인 경우에는 영상 전압 테스트 파형을 출력한다(스텝 S19). In step S14, the output element of the test waveform is selected (refer to Fig. 5), when the output element is a current element, a current test waveform is output (step S16), and when the output element is a voltage element, a voltage test waveform is output. (Step S17), if the output element is a video current element, a video current test waveform is output (Step S18), and when the output element is a video voltage element, a video voltage test waveform is output (Step S19).

스텝 S20에서는, 스텝 S16~스텝 S19에 있어서 출력된 파형의 진폭 및 오프셋값이, 규정값 범위 내이면(Yes), 스텝 S21로 진행하고, 규정값 범위 내가 아니면(No), 스텝 S22로 진행하여, 출력 파형의 진폭 조정을 행하고(도 6 참조), 스텝 S20으로 되돌아간다. In step S20, if the amplitude and offset values of the waveform output in step S16 to step S19 are within the specified value range (Yes), the process proceeds to step S21, and if it is within the specified value range (No), the process proceeds to step S22. , The amplitude of the output waveform is adjusted (see Fig. 6), and the flow returns to step S20.

스텝 S21에 있어서, 모든 파형의 조정이 완료되어 있는지 여부를 판단하여, 완료되어 있으면(Yes), 스텝 S23으로 진행하여, 특성 시험을 개시하고, 완료되어 있지 않으면(No), 스텝 S14로 되돌아간다. In step S21, it is judged whether or not the adjustment of all the waveforms has been completed, and if it is completed (Yes), the process proceeds to step S23 to start the characteristic test, and if not (No), it returns to step S14. .

실시 형태에 있어서의 기본적 구성은, 신호 변환 유닛(14)을 개재하는 일 없이, 보호 계전 장치(1)에 마련된 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 테스트 신호를 계측하는 계측 장치를 구비함으로써 구성될 수 있고, 이 구성에 의하면, 계측 장치인 전압 계측 장치(15)에 의해서 테스트 신호의 테스트 파형을 계측함으로써, 테스트 신호의 건전성을 확인하는 것이 가능하게 된다. The basic configuration in the embodiment is configured by providing a measurement device that measures a test signal from the test waveform generation circuit 7 provided in the protection relay device 1 without interposing the signal conversion unit 14. With this configuration, it is possible to check the integrity of the test signal by measuring the test waveform of the test signal by the voltage measuring device 15 as a measuring device.

또한, 이 실시 형태 1에 있어서는, 또한, 이하에 나타내는 3개의 기능을 가지고 있다. In addition, in this Embodiment 1, it also has three functions shown below.

(1) 신호 변환 유닛(14)을 통해서, 시험 파형 발생 회로(7)로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 있는 시스템으로 함으로써, 시험기로부터의 출력을 모의한 테스트 신호인 것을 확인할 수 있는 기능을 가진다. 신호 변환 유닛은 교정이 가능하고, 교정이 취해진 신호 변환 유닛으로 테스트 신호의 확인을 행한다. (1) Through the signal conversion unit 14, a system capable of confirming the integrity of the test signal generated by the test waveform generator circuit 7 provides a function of confirming that the output from the tester is a simulated test signal. Have. The signal conversion unit is capable of calibration, and the test signal is confirmed by the signal conversion unit to which the calibration has been taken.

(2) 연산 처리부(2)가 계측하는 시간을 외부에 펄스 신호로서 출력하는 기능을 탑재한다. 이 펄스 신호를 교정된 시간 계측 장치(16)로 측정한다. 이것에 의해, 연산 처리부(2)가 계측하고 있는 시간이 올바르다고 확인할 수 있다. (2) A function of outputting the time measured by the arithmetic processing unit 2 to the outside as a pulse signal is mounted. This pulse signal is measured by the calibrated time measuring device 16. Thereby, it can be confirmed that the time measured by the arithmetic processing unit 2 is correct.

(3) 생성한 테스트 신호를 확인하고, 규정값을 벗어난 경우를 상정하여, 테스트 신호의 출력을 조정할 수 있는 기능을 탑재한다. 부품 열화 등으로, 생성하는 테스트 신호가 규정값을 벗어난 경우에는, 출력 파형의 오프셋, 진폭(게인)을 조정할 수 있는 기능을 탑재한다. 여기서 파형 조정한 조정값에 관해서는, 테스트 신호에 반영한다. (3) A function that can check the generated test signal and adjust the output of the test signal assuming that it deviates from the specified value is installed. When the test signal to be generated deviates from the specified value due to component deterioration or the like, a function capable of adjusting the offset and amplitude (gain) of the output waveform is provided. Here, the adjustment value adjusted for the waveform is reflected in the test signal.

상기 (1), (2)에 의해, 시험 파형 발생 회로(7)로 생성한 테스트 신호의 건전성의 확인과 연산 처리부(2)가 계측하는 시간의 건전성의 확인을 가능하게 함으로써 특성 시험 시스템에 의한 시험의 신뢰성 향상 및 특성 시험 결과의 트레이서빌리티(traceability)를 확보한다. According to the above (1) and (2), it is possible to confirm the integrity of the test signal generated by the test waveform generator circuit 7 and the integrity of the time measured by the calculation processing unit 2, thereby allowing the characteristic test system to Improve test reliability and secure traceability of characteristic test results.

또한, 상기 (3)의 기능을 탑재함으로써, 항상 건전한 테스트 신호를 입력하여, 특성 시험이 가능하게 되는 시스템을 실현한다. In addition, by incorporating the function of (3) above, a system in which a sound test signal is always input and a characteristic test is possible is realized.

신호 변환 유닛(14)은 입력 파형의 증폭 회로(140)와 절연 회로(142a, 142b) 및 가변 저항(141)으로 구성되어 있고, 각각의 목적은 하기 (1), (2)와 같다. The signal conversion unit 14 is composed of an amplifying circuit 140 of an input waveform, insulating circuits 142a and 142b, and a variable resistor 141, and the purpose of each is as follows (1) and (2).

(1) 신호 변환 유닛 내에 증폭 회로(140)와 가변 저항(141)을 배치함으로써 출력 파형의 조정을 한다. 통상의 증폭율은 ×1배의 저항값으로 되어 있지만, 가변 저항(141)을 변동시킴으로써, 증폭율을 변경할 수 있어, 출력 파형의 조정이 가능하게 된다. 따라서, 절연 회로(142a, 142b)를 구성하는 절연 트랜스의 문제(예를 들어, 열화)에 의해, 입력 파형과 출력 파형의 차이가 발생되었을 경우에 출력 파형의 조정을 행한다. 신호 변환 유닛(14)의 오프셋분의 차이에 관해서는, 조정 불가이기 때문에, 신호 변환 유닛 자체의 교환이 필요하게 된다. (1) The output waveform is adjusted by arranging the amplifier circuit 140 and the variable resistor 141 in the signal conversion unit. Although the normal amplification factor is a resistance value of x1, by changing the variable resistor 141, the amplification factor can be changed, and the output waveform can be adjusted. Accordingly, when a difference between the input waveform and the output waveform occurs due to a problem (eg, deterioration) of the insulating transformer constituting the insulating circuits 142a and 142b, the output waveform is adjusted. As for the difference in the offset of the signal conversion unit 14, since it is not adjustable, it is necessary to replace the signal conversion unit itself.

(2) 절연 회로(142a, 142b)의 절연 트랜스에 의해, 보호 계전 장치(1)의 내부 회로의 보호를 행한다. 보호 계전 장치(1)의 내부 회로와 계측 장치인 전압 계측 장치(15), 시간 계측 장치(16)를 절연하지 않고 직접 접속하려고 했을 경우, 사람의 손가락이 접촉됨으로써 예를 들면 정전기의 노이즈가 진입할 가능성이 있다. 신호 변환 유닛(14)과 보호 계전 장치(1)를 커넥터 접속하고, 접속시에는 사람의 손가락이 접촉되지 않는 구조(접속구가 작음)로 한다. 신호 변환 유닛(14)을 접속하고, 보호 계전 장치(1)와 절연된 상태를 만든 다음, 계측 장치인 전압 계측 장치(15), 시간 계측 장치(16)를 접속하여, 출력 파형을 확인한다. (2) The internal circuit of the protection relay device 1 is protected by the insulation transformer of the insulation circuits 142a and 142b. When trying to directly connect the internal circuit of the protective relay device 1 with the voltage measuring device 15 and the time measuring device 16, which are measuring devices, without insulation, contact with a human finger causes, for example, static electricity noise to enter. There is a possibility to do it. The signal conversion unit 14 and the protective relay device 1 are connector-connected, and a structure in which human fingers do not come into contact during the connection (a connection port is small). The signal conversion unit 14 is connected, the protective relay device 1 is insulated from each other, and then the voltage measuring device 15 and the time measuring device 16 which are measuring devices are connected to check the output waveform.

테스트 파형을 계측 장치인 전압 계측 장치(15)로 계측하는 것뿐이라면, 신호 변환 유닛(14)은 불필요하다. As long as the test waveform is only measured by the voltage measurement device 15 which is a measurement device, the signal conversion unit 14 is unnecessary.

보호 계전 장치(1)의 내부에 절연 트랜스를 배치하거나, 절연 트랜스만의 신호 변환 유닛으로도 문제없이 계측 가능하다. Measurements can be made without problems even with an insulating transformer disposed inside the protection relay device 1 or a signal conversion unit of only the insulating transformer.

그러나, 이 구조로 했을 경우, 이하의 (1), (2)의 문제를 고려할 필요가 있다. However, in the case of using this structure, it is necessary to consider the following problems (1) and (2).

(1) 보호 계전 장치(1)의 내부에 절연 트랜스를 배치하는 경우(1) When an insulating transformer is placed inside the protective relay device (1)

테스트 파형을 계측 장치로 측정했을 경우에, 정상값 범위로부터 벗어난 경우, 보호 계전 장치(1)가 생성하는 테스트 신호에 문제가 있어서 정상값으로부터 벗어났는지, 절연 트랜스의 문제(예를 들면, 열화)로 벗어났는지를 판단할 수 없다. When the test waveform is measured with a measuring device, it is out of the normal value range, there is a problem with the test signal generated by the protective relay device 1, and whether it deviates from the normal value, or an insulation transformer problem (for example, deterioration) It cannot be judged whether or not it has escaped.

(2) 절연 트랜스만의 신호 변환 유닛인 경우(2) In case of a signal conversion unit only for insulation transformers

신호 변환 유닛(14)의 입출력의 확인으로 신호 변환 유닛 자체의 건전성은 확인할 수 있지만, 신호 변환 유닛 자체의 출력값 조정을 할 수 없기 때문에, 건전성 확인으로 문제가 있는 경우, 신호 변환 유닛의 교환이 필요하게 된다. By confirming the input/output of the signal conversion unit 14, the soundness of the signal conversion unit itself can be confirmed, but since the output value of the signal conversion unit itself cannot be adjusted, if there is a problem with the soundness check, the signal conversion unit needs to be replaced. Is done.

실시 형태 1과 같이 신호 변환 유닛을 마련함으로써, 이들 문제점을 해소할 수 있다. By providing the signal conversion unit as in the first embodiment, these problems can be solved.

본원은 예시적인 실시 형태가 기재되어 있지만, 실시 형태에 기재된 다양한 특징, 양태, 및 기능은 특정 실시 형태의 적용으로 한정되는 것은 아니며, 단독으로, 또는 다양한 조합으로 실시 형태에 적용 가능하다. Although exemplary embodiments are described herein, various features, aspects, and functions described in the embodiments are not limited to the application of the specific embodiments, and can be applied to the embodiments alone or in various combinations.

따라서, 예시되어 있지 않은 무수한 변형예가, 본원 명세서에 개시되는 기술 범위 내에 있어서 상정된다. 예를 들면, 적어도 하나의 구성요소를 변형하는 경우, 추가하는 경우 또는 생략하는 경우가 포함되는 것으로 한다. Therefore, countless modifications that are not illustrated are contemplated within the technical range disclosed in the specification of the present application. For example, a case of modifying, adding or omitting at least one component is included.

1 : 보호 계전 장치 2 : 연산 처리부
5 : 입력 회로 6 : 계측 회로
7 : 시험 파형 발생 회로 9 : 출력 회로
10 : 조작 스위치부 11 : 표시부
14 : 신호 변환 유닛 15 : 전압 계측 장치
16 : 시간 계측 장치1: protection relay device 2: operation processing unit
5: input circuit 6: measurement circuit
7: test waveform generation circuit 9: output circuit
10: operation switch part 11: display part
14: signal conversion unit 15: voltage measuring device
16: time measuring device

Claims (4)

전력 계통으로부터의 아날로그 전기량이 입력되는 입력 회로와, 상기 입력 회로로부터의 아날로그 전기량을 디지털 신호로 변환하는 A/D 컨버터를 가진 계측 회로와, 상기 계측 회로로부터의 디지털 신호를 이용하여 연산 처리를 실행하는 연산 처리부와, 상기 연산 처리부의 판정 결과에 기초하여, 상기 전력 계통에 마련된 차단기를 동작시키는 신호를 생성하는 출력 회로와, 조작 스위치부로부터의 입력에 의해 표시 항목의 설정이 이루어지고, 상기 설정된 표시 항목에 따라 상기 연산 처리부로부터의 출력을 표시하는 표시부를 가지는 보호 계전 장치에 마련되고, 상기 연산 처리부로부터의 처리 신호에 의해서 상기 계측 회로에 입력되는 테스트 신호를 생성하는 시험 파형 발생 회로를 가진 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서,
상기 시험 파형 발생 회로로 생성된 테스트 신호를 계측하는 계측 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템. An input circuit into which an analog amount of electricity from the power system is input, a measurement circuit having an A/D converter that converts the analog amount of electricity from the input circuit into a digital signal, and a digital signal from the measurement circuit are used to perform arithmetic processing. An output circuit for generating a signal for operating a circuit breaker provided in the power system, based on a result of determination of the calculation processing unit and the calculation processing unit, and an input from the operation switch unit to set display items, and the set Protection having a test waveform generation circuit that is provided in a protection relay device having a display unit that displays an output from the operation processing unit according to a display item, and generates a test signal input to the measurement circuit by a processing signal from the operation processing unit In the relay device characteristic test system,
A characteristic test system for a protection relay device, comprising: a measurement device that measures a test signal generated by the test waveform generation circuit. 청구항 1에 있어서,
상기 계측 장치는 전압 계측 장치인 것을 특징으로 하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템. The method according to claim 1,
The measuring device is a voltage measuring device, characterized in that the characteristic test system of the protective relay device. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 계측 장치의 입력측에 마련되고, 상기 시험 파형 발생 회로로부터의 테스트 신호의 교정을 행하는 신호 변환 유닛을 구비한 것을 특징으로 하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템. The method according to claim 1 or 2,
And a signal conversion unit provided on the input side of the measuring device and configured to calibrate a test signal from the test waveform generating circuit. 청구항 3에 있어서,
상기 연산 처리부에 이용되는 시간 신호를 계측하는 시간 계측 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템. The method of claim 3,
A system for testing characteristics of a protection relay, comprising a time measuring device for measuring a time signal used in the calculation processing unit.
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