KR102462925B1 - Protective Relay Characteristics Test System - Google Patents

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KR102462925B1 KR1020207033141A KR20207033141A KR102462925B1 KR 102462925 B1 KR102462925 B1 KR 102462925B1 KR 1020207033141 A KR1020207033141 A KR 1020207033141A KR 20207033141 A KR20207033141 A KR 20207033141A KR 102462925 B1 KR102462925 B1 KR 102462925B1
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미쓰비시덴키 가부시키가이샤
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Abstract

보호 계전 장치의 내부에 마련된 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 있는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템을 얻는다. 보호 계전 장치(1)의 연산 처리부(2)로부터의 처리 신호에 의해서 계측 회로(6)에 입력되는 테스트 신호를 생성하는 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 테스트 신호를 계측하는 전압 계측 장치(15)를 구비하고 있다. A characteristic test system of the protective relay device is obtained that can confirm the integrity of the test signal generated by the test waveform generating circuit provided inside the protective relay device. A voltage measuring device 15 for measuring a test signal from a test waveform generating circuit 7 that generates a test signal input to the measuring circuit 6 by a process signal from the arithmetic processing unit 2 of the protective relay device 1 . ) is provided.

Figure R1020207033141
Figure R1020207033141

Description

보호 계전 장치의 특성 시험 시스템Protective Relay Characteristics Test System

본원은 전기 설비를 전력 계통의 이상으로부터 보호하는 보호 계전 장치의 특성 시험을 행하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 관한 것이다. This application relates to the characteristic test system of the protection relay device which performs the characteristic test of the protection relay device which protects an electrical installation from the abnormality of an electric power system.

보호 계전 장치는, 전력 계통에 사고 혹은 고장 등의 이상이 발생했을 경우, 이 이상을 검출하여 전력 계통에 접속되어 있는 전기 설비를 전력 계통으로부터 분리시켜 보호하는 기기이다. A protective relay device is a device that, when an abnormality such as an accident or failure occurs in a power system, detects the abnormality and separates and protects electrical equipment connected to the power system from the power system.

보호 계전 장치의 적정한 보호 기능을 유지하기 위해서는, 정기적으로 보호 계전 장치의 특성 시험을 실시할 필요가 있다. In order to maintain the proper protective function of the protective relay device, it is necessary to periodically conduct a characteristic test of the protective relay device.

이와 같은 보호 계전 장치의 특성 시험에서는, 보호 계전 장치의 보호 기능을 동작시키기 위한 기준이 되는 규정값(설정값이라고도 함. 이하 마찬가지임) 이상의 입력을 보호 계전 장치에 공급하여 이상을 검출하고, 이상이 검출되고 있는 시간이 규정값 동안 계속되었을 경우에 보호가 동작하는 것을 확인한다. 이 특성 시험은, 보호 계전 장치의 외부 기기 접속 단자부에 접속시킨 특성 시험에 적합한 테스트 신호를 발생시킬 수 있는 전용 시험기로부터 시험용 입력을 인가하여 시험을 행하는 방법, 또는 보호 계전 장치의 내부에 마련된 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호를 이용하여 행하는 것을 가능하게 한 특성 시험 시스템이 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조). In such a characteristic test of the protective relay device, an abnormality is detected by supplying an input equal to or greater than the specified value (also referred to as a set value, hereinafter the same applies) to the protective relay device as a standard for operating the protective function of the protective relay device, and the abnormality is detected. Check that the protection is activated if the time being detected continues for a specified value. This characteristic test is performed by applying a test input from a dedicated tester capable of generating a test signal suitable for the characteristic test connected to the external device connection terminal of the protective relay device, or a test waveform provided inside the protective relay device. A characteristic test system capable of being performed using a test signal generated by a generator circuit is known (for example, refer to Patent Document 1).

일본 특개 2010-284057호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2010-284057

전술한 바와 같은 보호 계전 장치의 특성 시험에 있어서, 시험기를 이용하여 특성 시험을 행하는 경우에는, 보호 계전 장치와는 별도로 준비한 시험기를 특성 시험 실시마다 보호 계전 장치에 접속시킬 필요가 있다. 또한, 보호 계전 장치에 내장된 시험 파형 발생 회로를 이용하여 특성 시험을 실시하는 경우에는, 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 없는 시스템이었으므로, 상기 시험기의 출력을 모의한 테스트 신호에 상응하도록 생성된 시험 파형 발생 회로로부터의 테스트 신호의 입력으로 규정 조건에서 보호가 동작되었는지 여부까지 판단할 수 없었다. In the characteristic test of the protective relay device as described above, in the case of performing the characteristic test using a tester, it is necessary to connect a testing machine prepared separately from the protective relay device to the protective relay device for each characteristic test execution. In addition, in the case of performing a characteristic test using the test waveform generator circuit built in the protective relay device, since it was a system that could not confirm the soundness of the test signal generated by the test waveform generator circuit, a test signal simulating the output of the tester With the input of the test signal from the test waveform generating circuit generated corresponding to

본원은 상기와 같은 과제를 해결하기 위한 기술을 개시한 것으로, 보호 계전 장치와는 별도로 외부에 시험기를 준비해 둘 필요가 없고, 또한, 보호 계전 장치의 내부에 마련된 시험 파형 발생 회로를 이용하여 특성 시험을 실시하는 것에 있어서는, 해당 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 있는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템을 얻는 것을 목적으로 한다. The present application discloses a technique for solving the above problems, there is no need to prepare an external tester separately from the protective relay device, and also a characteristic test using a test waveform generating circuit provided inside the protective relay device The purpose of this is to obtain a characteristic test system for a protective relay that can confirm the integrity of the test signal generated by the test waveform generating circuit.

본원에 개시되는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템은, 전력 계통으로부터의 아날로그 전기량이 입력되는 입력 회로와, 입력 회로로부터의 아날로그 전기량을 디지털 신호로 변환하는 A/D 컨버터를 가진 계측 회로와, 계측 회로로부터의 디지털 신호를 이용하여 연산 처리를 실행하는 연산 처리부와, 연산 처리부의 판정 결과에 기초하여 차단기를 동작시키는 신호를 생성하는 출력 회로와, 조작 스위치부로부터의 입력에 의해 표시 항목의 설정이 이루어지고, 설정된 표시 항목에 따라 연산 처리부로부터의 출력을 표시하는 표시부를 가지는 보호 계전 장치에 마련되고, 연산 처리부로부터의 처리 신호에 의해서 계측 회로에 입력되는 테스트 신호를 생성하는 시험 파형 발생 회로를 가진 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서, 시험 파형 발생 회로로 생성된 테스트 신호를 계측하는 계측 장치를 구비한 것이다. The protection relay characteristic test system disclosed herein includes an input circuit to which an analog electric quantity from a power system is input, and an A/D converter for converting the analog electric quantity from the input circuit into a digital signal; a measurement circuit; An arithmetic processing unit that executes arithmetic processing using a digital signal from Protection having a test waveform generating circuit that is provided in a protection relay device having a display unit for displaying the output from the arithmetic processing unit according to a set display item, and generating a test signal input to the measurement circuit by a processing signal from the arithmetic processing unit A relay device characteristic test system comprising a measuring device for measuring a test signal generated by a test waveform generating circuit.

본원에 개시되는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 의하면, 시험 파형 발생 회로로 생성된 테스트 신호를 계측하는 계측 장치를 구비함으로써, 시험 파형 발생 회로로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 있다. According to the characteristic test system of the protective relay device disclosed herein, by providing the measuring device for measuring the test signal generated by the test waveform generating circuit, the soundness of the test signal generated by the test waveform generating circuit can be confirmed.

도 1은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 2는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 정면 개략 구성을 나타내는 외관도이다.
도 3은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 신호 변환 유닛의 정면 개략 구성을 나타내는 외관도이다.
도 4는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 신호 변환 유닛과 계측 장치의 접속 구성을 나타내는 도면이다.
도 5는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 표시부의 표시 양태의 일례를 나타내는 도면이다.
도 6은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치와 신호 변환 유닛의 접속 구성과 그 사용예를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 표시부의 조정 화면의 일례를 나타내는 도면이다.
도 8은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 동작 플로차트를 나타내는 도면이다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a block diagram which shows the structure of the characteristic test system of the protective relay device which concerns on Embodiment 1. FIG.
It is an external view which shows the front schematic structure of the protective relay in the characteristic test system of the protective relay which concerns on Embodiment 1. FIG.
It is an external view which shows the front schematic structure of the signal conversion unit in the characteristic test system of the protective relay device which concerns on Embodiment 1. FIG.
It is a figure which shows the connection structure of the signal conversion unit in the characteristic test system of the protective relay device which concerns on Embodiment 1, and a measuring device.
It is a figure which shows an example of the display mode of the display part of the protection relay device in the characteristic test system of the protection relay device which concerns on Embodiment 1. FIG.
It is a figure for demonstrating the connection structure of the protection relay device and the signal conversion unit in the characteristic test system of the protection relay device which concerns on Embodiment 1, and its use example.
It is a figure which shows an example of the adjustment screen of the display part of the protective relay in the characteristic test system of the protective relay which concerns on Embodiment 1. FIG.
It is a figure which shows the operation|movement flowchart of the characteristic test system of the protective relay device which concerns on Embodiment 1. FIG.

이하, 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 바람직한 실시 형태에 대해서 도면을 이용하여 설명한다. 또한, 각 도면에 있어서 동일 또는 상당하는 부분에 대해서는, 동일 부호를 부여하여 설명한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, preferred embodiment of the characteristic test system of a protective relay device is demonstrated using drawings. In addition, the same code|symbol is attached|subjected and demonstrated about the same or corresponding part in each figure.

실시 형태 1. Embodiment 1.

도 1은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 구성을 나타내는 블록도이다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a block diagram which shows the structure of the characteristic test system of the protective relay device which concerns on Embodiment 1. FIG.

보호 계전 장치(1)는 전력 계통으로부터의 아날로그 전기량이 입력되는 입력 회로(5), 입력 회로(5)로부터의 아날로그 전기량을 디지털 신호로 변환하는 A/D 컨버터(61)를 가진 계측 회로(6), 계측 회로(6)로부터의 디지털 신호를 이용하여 소정의 연산 처리를 실행하는 연산 처리부(CPU)(2), 연산 처리부(2)의 판정 결과에 기초하여 차단기(13)를 동작시키는 신호를 생성하는 출력 회로(9), 조작부를 구성하는 조작 스위치부(10)로부터의 입력에 의해 표시 항목의 설정이 이루어지고, 설정된 표시 항목에 따라 연산 처리부(2)로부터의 출력을 표시하는 표시부(11), 연산 처리부(2)로부터의 처리 신호에 의해서 계측 회로(6)에 입력되는 테스트 신호를 생성하는 시험 파형 발생 회로(7)를 구비하고 있다. 시험 파형 발생 회로(7)는 연산 처리부(2)로부터의 출력(디지털 신호)을 아날로그 신호로 변환하는 D/A 컨버터(71) 및 증폭기(72)를 가지고 구성되어 있다. The protective relay device 1 is a measurement circuit 6 having an input circuit 5 to which an analog electric quantity from the power system is input, and an A/D converter 61 for converting the analog electric quantity from the input circuit 5 into a digital signal. ), an arithmetic processing unit (CPU) 2 that executes predetermined arithmetic processing using a digital signal from the measurement circuit 6, and a signal for operating the circuit breaker 13 based on the determination result of the arithmetic processing unit 2 Display items are set by input from the output circuit 9 to generate and the operation switch unit 10 constituting the operation unit, and the display unit 11 displays the output from the arithmetic processing unit 2 according to the set display items. ) and a test waveform generating circuit 7 for generating a test signal input to the measurement circuit 6 by the processing signal from the arithmetic processing unit 2 . The test waveform generating circuit 7 has a D/A converter 71 and an amplifier 72 for converting the output (digital signal) from the arithmetic processing unit 2 into an analog signal.

또한, 보호 계전 장치(1)는 연산 처리부(2)에서의 연산 처리에 필요한 정보를 기억하고 있는 불휘발성 메모리(3), 보호 계전 장치(1)의 동작에 필요한 전원(4), 외부에 마련된 제어기(12)인 프로그래머블 로직 컨트롤러(PLC)와 오픈 필드 네트워크(N)를 통해서 연산 처리부(2)와 신호, 정보의 수수(授受)를 행하는 전송 인터페이스(전송 I/F)를 구성하는 전송 회로(8)를 가지고 있다. In addition, the protection relay device 1 includes a nonvolatile memory 3 storing information necessary for the calculation processing in the calculation processing unit 2 , a power supply 4 required for the operation of the protection relay device 1 , and externally provided. A transmission circuit constituting a transmission interface (transmission I/F) that exchanges signals and information with the arithmetic processing unit 2 via a programmable logic controller (PLC) serving as the controller 12 and an open field network N 8) has.

입력 회로(5)는 전력 계통으로부터 입력되는 아날로그 전기량을 후속 회로에 적합한 레벨로 변환하는 요소로서, 전력 계통의 전류를 검출하는 보조 변류기(보조 CT)를 가진 전류 계측 회로(51), 전력 계통의 전압을 검출하는 보조 변압기(보조 VT)를 가진 전압 계측 회로(52), 전력 계통의 영상(零相) 전류를 검출하는 보조 변류기(보조 CT)를 가진 영상 전류 계측 회로(53), 전력 계통의 영상 전압을 검출하는 보조 변압기(보조 VT)를 가진 영상 전압 계측 회로(54)를 가지고 있다. The input circuit 5 is an element that converts the amount of analog electricity input from the power system into a level suitable for the subsequent circuit, and includes a current measuring circuit 51 having an auxiliary current transformer (auxiliary CT) for detecting the current of the power system, A voltage measuring circuit 52 having an auxiliary transformer (auxiliary VT) for detecting voltage, a zero phase current measuring circuit 53 having an auxiliary current transformer (auxiliary CT) for detecting a negative phase current of the power system, It has a zero-phase voltage measuring circuit 54 with an auxiliary transformer (auxiliary VT) for detecting the zero-phase voltage.

계측 회로(6)는 입력 회로(5)로부터의 신호와 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 신호를 전환하여 A/D 컨버터(61)에 공급하는 멀티플렉서로 구성된 입력 전환기(62a, 62b, 62c, 62d)를 가지고 있고, 보호 계전 장치(1)를 통상적으로 사용하는 경우에는, 입력 회로(5)에 접속되고, 보호 계전 장치(1)의 특성 시험을 실시하는 경우에는, 시험 파형 발생 회로(7)에 접속된다. 또한, 입력 전환기(62a, 62b, 62c, 62d)와 A/D 컨버터(61)는 증폭기(63a, 63b, 63c, 63d)를 통해서 접속되어 있다. 또한, 계측 회로(6)에는, A/D 컨버터(61)의 기준 전원(기준 전원 IC라고도 함)을 가지고 있다. The measurement circuit 6 includes input converters 62a, 62b, 62c composed of a multiplexer that converts the signal from the input circuit 5 and the signal from the test waveform generator circuit 7 and supplies it to the A/D converter 61; 62d) and is connected to the input circuit 5 in the case of using the protective relay device 1 normally, and when performing a characteristic test of the protective relay device 1, the test waveform generating circuit 7 ) is connected to Moreover, the input switchers 62a, 62b, 62c, 62d and the A/D converter 61 are connected via amplifiers 63a, 63b, 63c, 63d. In addition, the measurement circuit 6 has a reference power supply (also referred to as a reference power supply IC) of the A/D converter 61 .

차단기(13)는 보호 계전 장치(1)가 접속되어 있는 전력 계통에 마련되어 있고, 출력 회로(9)로부터의 신호에 의해서 개로 동작하여, 전력 계통을 개방시킴으로써, 해당 전력 계통에 접속되어 있는 전기 설비를 전력 계통으로부터 분리시켜 보호한다. The circuit breaker 13 is provided in the electric power system to which the protection relay device 1 is connected, and operates to open by a signal from the output circuit 9, and opens the electric power system, thereby connecting to the electric equipment connected to the electric power system. isolate and protect from the power grid.

또한, 보호 계전 장치(1)는 신호 변환 유닛(14)을 통해서 전압 계측 장치(15), 시간 계측 장치(16)가 접속되어 있다. In addition, in the protective relay device 1 , a voltage measuring device 15 and a time measuring device 16 are connected via a signal conversion unit 14 .

신호 변환 유닛(14)은 증폭 회로(140)와 가변 저항(141), 및 절연 트랜스를 이용한 절연 회로(142a, 142b)를 가지고 있고, 시험 파형 발생 회로(7)의 출력이 증폭 회로(140), 가변 저항(141), 절연 회로(142a)를 통해서 공급되고, 또한, 연산 처리부(2)의 제어용 시간 신호에 대응한 펄스 신호가 절연 회로(142b)를 통해서 공급되도록 구성되어 있다. The signal conversion unit 14 has an amplifying circuit 140, a variable resistor 141, and insulating circuits 142a and 142b using an insulating transformer, and the output of the test waveform generating circuit 7 is output by the amplifying circuit 140. , is supplied through the variable resistor 141 and the insulating circuit 142a, and a pulse signal corresponding to the control time signal of the arithmetic processing unit 2 is supplied through the insulating circuit 142b.

보호 계전 장치(1)는 입력측에는 전원(4), 전류 계측 회로(51), 전압 계측 회로(52), 영상 전류 계측 회로(53), 영상 전압 계측 회로(54)를 전력 계통에 접속시키기 위한 입력 단자부를 가지고, 출력측에는 신호 변환 유닛(14), 제어기(12), 차단기(13)를 접속시키기 위한 출력 단자부를 가지고 있다. The protective relay device 1 has an input side for connecting a power supply 4, a current measuring circuit 51, a voltage measuring circuit 52, a zero-phase current measuring circuit 53, and a zero-phase voltage measuring circuit 54 to the power system. It has an input terminal part, and has an output terminal part for connecting the signal conversion unit 14, the controller 12, and the circuit breaker 13 on the output side.

신호 변환 유닛(14)은 입력측에는 테스트 파형, 펄스 신호를 입력하기 위한 입력용 단자가 되는 입력 단자부(T2), 및 출력측에는 테스트 파형, 펄스 신호를 출력하기 위한 출력용 단자가 되는 출력 단자부(T3)를 가지고 있다. The signal conversion unit 14 has an input terminal portion T2 serving as an input terminal for inputting a test waveform and pulse signal on the input side, and an output terminal portion T3 serving as an output terminal for outputting a test waveform and pulse signal on the output side. has a

시험 파형 발생 회로(7)로부터의 테스트 파형의 신호, 연산 처리부(2)로부터의 펄스 출력의 신호가 출력되는 각 출력 단자부(T1)와, 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)는, 각 전용 케이블(C1)에 의해서 접속되어 있다. Each output terminal part T1 from which the signal of the test waveform from the test waveform generating circuit 7 and the signal of the pulse output from the arithmetic processing part 2 are output, and the input terminal part T2 of the signal conversion unit 14, They are connected by each dedicated cable C1.

전압 계측 장치(15) 및 시간 계측 장치(16)는, 신호 변환 유닛(14)의 출력 단자부(T3)에 각각 접속되어 있고, 전압 계측 장치(15)는 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 테스트 파형의 신호를 측정하고, 또한, 시간 계측 장치(16)는 연산 처리부(2)로부터의 펄스 출력의 신호를 측정한다. The voltage measuring device 15 and the time measuring device 16 are respectively connected to the output terminal portion T3 of the signal conversion unit 14 , and the voltage measuring device 15 is tested from the test waveform generating circuit 7 . The waveform signal is measured, and the time measuring device 16 measures the signal of the pulse output from the arithmetic processing unit 2 .

도 2는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 정면 개략 구성을 나타내는 외관도이다. It is an external view which shows the front schematic structure of the protective relay in the characteristic test system of the protective relay which concerns on Embodiment 1. FIG.

도 2에 나타내는 바와 같이, 보호 계전 장치(1)의 정면 부분에는, 조작 스위치부(10), 표시부(11), 출력 단자부(T1)를 가지고 있다. 조작 스위치부(10)에는, 표시 모드를 전환하는 조작 스위치(10A, 10B) 및 표시 양태를 전환하는 조작 스위치(10C, 10D)를 가지고 있다. As shown in FIG. 2, the front part of the protective relay device 1 has the operation switch part 10, the display part 11, and the output terminal part T1. The operation switch unit 10 includes operation switches 10A and 10B for switching the display mode and operation switches 10C and 10D for switching the display mode.

도 3은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 신호 변환 유닛의 정면 개략 구성을 나타내는 외관도이다. It is an external view which shows the front schematic structure of the signal conversion unit in the characteristic test system of the protective relay device which concerns on Embodiment 1. FIG.

도 3에 나타내는 바와 같이, 신호 변환 유닛(14)의 정면 부분에는, 보호 계전 장치(1)에 접속되는 입력 단자부(T2), 전압 계측 장치(15) 및 시간 계측 장치(16)가 접속되는 출력 단자부(T3), 신호 변환 유닛(14)을 교정하기 위한 기준이 되는 교정용 기기가 접속되는 입력 단자부(T4), 신호 변환 유닛(14)의 전원이 접속되는 전원 단자부(T5)를 가지고 있다. As shown in FIG. 3 , in the front portion of the signal conversion unit 14 , the input terminal portion T2 connected to the protection relay device 1 , the voltage measuring device 15 , and the time measuring device 16 are connected to the output It has a terminal portion T3, an input terminal portion T4 to which a calibration instrument serving as a reference for calibrating the signal conversion unit 14 is connected, and a power supply terminal portion T5 to which the power source of the signal conversion unit 14 is connected.

또한, 신호 변환 유닛(14)의 정면부에 나사에 의해 장착된 패널에는, 입력 단자부(T2), 출력 단자부(T3), 입력 단자부(T4), 전원 단자부(T5)의 각 단자부 근방에 해당 단자부에 접속되는 접속 대상이 표기되어 있다. Further, on the panel mounted with screws on the front part of the signal conversion unit 14, the corresponding terminal part is located in the vicinity of each terminal part of the input terminal part T2, the output terminal part T3, the input terminal part T4, and the power supply terminal part T5. The target to be connected to is marked.

도 4는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 신호 변환 유닛과 계측 장치의 접속 구성을 나타내는 도면이다. It is a figure which shows the connection structure of the signal conversion unit in the characteristic test system of the protective relay device which concerns on Embodiment 1, and a measuring device.

도 4에 나타내는 바와 같이, 신호 변환 유닛(14)의 출력 단자부(T3)에는, 전압 계측 장치(15)와 시간 계측 장치(16)가 접속되어 있다. 또한, 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 전용 케이블(C1)에 의해서, 보호 계전 장치(1)의 출력 단자부(T1)에 접속된다. As shown in FIG. 4 , the voltage measuring device 15 and the time measuring device 16 are connected to the output terminal portion T3 of the signal conversion unit 14 . In addition, as shown in FIG. 1, the input terminal part T2 of the signal conversion unit 14 is connected to the output terminal part T1 of the protection relay device 1 by the dedicated cable C1.

또한, 도 4에서는, 도 1에 있어서의 전류 계측 회로(51)로부터의 출력에 상당하는 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 신호 출력을 계측하는 것으로서 전압 계측 장치(15), 및 도 1에 나타내는 연산 처리부(2)로부터의 펄스 출력의 신호를 계측하는 것으로서 시간 계측 장치(16)가 출력 단자부(T3)에 접속된 양태를 나타내고 있다. 출력 단자부(T3)에는, 계측하고 싶은 출력에 적합한 계측 장치가 접속된다. 예를 들면, 도 4에 있어서는, 도 1에 있어서의 전류 계측 회로(51)가 입력 전류를 변류하여 전압 출력하는 것인 경우, 이것에 대응하는 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 신호 출력에 대해서는 전압 계측 장치(15)로 전압을 계측하는 양태를 나타내고 있다. 후술 하는 도 6에 대해서도 마찬가지이다. In addition, in FIG. 4, the voltage measuring device 15 as measuring the signal output from the test waveform generating circuit 7 corresponding to the output from the current measuring circuit 51 in FIG. 1, and shown in FIG. The mode in which the time measuring device 16 was connected to the output terminal part T3 as measuring the signal of the pulse output from the arithmetic processing part 2 is shown. A measurement device suitable for an output to be measured is connected to the output terminal portion T3 . For example, in Fig. 4, in the case where the current measuring circuit 51 in Fig. 1 converts the input current and outputs a voltage, the corresponding signal output from the test waveform generating circuit 7 is The mode of measuring a voltage with the voltage measuring device 15 is shown. The same applies to FIG. 6 to be described later.

전압 계측 장치(15) 혹은 시간 계측 장치(16)에 의해서, 시험 파형 발생 회로(7) 혹은 연산 처리부(2)로부터의 출력이 특성 시험에 필요한 규정값으로 되어 있는지 여부를 확인할 수 있다. With the voltage measuring device 15 or the time measuring device 16, it can be confirmed whether the output from the test waveform generating circuit 7 or the arithmetic processing unit 2 has a specified value required for the characteristic test.

또한, 입력 단자부(T4)에 교정용 기기, 예를 들면, 교류 전압 발생기를 접속시키고, 출력 단자부(T3)에 접속된 계측 장치에 의해서 신호 변환 유닛(14)의 정밀도를 확인할 수 있다. 이와 같이 하여 신호 변환 유닛(14)의 정밀도를 확인한 결과, 신호 변환 유닛(14)의 정밀도가 규정 범위 밖이면, 신호 변환 유닛(14)에 내장되어 있는 도 1에 나타내는 가변 저항(141)을 조정함으로써, 신호 변환 유닛(14)을 적정한 상태로 할 수 있다. 또한, 가변 저항(141)의 조정 작업은, 예를 들면, 신호 변환 유닛(14)의 본체에 나사 고정되어 있는 패널을 떼어내어 행할 수 있다. In addition, a calibration instrument, for example, an AC voltage generator, is connected to the input terminal portion T4 , and the accuracy of the signal conversion unit 14 can be confirmed by a measurement device connected to the output terminal portion T3 . As a result of checking the accuracy of the signal conversion unit 14 in this way, if the accuracy of the signal conversion unit 14 is outside the prescribed range, the variable resistor 141 shown in Fig. 1 incorporated in the signal conversion unit 14 is adjusted. By doing so, the signal conversion unit 14 can be brought into an appropriate state. In addition, the adjustment operation of the variable resistor 141 can be performed by removing the panel screwed to the main body of the signal conversion unit 14, for example.

도 5는 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 표시부의 표시 양태의 일례를 나타내는 도면이다. 보호 계전 장치(1)의 조작 스위치부(10)에 가지는 조작 스위치(10A, 10B, 10C, 10D)를 조작함으로써, 표시부(11)에 표시되는 화면이 선택되는 일례를 나타내고 있고, 테스트 신호 파형 조정, 연산 처리부 계측 시간의 펄스 신호의 확인이 가능한 모드로 이행한다. 조정 요소(전류, 전압), 시간 계측에 대해서는, 조작 스위치부(10)의 조작 스위치로 전환한다. 조정 요소는 (a) 전류 파형 조정(오프셋), (b) 전류 파형 조정(게인), (c) 전압 파형 조정(오프셋), (d) 전압 파형 조정(게인), (e) 연산 처리부 계측 시간 출력으로서, 표시부(11)에는, 전류 파형 조정 화면(오프셋), 전류 파형 조정 화면(게인), 전압 파형 조정 화면(오프셋), 전압 파형 조정 화면(게인), 시간 확인 화면을 화살표 방향으로 선택적으로 표시할 수 있다. It is a figure which shows an example of the display mode of the display part of the protection relay device in the characteristic test system of the protection relay device which concerns on Embodiment 1. FIG. An example in which the screen displayed on the display unit 11 is selected by operating the operation switches 10A, 10B, 10C, and 10D included in the operation switch unit 10 of the protective relay device 1 is shown, and the test signal waveform is adjusted , The operation processing unit shifts to the mode in which the pulse signal of the measurement time can be checked. It is switched with the operation switch of the operation switch part 10 about adjustment element (current, voltage) and time measurement. The adjustment elements are (a) current waveform adjustment (offset), (b) current waveform adjustment (gain), (c) voltage waveform adjustment (offset), (d) voltage waveform adjustment (gain), (e) calculation processing unit measurement time As an output, the display unit 11 selectively displays a current waveform adjustment screen (offset), a current waveform adjustment screen (gain), a voltage waveform adjustment screen (offset), a voltage waveform adjustment screen (gain), and a time confirmation screen in the direction of the arrow. can be displayed

도 6은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치와 신호 변환 유닛의 접속 구성과 그 사용예를 나타내는 도면이다. 도 6에 나타내는 바와 같이, 보호 계전 장치(1)와 신호 변환 유닛(14)은, 전용 케이블(C1)에 의해서, 보호 계전 장치(1)의 출력 단자부(T1)와 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)가 접속되어 있다. 또한, 신호 변환 유닛(14)의 출력 단자부(T3)에는, 전압 계측 장치(15)와 시간 계측 장치(16)가 접속되어 있다. 또한, 도 6에 있어서는, 보호 계전 장치(1)의 출력 단자부(T1)와 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)를 접속시키는 전용 케이블(C1)에 흐르는 신호의 표시 양태를 예시하고 있고, 오프셋(출력 파형의 중심 전압)의 조정 (A), 게인(출력 파형의 진폭)의 조정 (B), 연산 처리부 계측 시간(펄스 출력)의 확인 (C)의 예를 나타내고 있다. 이들 신호는, 예를 들면, 출력 단자부(T3)에 접속된 오실로스코프에 표시함으로써 확인 가능하다. It is a figure which shows the connection structure of the protection relay device in the characteristic test system of the protection relay device which concerns on Embodiment 1, and a signal conversion unit, and its use example. As shown in FIG. 6 , the protection relay device 1 and the signal conversion unit 14 are connected to the output terminal portion T1 of the protection relay device 1 and the signal conversion unit 14 by a dedicated cable C1. An input terminal portion T2 is connected. Further, the voltage measuring device 15 and the time measuring device 16 are connected to the output terminal portion T3 of the signal conversion unit 14 . In addition, in Fig. 6, the display mode of the signal flowing through the dedicated cable C1 connecting the output terminal portion T1 of the protective relay device 1 and the input terminal portion T2 of the signal conversion unit 14 is exemplified. , the example of the adjustment (A) of the offset (center voltage of the output waveform), the adjustment of the gain (the amplitude of the output waveform) (B), and the confirmation (C) of the arithmetic processing unit measurement time (pulse output) are shown. These signals can be confirmed by displaying, for example, on an oscilloscope connected to the output terminal portion T3.

도 5에 있어서 설명한 조정 요소 (a)~(e)를 결정 후, 테스트 파형의 조정 화면으로 이행한다. 조정 화면에서는, 조작 스위치로 조정값을 증감시킴으로써, 출력 파형의 오프셋, 파형의 진폭에 반영한다. 연산 처리부 계측 시간 확인의 조정 화면은 없지만, 도 5의 시간 확인 화면에서의 조작 스위치 조작으로 펄스 출력한다. After determining the adjustment elements (a) to (e) described in Fig. 5, the screen shifts to the adjustment screen of the test waveform. On the adjustment screen, by increasing or decreasing the adjustment value with the operation switch, the offset of the output waveform and the amplitude of the waveform are reflected. Although there is no adjustment screen for checking the measurement time of the arithmetic processing unit, a pulse is output by operation of an operation switch on the time check screen of FIG. 5 .

도 7은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서의 보호 계전 장치의 표시부의 조정 화면예(전류)의 일례를 나타내는 도면이다. 표시부(11)에는, 파형 조정 요소(7a), 조정값(7b)이 표시되어 있다. 도 5에 있어서의 조정 요소 선택 화면에서, 테스트 파형의 조정 요소를 선택하고, 선택 후, 이 도 7의 조정 화면으로 이행한다. 조정값은 조작 스위치에 의해 증감시킨다. 조정값은 도 6에 나타내는 바와 같이 테스트 파형의 출력에 반영한다. It is a figure which shows an example of the adjustment screen example (current) of the display part of the protection relay device in the characteristic test system of the protection relay device which concerns on Embodiment 1. FIG. A waveform adjustment element 7a and an adjustment value 7b are displayed on the display unit 11 . On the adjustment element selection screen in FIG. 5, an adjustment element of the test waveform is selected, and after selection, the adjustment screen of FIG. 7 is shifted. The adjustment value is increased or decreased by the operation switch. The adjustment value is reflected in the output of the test waveform as shown in FIG.

도 8은 실시 형태 1에 따른 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템의 동작 플로차트를 나타내는 도면이다. It is a figure which shows the operation|movement flowchart of the characteristic test system of the protective relay device which concerns on Embodiment 1. FIG.

먼저, 조정전 준비로서, 보호 계전 장치(1)의 출력 단자부(T1)와 신호 변환 유닛(14)의 입력 단자부(T2)를 전용 케이블(C1)로 접속시켜 보호 계전 장치(1)에 신호 변환 유닛(14)을 접속시키고, 또한 신호 변환 유닛(14)의 출력 단자부(T3)에 전압 계측 장치(15) 및 시간 계측 장치(16) 등의 계측 장치를 접속시킨다(스텝 S11). 신호 변환 유닛(14)에 접속된 시간 계측 장치(16)에 의해서 연산 처리부(2)의 펄스 출력의 시간 확인을 행하여, 연산 처리부(2)의 계측 시간을 확인하고(스텝 S12)(도 6 참조), 확인 결과가 규정값 범위 내이면(스텝 S13에서 Yes), 스텝 S14로 진행하고, 확인 결과가 규정값 범위 내가 아니면(스텝 S13에서 No), 스텝 S15로 진행하여, 보호 계전 장치(1)가 고장이라고 판단하여 장치의 교환을 행하여 작업을 종료한다. First, as preparation before adjustment, the output terminal part T1 of the protective relay device 1 and the input terminal part T2 of the signal conversion unit 14 are connected with a dedicated cable C1 to convert the signal to the protective relay device 1 The unit 14 is connected, and also measuring devices such as the voltage measuring device 15 and the time measuring device 16 are connected to the output terminal portion T3 of the signal conversion unit 14 (step S11). Time confirmation of the pulse output of the arithmetic processing unit 2 is performed by the time measuring device 16 connected to the signal conversion unit 14 to confirm the measurement time of the arithmetic processing unit 2 (step S12) (refer to Fig. 6 ) ), if the confirmation result is within the specified value range (Yes in step S13), proceed to step S14, and if the confirmation result is not within the specified value range (No in step S13), proceed to step S15, protective relay device 1 is determined to be faulty, and the device is exchanged to end the work.

스텝 S14에서는, 테스트 파형의 출력 요소를 선택하고(도 5 참조), 출력 요소가 전류 요소인 경우에는 전류 테스트 파형을 출력하고(스텝 S16), 출력 요소가 전압 요소인 경우에는 전압 테스트 파형을 출력하며(스텝 S17), 출력 요소가 영상 전류 요소인 경우에는 영상 전류 테스트 파형을 출력하고(스텝 S18), 출력 요소가 영상 전압 요소인 경우에는 영상 전압 테스트 파형을 출력한다(스텝 S19). In step S14, an output element of the test waveform is selected (see Fig. 5), a current test waveform is output when the output element is a current element (step S16), and a voltage test waveform is output when the output element is a voltage element and (step S17), when the output element is a zero-phase current element, a zero-phase current test waveform is output (Step S18), and when the output element is a zero-phase voltage element, a zero-phase voltage test waveform is output (Step S19).

스텝 S20에서는, 스텝 S16~스텝 S19에 있어서 출력된 파형의 진폭 및 오프셋값이, 규정값 범위 내이면(Yes), 스텝 S21로 진행하고, 규정값 범위 내가 아니면(No), 스텝 S22로 진행하여, 출력 파형의 진폭 조정을 행하고(도 6 참조), 스텝 S20으로 되돌아간다. In step S20, if the amplitude and offset values of the waveforms output in steps S16 to S19 are within the specified value range (Yes), the process proceeds to step S21, and if not within the specified value range (No), the process proceeds to step S22 , the amplitude of the output waveform is adjusted (see Fig. 6), and the flow returns to step S20.

스텝 S21에 있어서, 모든 파형의 조정이 완료되어 있는지 여부를 판단하여, 완료되어 있으면(Yes), 스텝 S23으로 진행하여, 특성 시험을 개시하고, 완료되어 있지 않으면(No), 스텝 S14로 되돌아간다. In step S21, it is judged whether or not all of the waveform adjustments have been completed. If it is completed (Yes), the process proceeds to step S23, and the characteristic test is started. If not completed (No), the flow returns to step S14. .

실시 형태에 있어서의 기본적 구성은, 신호 변환 유닛(14)을 개재하는 일 없이, 보호 계전 장치(1)에 마련된 시험 파형 발생 회로(7)로부터의 테스트 신호를 계측하는 계측 장치를 구비함으로써 구성될 수 있고, 이 구성에 의하면, 계측 장치인 전압 계측 장치(15)에 의해서 테스트 신호의 테스트 파형을 계측함으로써, 테스트 신호의 건전성을 확인하는 것이 가능하게 된다. The basic configuration in the embodiment can be configured by providing a measuring device that measures a test signal from the test waveform generating circuit 7 provided in the protective relay device 1 without interposing the signal conversion unit 14 . In this configuration, it is possible to check the integrity of the test signal by measuring the test waveform of the test signal by the voltage measuring device 15 which is a measuring device.

또한, 이 실시 형태 1에 있어서는, 또한, 이하에 나타내는 3개의 기능을 가지고 있다. Moreover, in this Embodiment 1, it also has three functions shown below.

(1) 신호 변환 유닛(14)을 통해서, 시험 파형 발생 회로(7)로 생성한 테스트 신호의 건전성을 확인할 수 있는 시스템으로 함으로써, 시험기로부터의 출력을 모의한 테스트 신호인 것을 확인할 수 있는 기능을 가진다. 신호 변환 유닛은 교정이 가능하고, 교정이 취해진 신호 변환 유닛으로 테스트 신호의 확인을 행한다. (1) Through the signal conversion unit 14, a system capable of confirming the integrity of the test signal generated by the test waveform generating circuit 7, thereby providing a function of confirming that the test signal is a simulated test signal output from the tester have The signal conversion unit is capable of calibration, and checks the test signal with the signal conversion unit to which the calibration has been taken.

(2) 연산 처리부(2)가 계측하는 시간을 외부에 펄스 신호로서 출력하는 기능을 탑재한다. 이 펄스 신호를 교정된 시간 계측 장치(16)로 측정한다. 이것에 의해, 연산 처리부(2)가 계측하고 있는 시간이 올바르다고 확인할 수 있다. (2) A function of outputting the time measured by the arithmetic processing unit 2 as a pulse signal to the outside is mounted. This pulse signal is measured by a calibrated time measuring device 16 . Thereby, it can be confirmed that the time measured by the arithmetic processing part 2 is correct.

(3) 생성한 테스트 신호를 확인하고, 규정값을 벗어난 경우를 상정하여, 테스트 신호의 출력을 조정할 수 있는 기능을 탑재한다. 부품 열화 등으로, 생성하는 테스트 신호가 규정값을 벗어난 경우에는, 출력 파형의 오프셋, 진폭(게인)을 조정할 수 있는 기능을 탑재한다. 여기서 파형 조정한 조정값에 관해서는, 테스트 신호에 반영한다. (3) A function to check the generated test signal and adjust the output of the test signal assuming that it is out of the specified value is installed. A function that can adjust the offset and amplitude (gain) of the output waveform when the generated test signal deviates from the specified values due to component deterioration or the like. Here, the waveform-adjusted adjustment value is reflected in the test signal.

상기 (1), (2)에 의해, 시험 파형 발생 회로(7)로 생성한 테스트 신호의 건전성의 확인과 연산 처리부(2)가 계측하는 시간의 건전성의 확인을 가능하게 함으로써 특성 시험 시스템에 의한 시험의 신뢰성 향상 및 특성 시험 결과의 트레이서빌리티(traceability)를 확보한다. According to the above (1) and (2), it is possible to confirm the soundness of the test signal generated by the test waveform generating circuit 7 and the soundness of the time measured by the arithmetic processing unit 2, so that the characteristic test system The reliability of the test is improved and the traceability of the characteristic test result is secured.

또한, 상기 (3)의 기능을 탑재함으로써, 항상 건전한 테스트 신호를 입력하여, 특성 시험이 가능하게 되는 시스템을 실현한다. In addition, by incorporating the function (3) above, a system in which a characteristic test is possible by always inputting a sound test signal is realized.

신호 변환 유닛(14)은 입력 파형의 증폭 회로(140)와 절연 회로(142a, 142b) 및 가변 저항(141)으로 구성되어 있고, 각각의 목적은 하기 (1), (2)와 같다. The signal conversion unit 14 is composed of an input waveform amplifier circuit 140, insulating circuits 142a, 142b, and a variable resistor 141, and the purpose of each is as follows (1) and (2).

(1) 신호 변환 유닛 내에 증폭 회로(140)와 가변 저항(141)을 배치함으로써 출력 파형의 조정을 한다. 통상의 증폭율은 ×1배의 저항값으로 되어 있지만, 가변 저항(141)을 변동시킴으로써, 증폭율을 변경할 수 있어, 출력 파형의 조정이 가능하게 된다. 따라서, 절연 회로(142a, 142b)를 구성하는 절연 트랜스의 문제(예를 들어, 열화)에 의해, 입력 파형과 출력 파형의 차이가 발생되었을 경우에 출력 파형의 조정을 행한다. 신호 변환 유닛(14)의 오프셋분의 차이에 관해서는, 조정 불가이기 때문에, 신호 변환 유닛 자체의 교환이 필요하게 된다. (1) The output waveform is adjusted by arranging the amplifier circuit 140 and the variable resistor 141 in the signal conversion unit. The normal amplification factor is a resistance value of x 1, but by varying the variable resistor 141, the amplification factor can be changed, and the output waveform can be adjusted. Therefore, when the difference between an input waveform and an output waveform arises due to the problem (for example, deterioration) of the insulation transformer which comprises the insulation circuits 142a, 142b, an output waveform is adjusted. Regarding the difference in the offset of the signal conversion unit 14, since adjustment is not possible, the signal conversion unit itself needs to be replaced.

(2) 절연 회로(142a, 142b)의 절연 트랜스에 의해, 보호 계전 장치(1)의 내부 회로의 보호를 행한다. 보호 계전 장치(1)의 내부 회로와 계측 장치인 전압 계측 장치(15), 시간 계측 장치(16)를 절연하지 않고 직접 접속하려고 했을 경우, 사람의 손가락이 접촉됨으로써 예를 들면 정전기의 노이즈가 진입할 가능성이 있다. 신호 변환 유닛(14)과 보호 계전 장치(1)를 커넥터 접속하고, 접속시에는 사람의 손가락이 접촉되지 않는 구조(접속구가 작음)로 한다. 신호 변환 유닛(14)을 접속하고, 보호 계전 장치(1)와 절연된 상태를 만든 다음, 계측 장치인 전압 계측 장치(15), 시간 계측 장치(16)를 접속하여, 출력 파형을 확인한다. (2) The internal circuit of the protective relay device 1 is protected by the insulating transformer of the insulating circuits 142a and 142b. When an attempt is made to directly connect the internal circuit of the protective relay device 1 and the voltage measuring device 15 and the time measuring device 16, which are the measuring devices, without insulating them, for example, static electricity noise enters due to contact with a human finger. there is a possibility to do The signal conversion unit 14 and the protective relay device 1 are connected by a connector, and a structure (a small connection port) is made in which a human finger does not come into contact at the time of connection. After connecting the signal conversion unit 14 and making the state insulated from the protective relay device 1, the voltage measuring device 15 and the time measuring device 16 which are measuring devices are connected, and the output waveform is checked.

테스트 파형을 계측 장치인 전압 계측 장치(15)로 계측하는 것뿐이라면, 신호 변환 유닛(14)은 불필요하다. If the test waveform is only measured by the voltage measuring device 15 which is a measuring device, the signal conversion unit 14 is unnecessary.

보호 계전 장치(1)의 내부에 절연 트랜스를 배치하거나, 절연 트랜스만의 신호 변환 유닛으로도 문제없이 계측 가능하다. It is possible to measure without any problem by arranging an insulation transformer inside the protection relay device 1 or even with a signal conversion unit only for an insulation transformer.

그러나, 이 구조로 했을 경우, 이하의 (1), (2)의 문제를 고려할 필요가 있다. However, when it is set as this structure, it is necessary to consider the following problems (1) and (2).

(1) 보호 계전 장치(1)의 내부에 절연 트랜스를 배치하는 경우(1) When an insulation transformer is placed inside the protective relay device (1)

테스트 파형을 계측 장치로 측정했을 경우에, 정상값 범위로부터 벗어난 경우, 보호 계전 장치(1)가 생성하는 테스트 신호에 문제가 있어서 정상값으로부터 벗어났는지, 절연 트랜스의 문제(예를 들면, 열화)로 벗어났는지를 판단할 수 없다. When the test waveform is measured with a measuring device, if it deviates from the normal value range, whether the test signal generated by the protective relay device 1 has a problem and deviates from the normal value, or a problem with the insulation transformer (eg, deterioration) It is not possible to determine whether or not

(2) 절연 트랜스만의 신호 변환 유닛인 경우(2) In the case of a signal conversion unit only for isolation transformers

신호 변환 유닛(14)의 입출력의 확인으로 신호 변환 유닛 자체의 건전성은 확인할 수 있지만, 신호 변환 유닛 자체의 출력값 조정을 할 수 없기 때문에, 건전성 확인으로 문제가 있는 경우, 신호 변환 유닛의 교환이 필요하게 된다. The soundness of the signal conversion unit itself can be confirmed by checking the input/output of the signal conversion unit 14, but since the output value adjustment of the signal conversion unit itself cannot be adjusted, if there is a problem with the health check, the signal conversion unit needs to be replaced will do

실시 형태 1과 같이 신호 변환 유닛을 마련함으로써, 이들 문제점을 해소할 수 있다. By providing the signal conversion unit as in the first embodiment, these problems can be solved.

본원은 예시적인 실시 형태가 기재되어 있지만, 실시 형태에 기재된 다양한 특징, 양태, 및 기능은 특정 실시 형태의 적용으로 한정되는 것은 아니며, 단독으로, 또는 다양한 조합으로 실시 형태에 적용 가능하다. Although exemplary embodiments are described herein, the various features, aspects, and functions described in the embodiments are not limited to application of the specific embodiments, but are applicable to the embodiments alone or in various combinations.

따라서, 예시되어 있지 않은 무수한 변형예가, 본원 명세서에 개시되는 기술 범위 내에 있어서 상정된다. 예를 들면, 적어도 하나의 구성요소를 변형하는 경우, 추가하는 경우 또는 생략하는 경우가 포함되는 것으로 한다. Accordingly, numerous modifications not illustrated are contemplated within the technical scope disclosed in the present specification. For example, a case in which at least one component is deformed, a case of addition or a case of omission is included.

1 : 보호 계전 장치 2 : 연산 처리부
5 : 입력 회로 6 : 계측 회로
7 : 시험 파형 발생 회로 9 : 출력 회로
10 : 조작 스위치부 11 : 표시부
14 : 신호 변환 유닛 15 : 전압 계측 장치
16 : 시간 계측 장치1: protective relay device 2: arithmetic processing unit
5: input circuit 6: measurement circuit
7: test waveform generation circuit 9: output circuit
10: operation switch unit 11: display unit
14: signal conversion unit 15: voltage measuring device
16: time measuring device

Claims (4)

전력 계통으로부터의 아날로그 전기량이 입력되는 입력 회로와, 상기 입력 회로로부터의 아날로그 전기량을 디지털 신호로 변환하는 A/D 컨버터를 가진 계측 회로와, 상기 계측 회로로부터의 디지털 신호를 이용하여 연산 처리를 실행하는 연산 처리부와, 상기 연산 처리부의 판정 결과에 기초하여, 상기 전력 계통에 마련된 차단기를 동작시키는 신호를 생성하는 출력 회로와, 조작 스위치부로부터의 입력에 의해 표시 항목의 설정이 이루어지고, 상기 설정된 표시 항목에 따라 상기 연산 처리부로부터의 출력을 표시하는 표시부를 가지는 보호 계전 장치에 마련되고, 상기 연산 처리부로부터의 처리 신호에 의해서 상기 계측 회로에 입력되는 테스트 신호를 생성하는 시험 파형 발생 회로를 가진 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템에 있어서,
상기 시험 파형 발생 회로로 생성된 테스트 신호를 계측하는 계측 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템. A measurement circuit having an input circuit to which an analog electric quantity from the power system is input, an A/D converter for converting an analog electric quantity from the input circuit into a digital signal, and a digital signal from the measuring circuit to execute arithmetic processing an arithmetic processing unit to perform an operation, an output circuit for generating a signal for operating a circuit breaker provided in the power system based on a determination result of the arithmetic processing unit, and an input from an operation switch unit to set a display item, Protection having a test waveform generating circuit that is provided in a protection relay device having a display unit that displays an output from the arithmetic processing unit according to a display item, and generates a test signal input to the measurement circuit by a processing signal from the arithmetic processing unit In the characteristic test system of the relay device,
and a measuring device for measuring the test signal generated by the test waveform generating circuit. 청구항 1에 있어서,
상기 계측 장치는 전압 계측 장치인 것을 특징으로 하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템. The method according to claim 1,
The measuring device is a voltage measuring device, characterized in that the protection relay device characteristic test system. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 계측 장치의 입력측에 마련되고, 상기 시험 파형 발생 회로로부터의 테스트 신호의 교정을 행하는 신호 변환 유닛을 구비한 것을 특징으로 하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템. The method according to claim 1 or 2,
and a signal conversion unit provided on the input side of the measuring device for correcting the test signal from the test waveform generating circuit. 청구항 3에 있어서,
상기 연산 처리부에 이용되는 시간 신호를 계측하는 시간 계측 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템. 4. The method of claim 3,
and a time measuring device for measuring the time signal used in the arithmetic processing unit.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109765447B (en) * 2019-01-29 2021-12-21 国网冀北电力有限公司唐山供电公司 Automatic testing method for relay protection of intelligent substation
CN110687375B (en) * 2019-10-11 2021-08-20 南京能云电力科技有限公司 Parallel automatic test system and method for relay protection device
CN113075910A (en) * 2021-02-25 2021-07-06 南京南瑞继保电气有限公司 Intelligent testing system and method for complete machine retest of relay protection device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100824515B1 (en) 2006-12-27 2008-04-22 주식회사 효성 Apparatus and method for computing digital electricpower system
JP2012228126A (en) 2011-04-22 2012-11-15 Hitachi Ltd Digital type protective relay device
KR101207619B1 (en) * 2011-09-01 2012-12-03 피앤씨테크 주식회사 Protective relay with simulated fault waveform generator
WO2013175846A1 (en) 2012-05-21 2013-11-28 三菱電機株式会社 Performance test system for protective relay apparatus
JP2014055800A (en) 2012-09-11 2014-03-27 Mitsubishi Electric Corp Merging unit
JP2015219740A (en) 2014-05-19 2015-12-07 ハッチ株式会社 Information processor, information processing method and program

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH069426B2 (en) * 1986-08-25 1994-02-02 三菱電機株式会社 Inspection device for protective relay
JPS63198885A (en) * 1987-02-14 1988-08-17 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Tester for voltage detecting relay
JPH02136020A (en) * 1988-11-17 1990-05-24 Toshiba Corp Protective relay
JP2892667B2 (en) * 1989-01-11 1999-05-17 株式会社日立製作所 Simulated transmission line test equipment
JPH03215114A (en) * 1990-01-19 1991-09-20 Toshiba Corp Protective relay device with inspection function
JP3281210B2 (en) * 1994-02-07 2002-05-13 株式会社東芝 Test equipment for protective relay system
JP3329607B2 (en) * 1994-12-22 2002-09-30 株式会社東芝 Power system protection relay device
CN1126840A (en) * 1995-01-10 1996-07-17 李瑞鸿 Testing method and equipment of contact drop
JP3310522B2 (en) * 1996-01-16 2002-08-05 株式会社日立エンジニアリングサービス On-site support tool for automatic testing of static and dynamic characteristics of AVR
US6247003B1 (en) * 1998-08-13 2001-06-12 Mcgraw-Edison Company Current transformer saturation correction using artificial neural networks
US7843197B2 (en) * 2004-06-15 2010-11-30 Pass & Seymour, Inc. Protective device with end-of-life indication before power denial
DE10210920B4 (en) * 2002-03-13 2005-02-03 Moeller Gmbh Circuit breaker with electronic release
CN200990499Y (en) * 2006-10-26 2007-12-12 天津理工大学 DSP relay protection controller based on ripple theory
CN100543488C (en) * 2006-12-29 2009-09-23 沈阳工业大学 Synthesis test synchronous control system
JP5322784B2 (en) 2009-06-08 2013-10-23 三菱電機株式会社 Protection relay device characteristic test system
CN202217998U (en) * 2009-09-03 2012-05-09 帕西·西姆公司 Protective device of cantilever breaker mechanism possessing interlayer
CN201589855U (en) * 2009-12-15 2010-09-22 江西省电力科学研究院 Detection device of relay protection testing device
CN104898050B (en) * 2015-06-16 2018-06-08 上海电器科学研究所（集团）有限公司 A kind of multi-output power supply for Aftercurrent protection circuit breaker test device
KR101649704B1 (en) * 2015-07-28 2016-08-19 엘에스산전 주식회사 Power failure monitoring apparatus for digital protecting relay
SE1650931A1 (en) * 2016-06-29 2017-12-30 Megger Sweden Ab System for analyzing high voltage circuit breakers

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100824515B1 (en) 2006-12-27 2008-04-22 주식회사 효성 Apparatus and method for computing digital electricpower system
JP2012228126A (en) 2011-04-22 2012-11-15 Hitachi Ltd Digital type protective relay device
KR101207619B1 (en) * 2011-09-01 2012-12-03 피앤씨테크 주식회사 Protective relay with simulated fault waveform generator
WO2013175846A1 (en) 2012-05-21 2013-11-28 三菱電機株式会社 Performance test system for protective relay apparatus
JP2014055800A (en) 2012-09-11 2014-03-27 Mitsubishi Electric Corp Merging unit
JP2015219740A (en) 2014-05-19 2015-12-07 ハッチ株式会社 Information processor, information processing method and program

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