KR100742373B1 - Flat Panel Display and method of fabricating the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 평판 표시장치 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 콘택홀 형성시 정전기 방지 배선이 노출되도록 홀(hole)을 형성하고, 상기 홀을 이용하여 소오스/드레인 전극 패터닝 후 상기 정전기 방지 배선을 건식 식각함으로써, 표시장치에 발생된 정전기를 단순한 공정으로 효과적으로 제거할 수 있는 평판 표시장치 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a flat panel display device and a method of manufacturing the same. More particularly, a hole is formed to expose an antistatic wiring when forming a contact hole, and after the source / drain electrode patterning using the hole, the antistatic property is prevented. BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display device and a method of manufacturing the same that can effectively remove static electricity generated in a display device by dry etching the wiring.

평판 표시장치, 정전기 방지 배선, 건식 식각, SF6/O2, CF4/O2 Flat Panel Display, Anti-Static Wiring, Dry Etch, SF6 / O2, CF4 / O2

Description

평판 표시 장치 및 그의 제조 방법{Flat Panel Display and method of fabricating the same}Flat panel display and manufacturing method thereof {Flat Panel Display and method of fabricating the same}

도 1은 종래의 평판 표시장치로서, 유기 전계 발광 표시 장치의 TFT 기판을 개략적으로 나타내는 평면도이다. 1 is a plan view schematically illustrating a TFT substrate of an organic light emitting display device as a conventional flat panel display device.

도 2는 본 발명에 따른 평판 표시장치의 TFT 기판을 개략적으로 나타내는 평면도이다. 2 is a plan view schematically illustrating a TFT substrate of a flat panel display device according to the present invention.

도 3은 도 2의 각 게이트 라인 사이의 정전기 방지 배선을 확대한 도면이다. FIG. 3 is an enlarged view of the antistatic wiring between the gate lines of FIG. 2.

도 4a 내지 도 4e는 본 발명의 실시예에 따른 평판 표시장치를 설명하기 위한 공정 단면도이다. 4A to 4E are cross-sectional views illustrating a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

110, 210, 310. 게이트 라인 120, 220. 데이터 라인110, 210, 310. Gate lines 120, 220. Data lines

130, 230, 320, 445. 정전기 방지 배선 240. 정전기 방지 회로130, 230, 320, 445. Antistatic wiring 240. Antistatic circuit

330, 457. 홀 400. 절연 기판330, 457. Hole 400. Insulated substrate

410. 버퍼층 420. 반도체층410. Buffer layer 420. Semiconductor layer

421. 소오스 영역 423. 채널 영역421. Source region 423. Channel region

425. 드레인 영역 430.게이트 절연막425 Drain region 430 Gate insulating film

441. 게이트 전극 451, 455. 콘택홀441. Gate electrodes 451, 455. Contact holes

460. 도전 물질막 461. 소오스 전극460. Film of conductive material 461. Source electrode

465. 드레인 전극 470. 보호막465. Drain electrode 470. Protective film

475. 비아홀 480. 하부전극 475. Via hole 480. Bottom electrode

본 발명은 평판 표시장치 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 콘택홀 형성시 정전기 방지 배선이 노출되도록 홀(hole)을 형성하고, 상기 홀을 이용하여 소오스/드레인 전극 패터닝 후 상기 정전기 방지 배선을 건식 식각함으로써, 표시장치에 발생된 정전기를 단순한 공정으로 효과적으로 제거할 수 있는 평판 표시장치 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a flat panel display device and a method of manufacturing the same. More particularly, a hole is formed to expose an antistatic wiring when forming a contact hole, and after the source / drain electrode patterning using the hole, the antistatic property is prevented. BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display device and a method of manufacturing the same that can effectively remove static electricity generated in a display device by dry etching the wiring.

일반적으로 사용되고 있는 표시 장치 중 하나인 음극선관(CRT)은 TV를 비롯하여 계측기기, 정보 단말기기 등의 모니터에 주로 이용되고 있으나, CRT 자체의 무게와 크기로 인하여 전자제품의 소형화, 경량화의 요구에 적극 대응할 수 없다. Cathode ray tube (CRT), which is one of the commonly used display devices, is mainly used for monitors such as TVs, measuring devices, and information terminal devices.However, due to the weight and size of the CRT itself, You cannot actively respond.

이러한 CRT를 대체하기 위해 소형, 경량화의 장점을 가지고 있는 평판 표시 장치가 주목받고 있다. 상기 평판 표시 장치에는 LCD(liquid crystal display), OELD(organic electro luminescence display) 등이 있다. In order to replace such a CRT, a flat panel display device having the advantages of small size and light weight has been attracting attention. The flat panel display includes a liquid crystal display (LCD), an organic electroluminescence display (OELD), and the like.

이러한 평판 표시 장치는 TFT가 형성되는 TFT 기판과, 적색, 녹색 및 청색의 발광 소자로 구성된다. Such a flat panel display device is composed of a TFT substrate on which a TFT is formed and a light emitting element of red, green, and blue.

상기한 바와 같은 평판 표시 장치는 크게 화소 단위의 신호를 인가하는 TFT가 형성되는 TFT 어레이(array) 공정과, 색상을 구현하기 위한 적색, 녹색 및 청색의 발광 소자를 형성하는 공정, 단위 평판 표시 장치 셀(cell)로 컷팅하는 공정을 통하여 형성된다. As described above, the flat panel display includes a TFT array process in which a TFT that applies a signal of a pixel unit is formed, and a process of forming red, green, and blue light emitting elements for realizing color, and a unit flat panel display. It is formed through a process of cutting into a cell (cell).

이때, 상기 단위 평판 표시 장치로 컷팅(cell cutting)하는 공정은 TFT 기판 상에 발광 소자를 형성한 후, TFT 기판에 컷팅 라인을 형성하는 스크라이브(scribe) 공정과, 힘을 가하여 상기 컷팅 라인을 따라 상기 TFT 기판을 절단하는 브레이크(break) 공정으로 이루어진다. In this case, a cell cutting process of the unit flat panel display device includes a scribe process of forming a light emitting element on a TFT substrate, and then forming a cutting line on the TFT substrate, and applying a force along the cutting line. It consists of a break process which cut | disconnects the said TFT substrate.

이러한 평판 표시 장치의 제조 공정은 대부분 유리 기판 등의 절연 기판 상에서 수행되는데, 이러한 절연 기판은 부도체이므로 순간적으로 발생하는 전하가 기판의 아래로 방전될 수 없어서 정전기에 매우 취약하다. 따라서, 상기 절연 기판 상에 형성된 절연막, TFT 또는 발광소자가 정전기에 의해 손상될 수 있다. Most of the manufacturing processes of the flat panel display are performed on an insulating substrate such as a glass substrate. Since the insulating substrate is a non-conductor, instantaneous charge cannot be discharged below the substrate, and thus is very vulnerable to static electricity. Thus, the insulating film, TFT or light emitting element formed on the insulating substrate may be damaged by static electricity.

특히, 정전기는 전압은 매우 높지만, 전하량은 매우 낮은 특성을 가지므로 국소적으로 기판을 열화시킨다. 또한, 정전기는 주로 기판을 절단하는 셀 컷팅 공정에서 발생되며, 대부분 게이트 라인 및 데이터 라인의 패드부를 통해 유입되어 TFT의 채널(channel)의 열화를 유발한다. In particular, static electricity has a very high voltage but a very low amount of charge, which locally degrades the substrate. In addition, the static electricity is mainly generated in the cell cutting process of cutting the substrate, and most of the static electricity flows through the pad portion of the gate line and the data line to cause deterioration of the channel of the TFT.

이하 첨부된 도면을 참조하여, 종래 기술에 대하여 설명한다. Hereinafter, a conventional technology will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 종래의 평판 표시장치로써, 유기 전계 발광 표시 장치의 TFT 기판을 개략적으로 나타내는 평면도이다. 1 is a plan view schematically showing a TFT substrate of an organic light emitting display device as a conventional flat panel display device.

도 1을 참조하면, 절연 기판 상에 수직 교차되도록 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)이 형성되어 있다. 상기 게이트 라인(110)과 데이터 라인(120)이 교차하여 정의되는 화소 영역 내에는 스위칭 TFT 및 구동 TFT(도시하지 않음)가 형성될 수 있다. Referring to FIG. 1, a gate line 110 and a data line 120 are formed to vertically intersect on an insulating substrate. A switching TFT and a driving TFT (not shown) may be formed in the pixel area defined by the gate line 110 and the data line 120 crossing each other.

또한, 상기 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)의 끝부분에는 다수의 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)을 각각 하나로 묶는 쇼팅 바(shorting bar)라 불리는 정전기 방지 배선(130)이 기판의 에지부에 형성되어 있으며, 상기 정전기 방지 배선(130)은 서로 전기적으로 연결되어 있다. In addition, at the ends of the gate line 110 and the data line 120, an anti-static wire 130 called a shorting bar, which binds the plurality of gate lines 110 and the data line 120 to each other, is provided. It is formed on the edge portion of the substrate, the antistatic wiring 130 is electrically connected to each other.

즉, 모든 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)이 하나로 연결되어, 게이트 라인(110) 또는 데이터 라인(120)에서 정전기가 발생하면, 상기 정전기 방지 배선(130)을 경로로 하여 정전기가 방전된다. That is, when all the gate lines 110 and the data lines 120 are connected to one, and static electricity is generated in the gate line 110 or the data line 120, the static electricity is discharged by using the antistatic wiring 130 as a path. do.

그러나, 상기한 정전기 방지 배선(130)은 각각의 셀(cell)에 신호를 인가하여 평판 표시장치를 작동하기 위하여 단선 되어야 하는데, 종래에는 정전기 방지 배선(130)을 제거하기 위하여 별도의 식각 과정이나 절단 과정을 거쳤으나, 이는 공정이 추가되어 비용이 증가되는 문제점과 과도 식각의 경우 소오스/드레인 전극 및 하부에 형성되어 있는 절연층이 과도 식각되는 문제점이 있었다.However, the antistatic wiring 130 must be disconnected in order to operate a flat panel display device by applying a signal to each cell. In the related art, in order to remove the antistatic wiring 130, a separate etching process or Although the cutting process is performed, this is a problem that the cost is increased by the addition of a process, and in the case of the transient etching, there is a problem that the insulating layer formed on the source / drain electrode and the lower portion is excessively etched.

본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서 콘택홀 형성시 정전기 방지 배선이 노출되도록 홀(hole)을 형성하고, 소오스/드레인 전극 패 터닝시 상기 정전기 방지 배선을 SF6/O2 또는 CF4/O2 가스로 식각하여 단선해 줌으로써, 효과적으로 정전기 발생을 방지할 수 있고 공정을 단순화할 수 있으며 비용을 절감할 수 있는 평판 표시장치를 제공하는데 목적이 있다.The present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and to form a hole (hole) to expose the anti-static wiring when forming the contact hole, and when the source / drain electrode patterning the anti-static wiring SF 6 / O 2 or The purpose of the present invention is to provide a flat panel display device which can effectively prevent static electricity generation, simplify the process, and reduce the cost by etching and disconnecting CF 4 / O 2 gas.

상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 평판 표시장치의 제조방법은,In order to achieve the above object, a flat panel display device manufacturing method according to the present invention,

발광 영역과 패드부를 구비하는 절연 기판 상에 형성된 다수 개의 게이트 라인과 및 다수 개의 데이터 라인을 형성하는 단계와;Forming a plurality of gate lines and a plurality of data lines formed on an insulating substrate having a light emitting region and a pad portion;

상기 게이트 라인과 테이터 라인이 교차하여 정의되는 화소 영역을 형성하는 단계와;Forming a pixel area defined by the gate line and the data line crossing each other;

상기 다수 개의 게이트 라인의 끝부분에 형성되어 상기 게이트 라인을 하나로 묶는 정전기 방지 배선을 형성하는 단계; 및Forming an antistatic wiring line formed at end portions of the plurality of gate lines to bind the gate lines together; And

상기 다수 개의 게이트 라인 중 어느 하나의 게이트 라인과 인접 게이트 라인 사이의 정전기 방지 배선은 정전기 방지 배선 컷팅을 위한 홀을 이용하여 상기 각 게이트 라인을 전기적으로 분리하되, 소오스/드레인 전극 형성 후 홀을 이용하여 상기 정전기 방지 배선을 컷팅하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조방법과,The antistatic wiring between any one of the gate lines and the adjacent gate line of the plurality of gate lines is electrically separated from each other by using a hole for cutting an antistatic wire, but using a hole after forming a source / drain electrode And cutting the antistatic wiring to form a flat panel display device.

상기 소오스/드레인 전극은 Ti/Al, Ti/Al/Ti, Ti/Al/Si, Ti/AlSi/Ti, Ti/TiN/Al/Tin/Ti 또는 Ti/TiN/AlSi/TiN/Ti로 형성하는 것을 특징으로 하는 것과,The source / drain electrodes may be formed of Ti / Al, Ti / Al / Ti, Ti / Al / Si, Ti / AlSi / Ti, Ti / TiN / Al / Tin / Ti or Ti / TiN / AlSi / TiN / Ti. Characterized in that,

상기 소오스/드레인 전극은 Cl2 또는 Cl2/BCl3를 이용하여 식각하는 것을 특징으로 하는 것과,The source / drain electrodes may be etched using Cl 2 or Cl 2 / BCl 3 .

상기 정전기 방지 배선을 제거하는 단계는 소오스/드레인 전극 패터닝 후 홀을 이용하여 제거하는 것을 특징으로 하는 것과,Removing the anti-static wiring is characterized in that for removing by using a hole after the source / drain electrode patterning,

상기 정전기 방지 배선의 컷팅은 건식 식각으로 하는 것을 특징으로 하는 것과,The cutting of the anti-static wiring is characterized in that the dry etching,

상기 정전기 방지 배선의 컷팅은 SF6/O2 또는 CF4/O2로 하는 것을 특징으로 한다.The cut of the antistatic wiring is characterized in that the SF 6 / O 2 or CF 4 / O 2 .

이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부하는 도면을 참조하여 더욱 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention will be described in more detail.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 정전기 방지 배선을 구비하는 평판 표시장치의 TFT 기판을 개략적으로 나타내는 평면도이다. 2 is a plan view schematically illustrating a TFT substrate of a flat panel display device having antistatic wiring according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 발광 영역에 다수 개의 게이트 라인(210)과 다수 개의 데이터 라인(220)이 발광 영역의 외측부까지 연장되어 형성된다. 이때, 상기 다수 개의 게이트 라인(210)은 제 1 방향으로 평행하게 형성되며, 상기 다수 개의 데이터 라인(220)은 상기 제 1 방향과 수직 방향인 제 2 방향으로 평행하게 형성된다. Referring to FIG. 2, a plurality of gate lines 210 and a plurality of data lines 220 are formed in the light emitting region to extend to the outside of the light emitting region. In this case, the plurality of gate lines 210 are formed in parallel in a first direction, and the plurality of data lines 220 are formed in parallel in a second direction perpendicular to the first direction.

또한, 상기 발광 영역의 외측부에서 상기 데이터 라인(220)은 정전기 방지 회로(240)와 연결되며, 상기 정전기 방지 회로(240)는 평판 표시 장치의 제조 공정에서 발생할 수 있는 정전기를 방지하는 역할을 한다. In addition, the data line 220 is connected to the antistatic circuit 240 at an outer side of the light emitting area, and the antistatic circuit 240 prevents static electricity that may occur in a manufacturing process of a flat panel display device. .

또한, 상기 게이트 라인(210)과 상기 데이터 라인(220)이 교차하여 정의되는 화소 영역 내에는 도면 상에는 도시하지 않았으나, 스위칭 TFT 및 구동 TFT가 형성될 수 있다. Also, although not shown in the drawing, a switching TFT and a driving TFT may be formed in a pixel area defined by the gate line 210 and the data line 220 crossing each other.

한편, 상기 발광 영역의 외측부, 즉, 상기 발광 영역과 패드부 사이의 영역에서 상기 게이트 라인(210)의 끝부분은 다수의 게이트 라인(210)을 하나로 묶는 쇼팅 바(shorting bar)라 불리는 정전기 방지 배선(230)이 형성되어 있되, 상기 정전기 방지 배선(230)은 평판 표시장치의 제조 공정에서 발생할 수 있는 정전기를 방지하는 역할을 한다. On the other hand, the end portion of the gate line 210 in the outer portion of the light emitting region, that is, the region between the light emitting region and the pad portion, the anti-static called a shorting bar that binds the plurality of gate lines 210 together. Although the wiring 230 is formed, the antistatic wiring 230 serves to prevent static electricity that may occur in the manufacturing process of the flat panel display.

상기 다수의 게이트 라인 중 어느 하나의 게이트 라인(210)과 인접 게이트 라인(210) 사이의 정전기 방지 배선(230)은 홀(도 3의 330)에 의해 노출되는데, 상기 홀(330)은 콘택홀 형성시 상기 콘택홀과 함께 형성되며 상기 홀(330)은 발광 영역에 형성될 수도 있는데, 소오스/드레인 전극 패터닝 후 상기 홀(330)을 통해 상기 정전기 방지 배선(230)이 식각되게 된다. The antistatic wiring 230 between any one of the gate lines 210 and the adjacent gate line 210 of the plurality of gate lines is exposed by a hole (330 of FIG. 3), and the hole 330 is a contact hole. When formed, the contact hole and the hole 330 may be formed in the emission area. After the source / drain electrode patterning, the antistatic wiring 230 is etched through the hole 330.

도 3은 도 2의 각 게이트 라인 사이의 정전기 방지 배선을 확대한 도면이다. FIG. 3 is an enlarged view of the antistatic wiring between the gate lines of FIG. 2.

도 3을 참조하면, 상기 다수의 게이트 라인 중 어느 하나의 게이트 라인(310)과 인접 게이트 라인(310) 사이의 정전기 방지 배선(320)은 둘 이상의 서로 평행한 라인으로 형성되며, 각각의 라인은 상기 정전기 방지 배선 컷팅을 위한 홀(330)에 의하여 적어도 한 곳 이상 컷팅되어 있다. 이때, 상기 정전기 방지 배선 (320) 컷팅을 위한 홀(330)은 상기 정전기 방지 배선(320)의 폭 이상의 폭을 갖는 것이 바람직하다. Referring to FIG. 3, the antistatic wiring 320 between any one gate line 310 and the adjacent gate line 310 of the plurality of gate lines is formed as two or more parallel lines, and each line is At least one cut is performed by the hole 330 for cutting the antistatic wiring. In this case, the hole 330 for cutting the antistatic wiring 320 preferably has a width greater than or equal to the width of the antistatic wiring 320.

도 4a 내지 도 4e는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정전기 방지 배선을 구비하는 평판 표시장치를 설명하기 위한 공정 단면도이다. 4A to 4E are cross-sectional views illustrating a flat panel display device having antistatic wiring according to a preferred embodiment of the present invention.

도 4a를 참조하면, 본 발명에 따른 평판 표시장치는 유리나 합성 수지, 스테인레스 스틸 등의 재질로 이루어진 절연 기판(400) 상에 소정의 두께로 선택적으로 버퍼층(buffer layer; diffusion barrier)(410)을 형성한다. 이때, 상기 버퍼층(410)은 후속 공정으로 형성되는 비정질 실리콘의 결정화 공정시 상기 기판(400) 내의 불순물이 확산되는 것을 방지하는데, PECVD, LPCVD, 스퍼터링(sputtering) 등의 방법을 통해 증착한다. Referring to FIG. 4A, a flat panel display according to the present invention selectively forms a buffer layer (diffusion barrier) 410 with a predetermined thickness on an insulating substrate 400 made of glass, synthetic resin, stainless steel, or the like. Form. In this case, the buffer layer 410 is to prevent the diffusion of impurities in the substrate 400 during the crystallization process of the amorphous silicon formed in a subsequent process, it is deposited by a method such as PECVD, LPCVD, sputtering (sputtering).

다음으로, 상기 버퍼층(410)의 상부에 PECVD, LPCVD, 스퍼터링 등의 방법을 이용하여 소정의 두께로 비정질 실리콘(amorphous Si)을 증착한 후, 상기 비정질 실리콘을 결정화하고 사진 식각공정으로 패터닝하여 반도체층(420)을 형성하며, 상기 절연 기판(400) 상의 전체 표면 상부에 게이트 절연막(430)을 증착한다. 이때, 상기 게이트 절연막(430)은 실리콘산화막(SiO2), 실리콘질화막(SiNx) 또는 그 적층구조를 사용하여 형성할 수 있다. 상기 결정화하는 방법으로 바람직하게는 ELA, MIC, MILC, SLS, SPC 등의 결정화 공정이 사용된다. Next, amorphous silicon is deposited on the buffer layer 410 to a predetermined thickness using a method such as PECVD, LPCVD, or sputtering, and then the amorphous silicon is crystallized and patterned by a photolithography process. A layer 420 is formed, and a gate insulating layer 430 is deposited on the entire surface of the insulating substrate 400. In this case, the gate insulating layer 430 may be formed using a silicon oxide layer (SiO 2 ), a silicon nitride layer (SiN x ), or a stacked structure thereof. As the crystallization method, a crystallization process such as ELA, MIC, MILC, SLS, SPC, or the like is preferably used.

상기 반도체층(420) 상에 게이트 절연막(430)을 증착하고, 상기 게이트 절연막(430) 상에 도전성 금속막을 증착한 후, 상기 도전성 금속막을 패터닝하여 게이 트 전극(441)을 형성한다. 상기 게이트 전극(441)은 적어도 하나 이상의 도전막으로 이루어진다. 예를 들면, Mo, MoW 또는 MoW/AlNd의 이중 도전막으로 이루어지는 게이트 전극(441)을 형성할 수 있다. A gate insulating film 430 is deposited on the semiconductor layer 420, a conductive metal film is deposited on the gate insulating film 430, and then the conductive metal film is patterned to form a gate electrode 441. The gate electrode 441 is formed of at least one conductive film. For example, a gate electrode 441 made of a double conductive film of Mo, MoW, or MoW / AlNd can be formed.

이때, 상기 게이트 전극(441)을 형성함과 동시에 상기 게이트 전극 물질과 동일한 물질로 이루어지는 정전기 방지 배선(445)을 형성한다. 상기 정전기 방지 배선(445)은 평판 표시 장치의 제조 공정에서 발생할 수 있는 정전기를 방지하기 위한 것이다. At this time, the gate electrode 441 is formed and an antistatic wiring 445 made of the same material as the gate electrode material is formed. The antistatic wiring 445 is to prevent static electricity that may occur in the manufacturing process of the flat panel display device.

그런 다음, 상기 게이트 전극(441)을 마스크로 하여 상기 반도체층(420)에 소정의 도전형을 갖는 불순물을 도핑하여 소오스/드레인 영역(421, 425)을 형성한다. 상기 반도체층(420) 중 소오스/드레인 영역(421, 425) 사이의 불순물이 도핑되지 않은 영역은 TFT의 채널 영역(423)으로 작용한다. Then, the source / drain regions 421 and 425 are formed by doping the semiconductor layer 420 with an impurity having a predetermined conductivity using the gate electrode 441 as a mask. A region of the semiconductor layer 420 that is not doped with impurities between the source / drain regions 421 and 425 serves as a channel region 423 of the TFT.

도 4b를 참조하면, 게이트 전극(441), 상기 정전기 방지 배선(445)을 형성한 후, 상기 절연 기판(400) 전면에 층간 절연막(450)을 형성하고, 패터닝하여 상기 소오스/드레인 영역(421, 425)의 일부분을 노출시키는 콘택홀(451, 455)과 상기 정전기 방지 배선(445)의 일부분을 노출시키는 홀(457)을 형성한다. Referring to FIG. 4B, after forming a gate electrode 441 and the antistatic wiring 445, an interlayer insulating layer 450 is formed on the entire surface of the insulating substrate 400, and patterned to form the source / drain regions 421. Contact holes 451 and 455 exposing a portion of the 425 and holes 457 exposing a portion of the antistatic wiring 445.

이때, 상기 콘택홀(451, 455)을 형성함과 동시에, 상기 정전기 방지 배선(445)을 노출시키는 홀(457)를 형성한다. 또한, 상기 홀(457)의 폭은 상기 정전기 방지 배선(445)의 폭과 동일하거나 상기 정전기 방지 배선(445)의 폭보다 큰 것이 바람직하다. In this case, the contact holes 451 and 455 are formed, and the hole 457 exposing the antistatic wiring 445 is formed. In addition, the width of the hole 457 is preferably equal to the width of the antistatic wiring 445 or larger than the width of the antistatic wiring 445.

이는 이후에 형성되는 소오스/드레인 전극(461, 465)을 형성하는 공정과 동 시에 상기 홀(457)에 의하여 노출되는 상기 정전기 방지 배선(445)을 식각 제거함으로써, 각 게이트 라인을 전기적으로 절연시키기 위함이다. This electrically insulates each gate line by etching away the antistatic wiring 445 exposed by the hole 457 at the same time as forming the source / drain electrodes 461 and 465 to be formed later. To do so.

도 4c를 참조하면, 상기 콘택홀(451, 455) 및 정전기 방지 배선(445)를 노출시키는 홀(457)를 형성한 후, 상기 절연 기판(400) 전면에 소정의 도전 물질을 증착하여 도전 물질막(460)을 형성한다.Referring to FIG. 4C, after forming the holes 457 exposing the contact holes 451 and 455 and the antistatic wiring 445, a conductive material is deposited on the entire surface of the insulating substrate 400. A film 460 is formed.

도 4d를 참조하면, 상기 소정의 도전 물질막(460)을 형성한 후, 상기 도전 물질막(460)을 식각하여 소오스/드레인 전극(461, 465)을 형성한다. Referring to FIG. 4D, after forming the predetermined conductive material film 460, the conductive material film 460 is etched to form source / drain electrodes 461 and 465.

이때, 상기 소오스/드레인 전극(461, 465)을 형성함과 동시에 상기 홀(457)에 의하여 노출된 정전기 방지 배선(445) 또한 일괄 식각하여 제거하는데, 상기 콘택홀(451)을 통해 소오스 영역(421)에 연결되는 소오스 전극(461)과 콘택홀(455)을 통해 드레인 영역(425)에 연결되는 드레인 전극(465)을 형성한다. 이때, 상기 소오스/드레인 전극(461, 465)을 형성하는 도전 물질로는 몰리텅스텐(MoW), 알루미늄-네오디뮴(Al-Nd) 또는 Ti/Al, Ti/Al/Ti, Ti/Al/Si, Ti/AlSi/Ti, Ti/TiN/Al/Tin/Ti, Ti/TiN/AlSi/TiN/Ti 등이 사용될 수 있으며, 상기 소오스/드레인 전극(461, 465)은 Cl2 또는 Cl2/BCl3를 이용하여 식각할 수 있다.At this time, the source / drain electrodes 461 and 465 are formed, and at the same time, the antistatic wiring 445 exposed by the hole 457 is also etched and removed, and a source region (through the contact hole 451) is removed. A drain electrode 465 connected to the drain region 425 is formed through the source electrode 461 connected to the 421 and the contact hole 455. In this case, as the conductive material for forming the source / drain electrodes 461 and 465, molybdenum (MoW), aluminum-neodymium (Al-Nd) or Ti / Al, Ti / Al / Ti, Ti / Al / Si, Ti / AlSi / Ti, Ti / TiN / Al / Tin / Ti, Ti / TiN / AlSi / TiN / Ti and the like may be used, and the source / drain electrodes 461 and 465 may be Cl 2 or Cl 2 / BCl 3. Can be etched using.

이어서, 상기 소오스/드레인 전극(461, 465)을 식각한 후, SF6, SF6/O2 또는 CF4/O2를 이용하여 정전기 방지 배선(도 4c의 445)을 건식 식각한다. SF6나 CF4는 Ti를 식각하는 비율이 매우 느리며, 특히 Al의 경우는 전혀 식각하지 않기 때문에 소오스/드레인 전극(461, 465)이 식각에 의해 폭이 줄어드는 문제를 방지할 수 있다. 본 발명에서와 같이 건식 식각을 하지 않고 소오스/드레인 전극(461, 465) 형성 후, 습식 식각으로 정전기 방지 배선(445)을 제거할 때에는 Ti의 하부에 형성되어 있는 Al층이 과도하게 식각되는 문제가 발생하게 된다.Subsequently, the source / drain electrodes 461 and 465 are etched, followed by dry etching the antistatic wiring (445 of FIG. 4C) using SF 6 , SF 6 / O 2, or CF 4 / O 2 . Since SF 6 and CF 4 have a very slow rate of etching Ti, especially Al does not etch at all, thereby preventing the source / drain electrodes 461 and 465 from being reduced in width by etching. As in the present invention, after removing the source / drain electrodes 461 and 465 without dry etching, the Al layer formed under the Ti is excessively etched when the antistatic wiring 445 is removed by wet etching. Will occur.

도 4e를 참조하면, 상기 소오스/드레인 전극(461, 465)을 형성한 후, 상기 절연 기판(400) 전면에 보호막(470)을 형성하고 식각하여, 상기 소오스/드레인 전극(461, 465) 중 어느 하나, 예를 들면 상기 드레인 전극(465)의 일부분을 노출시키는 비아홀(475)을 형성한다. Referring to FIG. 4E, after forming the source / drain electrodes 461 and 465, a protective film 470 is formed on the entire surface of the insulating substrate 400 and then etched to form a source / drain electrode 461 and 465. For example, a via hole 475 exposing a portion of the drain electrode 465 is formed.

그 다음, 상기 비아홀(475)을 통하여 상기 드레인 전극(465)과 전기적으로 연결되는 하부전극(480)을 형성한다. 상기 하부 전극(480)은 절연 기판(400) 상에 반사막과 상기 반사막 상에 투명전극으로 형성될 수 있는데, 상기 반사막은 후속 공정에서 형성되는 유기막(도시하지 않음)에서 나오는 빛을 절연 기판(400)과 반대 방향으로 반사시키기 위하여 형성한다. 여기서, 상기 하부전극(480)은 애노드 전극으로 작용한다.Next, a lower electrode 480 is formed to be electrically connected to the drain electrode 465 through the via hole 475. The lower electrode 480 may be formed as a reflective film on the insulating substrate 400 and a transparent electrode on the reflective film. The reflective film may emit light from an organic film (not shown) formed in a subsequent process. And to reflect in the opposite direction to 400). Here, the lower electrode 480 serves as an anode electrode.

이때, 반사막의 물질로는 은(Ag), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W), 티타늄(Ti) 및 탈륨(Ta)의 단일 금속 및 이들의 합금 등이 사용되고 있으며, 상기 하부전극(480)의 투명 전극의 구성 물질로는 일함수가 높은 ITO(Indium Tin Oxide) 또는 IZO(Indium Zinc Oxide) 등이 사용될 수 있고, 반사 효율 및 일함수 등을 고려하여 알루미늄(Al) 또는 이의 합금과 ITO가 가장 폭 넓게 사용되고 있다.At this time, the material of the reflective film is a single metal of silver (Ag), aluminum (Al), chromium (Cr), molybdenum (Mo), tungsten (W), titanium (Ti) and thallium (Ta) and alloys thereof. As a material of the transparent electrode of the lower electrode 480, indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO) having a high work function may be used, and aluminum may be used in consideration of reflection efficiency and work function. Al or alloys thereof and ITO are most widely used.

이후에는 도면 상에는 도시하지 않았으나, 일반적인 평판 표시 장치의 제조 공정을 수행하여 평판 표시 장치를 형성한다. Although not shown in the drawings, a flat panel display is formed by performing a manufacturing process of a general flat panel display.

상기한 바와 같이 본 발명에 따르면, 콘택홀 형성시 정전기 방지 배선이 노출되도록 홀(hole)을 형성하고, 소오스/드레인 전극 패터닝 후 상기 정전기 방지 배선을 SF6/O2 또는 CF4/O2로 식각하여 단선해 줌으로써, 효과적으로 정전기 발생을 방지할 수 있고 공정을 단순화할 수 있으며 비용을 절감할 수 있다.As described above, according to the present invention, when forming a contact hole, a hole is formed to expose the antistatic wiring, and after the source / drain electrode patterning, the antistatic wiring is SF 6 / O 2 or CF 4 / O 2 . By etching and disconnecting, it is possible to effectively prevent the generation of static electricity, simplify the process and reduce the cost.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. While the foregoing has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art will be able to variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. It will be appreciated.

Claims (6)

발광 영역과 패드부를 구비하는 절연 기판 상에 형성된 다수 개의 게이트 라인과 및 다수 개의 데이터 라인을 형성하는 단계와;Forming a plurality of gate lines and a plurality of data lines formed on an insulating substrate having a light emitting region and a pad portion; 상기 게이트 라인과 데이터 라인이 교차하여 정의되는 화소 영역을 형성하는 단계와;Forming a pixel area defined by the gate line and the data line crossing each other; 상기 다수 개의 게이트 라인의 끝부분에 형성되어 상기 게이트 라인을 하나로 묶는 정전기 방지 배선을 형성하는 단계; 및Forming an antistatic wiring line formed at end portions of the plurality of gate lines to bind the gate lines together; And 상기 다수 개의 게이트 라인 중 어느 하나의 게이트 라인과 인접 게이트 라인 사이의 정전기 방지 배선은 정전기 방지 배선 컷팅을 위한 홀을 이용하여 상기 각 게이트 라인을 전기적으로 분리하되, 소오스/드레인 전극 형성 후 홀을 이용하여 상기 정전기 방지 배선을 컷팅하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조방법.The antistatic wiring between any one of the gate lines and the adjacent gate line of the plurality of gate lines is electrically separated from each other by using a hole for cutting an antistatic wire, but using a hole after forming a source / drain electrode And cutting the anti-static wires. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 소오스/드레인 전극은 Ti/Al, Ti/Al/Ti, Ti/Al/Si, Ti/AlSi/Ti, Ti/TiN/Al/Tin/Ti 또는 Ti/TiN/AlSi/TiN/Ti 중 어느 하나로 형성하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조방법.The source / drain electrode is any one of Ti / Al, Ti / Al / Ti, Ti / Al / Si, Ti / AlSi / Ti, Ti / TiN / Al / Tin / Ti, or Ti / TiN / AlSi / TiN / Ti. A manufacturing method of a flat panel display characterized in that it is formed. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 소오스/드레인 전극은 Cl2 또는 Cl2/BCl3를 이용하여 식각하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조방법.The source / drain electrode is etched using Cl 2 or Cl 2 / BCl 3 . 삭제delete 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 정전기 방지 배선의 컷팅은 건식 식각으로 하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조방법.The cutting of the antistatic wiring is a manufacturing method of a flat panel display characterized in that the dry etching. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 정전기 방지 배선의 컷팅은 SF6/O2 또는 CF4/O2로 하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조방법.The cutting of the antistatic wiring is a manufacturing method of the flat panel display, characterized in that SF 6 / O 2 or CF 4 / O 2 .
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