JPS6222075A - Ac measuring instrument - Google Patents

Ac measuring instrument

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JPS6222075A
JPS6222075A JP16346585A JP16346585A JPS6222075A JP S6222075 A JPS6222075 A JP S6222075A JP 16346585 A JP16346585 A JP 16346585A JP 16346585 A JP16346585 A JP 16346585A JP S6222075 A JPS6222075 A JP S6222075A
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JP
Japan
Prior art keywords
signal
frequency
sample
circuit
sampling
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Pending
Application number
JP16346585A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Fumihiko Isogai
磯貝 文彦
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPS6222075A publication Critical patent/JPS6222075A/en
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Abstract

PURPOSE:To perform high accuracy AC measurement regardless of variations in the frequency of an signal by controlling the sampling frequency in response to the measured frequency of the AC input signal, and subjecting the sampled data to an arithmetic processing by the controlled sample frequency. CONSTITUTION:An AC voltage signal (e) is held in a sample holding circuit 3 through a multiplexer 2, and inputted to an A/D converter 4. The sampled data is written into a sample memory 5 by a memory control circuit 6. On the other hand, an AC current signal (i) is converted to a voltage value through a current/voltage conversion circuit 1, and is written into the memory 5 like as the signal (e). A waveform shaping circuit 9 converts the signal (e) into a square wave signal and inputs it to a microcomputer 7. A sampling signal generating circuit 8 generates a sampling signal in response to the frequency of input signal in accordance with the output of the computer 7, feeds it to the circuit 6, and controls the sample frequency. The computer 7 reads the data of memory 5 and performs the arithmetic processing. In this way, the quantity of electricity is calculated with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は閉鎖型配電盤等に使用される交流計測装置に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to an alternating current measuring device used in a closed type switchboard or the like.

[従来の技術j 従来、この種の交流計測装置として第2図に示すものが
あった0図において、eは交流電圧信号、iは交流電流
信号、(1)は交流電流信号iを電圧信号に変換する電
流−電圧変換回路、(2)は2つの電圧信号を切り換え
るマルチプレクサ、(3)はこのマルチプレクサ(2)
からの出力を保持するサンプルホールド回路、(4)は
サンプルホールド回路(3)で保持されたアナログ信号
をデジタル信号に変換するA/D変挽回路、(5)はこ
のA/D変換回路(0のデジタル出力信号(サンプルデ
ータ)がサイクリックに書き込まれるサンプルメモリ、
(8)は後述するマイクロコンピュータ(7)がサンプ
ルメモリ(5)をアクセスしていない期間を検出し、そ
の期間にA/D変換回路(0のデジタル出力信号をサン
プルメモリ(5)にサイクリックに書き込むための記憶
制御回路、(7)はサンプルメモリ(5)のデータを読
みとって計測−出力用の演算処理や結果の出力等、全体
の制御を行うマイクロコンピュータである。
[Prior art j] Conventionally, there was an AC measuring device of this type as shown in Fig. 2. In Fig. 0, e is an AC voltage signal, i is an AC current signal, and (1) is an AC current signal i as a voltage signal. (2) is a multiplexer that switches two voltage signals, (3) is this multiplexer (2)
(4) is an A/D conversion circuit that converts the analog signal held in sample and hold circuit (3) into a digital signal, and (5) is this A/D conversion circuit ( a sample memory in which a digital output signal (sample data) of 0 is cyclically written;
(8) detects a period in which the microcomputer (7), which will be described later, is not accessing the sample memory (5), and during that period, the A/D conversion circuit (cyclically sends a digital output signal of 0 to the sample memory (5)). A storage control circuit (7) is a microcomputer that reads data from the sample memory (5) and performs overall control such as arithmetic processing for measurement and output and output of results.

たとえば、交流電圧信号e、交流電流信号iが第3図の
ような入力信号の場合、この入力信号の1周期Tiの間
を、電圧e、主電流のそれぞれについてn回(n= l
 O〜100)サンプリングする。第3図において、電
圧e、電流iのあるサンプリング時点から次のサンプリ
ング時点までの期間Tsはサンプリング周期である。上
記サンプリングは、電圧e、主電流を交互に行い、サン
プルデータは第4図に示すようにサンプルメモリ(5)
へサイクリックに格納するようになっている。
For example, if the AC voltage signal e and the AC current signal i are input signals as shown in FIG.
O~100) Sample. In FIG. 3, a period Ts from a certain sampling point of voltage e and current i to the next sampling point is a sampling period. The above sampling is performed alternately with the voltage e and the main current, and the sample data is stored in the sample memory (5) as shown in Figure 4.
It is designed to be stored cyclically.

次に上記構成の動作について説明する。Next, the operation of the above configuration will be explained.

第2図において、交流電圧信号eは、マルチプレクサ(
2)を経てサンプルホールド回路(3)で保持され、A
/D変換回路(4)へ入力される。A/D変換回路(4
)は、入力されたアナログ信号に対応するデジタル信号
、すなわちサンプルデータを出力する。このサンプルデ
ータは、記憶制御回路(8)により、上述したように第
4図のサンプルメモリ(5)へサイクリックに書き込ま
れる。
In FIG. 2, the AC voltage signal e is transferred to the multiplexer (
2) and is held in the sample hold circuit (3).
/D conversion circuit (4). A/D conversion circuit (4
) outputs a digital signal corresponding to the input analog signal, that is, sample data. This sample data is cyclically written to the sample memory (5) in FIG. 4 by the storage control circuit (8) as described above.

一方、交流電流信号iは電流−電圧変換回路(1)で電
圧値に変換され、その後は上記交流電圧信号eの場合と
同様にして、サンプルメモリ(5)へサイクリックに書
き込まれる。
On the other hand, the alternating current signal i is converted into a voltage value by the current-voltage conversion circuit (1), and thereafter is cyclically written into the sample memory (5) in the same manner as the above-mentioned case of the alternating voltage signal e.

マイクロコンピュータ(7)はサンプルメモリ(5)へ
格納されてい°る電圧のサンプルデータel。
The microcomputer (7) stores the voltage sample data el stored in the sample memory (5).

e2.・・・en、および電流のサンプルデータ il
e2. ...en, and current sample data il
.

12、・・・inを読みとり、これらのデータにもとづ
いて、あらかじめ設定されている入力信号の周期Tiの
単位で計測出力用の演算処理を行う。
12, .

この演算処理は、第5図のフローチャートに示すように
、入力信号の1周期を単位として以下のように行われる
As shown in the flowchart of FIG. 5, this arithmetic processing is performed in the following manner in units of one period of the input signal.

電圧および電流の平均値を出力する場合には。When outputting the average values of voltage and current.

の演算処理を行ない、実効値を出力する場合は、 の演算処理を行なう。When performing calculation processing and outputting the effective value, Performs calculation processing.

また、平均電力の算出にあたっては、 の演算処理を行なう。In addition, when calculating the average power, Performs calculation processing.

無効電力については、電流と電圧の位相を900ずらせ
て電力と同様の処理を行なう、すなわち、 で演算する。
Regarding reactive power, the same processing as for power is performed by shifting the phases of current and voltage by 900, that is, it is calculated as follows.

また、力率については、 PF=W/ 、/;;”丁2 の演算を行ない、WH、VARHについては、順次、W
、VARの値を計測周期の間は一定とみなして積分の処
理を行う。
In addition, for the power factor, calculate PF=W/, /;;''2, and for WH and VARH, W
, VAR values are assumed to be constant during the measurement period, and integration processing is performed.

マイクロコンピュータ(7)としての処理は、上記計測
出力データ用の演算処理の他に、実際のデータ出力およ
び初期設定等の処理も行う。
The microcomputer (7) performs processing such as actual data output and initial setting in addition to the calculation processing for the measurement output data.

[発明が解決しようとする問題点] 上述した従来の交流計測装置にあっては、サンプリング
周期Tsが固定されているため、入力信号e、iが一定
周波数であれば問題はないが、入力信号e、iの周波数
が変動した場合には、この変動に関係なく一定の周期で
サンプリングしてしまう結果、次のような問題点が生じ
る。
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional AC measuring device described above, since the sampling period Ts is fixed, there is no problem as long as the input signals e and i have constant frequencies, but if the input signals When the frequencies of e and i vary, sampling is performed at a constant period regardless of this variation, resulting in the following problem.

すなわち、入力信号e、iの周波数が大きくなった場合
(すなわち周期が小さくなった場合)、サンプリング周
期Tsが一定であれば、入力信号の1周期を越えて次の
1周期にまで入り込んで余分にサンプリングすることに
なり、他方1周波数が小さくなった場合(すなわち周期
が大きくなった場合)には、入力信号の1周期の終りま
でサンプリングが及ばなくなる。したがって、このよう
なサンプルデータにもとづいて算出された各種出力デー
タ値は、当然のことながら真の出力データ値とは異なっ
たものとなる。
In other words, when the frequency of the input signals e and i increases (that is, when the period decreases), if the sampling period Ts is constant, the redundant signal exceeds one period of the input signal and enters the next one period. On the other hand, if one frequency becomes smaller (that is, if the period becomes larger), sampling will not reach the end of one period of the input signal. Therefore, various output data values calculated based on such sample data naturally differ from true output data values.

このように、従来のものにおいては、入力信号の周波数
の変動により、計測誤差が大きくなるという問題点があ
った。
As described above, the conventional method has a problem in that measurement errors increase due to fluctuations in the frequency of the input signal.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、入力信号の周波数変動に対しても高い精度が
得られる交流計測装置を提供することを目的としている
This invention was made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide an AC measuring device that can obtain high accuracy even with respect to frequency fluctuations of an input signal.

[問題点を解決するための手段] この発明にかかる交流計測装置は、交流入力信号を所定
のサンプル周波数でサンプリングする手段と、サンプリ
ングされたデータを格納する手段と、上記サンプリング
データにもとづいて演算処理を行い電気量を算出する演
算手段と、上記交流入力信号の周波数を計測する手段と
、計測された周波数に応じて上記サンプル周波数を制御
する手段とを備えたものである。
[Means for Solving the Problems] The AC measuring device according to the present invention includes a means for sampling an AC input signal at a predetermined sampling frequency, a means for storing the sampled data, and a calculation method based on the sampled data. The apparatus includes arithmetic means for performing processing and calculating an amount of electricity, means for measuring the frequency of the AC input signal, and means for controlling the sample frequency according to the measured frequency.

[作用j この発明においては、サンプル周波数が入力信号の周波
数に応じて制御されるから、入力信号の周波数が変動し
ても、それに追従して、常に一定のサンプル回数で入力
信号の1周期がサンプリングされる。
[Operation j] In this invention, since the sampling frequency is controlled according to the frequency of the input signal, even if the frequency of the input signal fluctuates, one period of the input signal is always kept constant with a constant number of samples. sampled.

[実施例] 以下、この発明あ実施例を図面にしたがって説明する。[Example] Embodiments of this invention will be described below with reference to the drawings.

第1図において、eは交流電圧信号、iは交流電流信号
、(1)は交流電流信号iを電圧信号に変換する電流−
電圧変換回路、(2)は2つの電圧信号を切り換えるマ
ルチプレクサ、(3)はこのマルチプレクサ(2)から
の出力を保持するサンプルホールド回路、(0はサンプ
ルホールド回路(3)で保持されたアナログ信号をデジ
タル信号に変換するA/D変換回路、(5)はこのA/
D変換回路(4)のデジタル出力信号(サンプルデータ
)がサイクリックに書き込まれるサンプルメモリ、(6
)は後述するマイクロコンピュータ(7)がサンプルメ
モリ(5)をアクセスしていない期間にA/D変換回路
(4)のデジタル出力信号をサンプルメモリ(5)にサ
イクリックに書き込むための記憶制御回路、(7)はサ
ンプルメモリ(5)のデータを読みとって計測出力用の
演算処理や結果の出力等、全体の制御を行うマイクロコ
ンピュータで、以上の構成は第2図のものと同様である
In Fig. 1, e is an AC voltage signal, i is an AC current signal, and (1) is the current - which converts the AC current signal i into a voltage signal.
Voltage conversion circuit, (2) is a multiplexer that switches two voltage signals, (3) is a sample and hold circuit that holds the output from this multiplexer (2), (0 is an analog signal held in the sample and hold circuit (3) (5) is an A/D conversion circuit that converts the A/D signal into a digital signal.
A sample memory (6) into which the digital output signal (sample data) of the D conversion circuit (4) is cyclically written.
) is a storage control circuit for cyclically writing the digital output signal of the A/D conversion circuit (4) into the sample memory (5) during a period when the microcomputer (7) described later is not accessing the sample memory (5). , (7) is a microcomputer that reads data from the sample memory (5) and performs overall control such as arithmetic processing for measurement output and output of results.The above configuration is the same as that shown in FIG.

第2図と異なる点は、サンプル信号発生回路(8)と、
波形整形回路(3)とが新たに設けられていることであ
る。波形整形回路(3)は正弦波交流電圧信号eが入力
され、この信号を方形波信号に変換してその出力をマイ
クロコンピュータ(7)へ入力する。また、サンプル信
号発生回路(8)はマイクロコンピュータ(7)の出力
にしたがって、入力信号の周波数に対応したサンプル信
号を発生し、これを記憶制御回路(6)へ供給する。
The difference from FIG. 2 is that the sample signal generation circuit (8)
A waveform shaping circuit (3) is newly provided. The waveform shaping circuit (3) receives the sinusoidal AC voltage signal e, converts this signal into a square wave signal, and inputs the output to the microcomputer (7). Further, the sample signal generation circuit (8) generates a sample signal corresponding to the frequency of the input signal according to the output of the microcomputer (7), and supplies this to the storage control circuit (6).

交流入力のサンプリング処理、演算処理については従来
の交流計測itと同様であるので、以下の説明ではサン
プル周波数の制御について述べる。
The sampling process and arithmetic process of the AC input are the same as those of the conventional AC measurement IT, so the following description will focus on control of the sampling frequency.

第1図において、交流電圧信号eは波形整形回路(8)
に入力され、2倍の周波数の方形波に変換される。一方
、マイクロコンピュータ(7)ではこの方形波を取込ん
で、交流入力の周期Tiの間、M云1.かいに!!l抱
登堝塞の〃ロッ々ルカウント「、これにもとづいて入力
信号の周波数を算出する。
In Fig. 1, the AC voltage signal e is connected to a waveform shaping circuit (8).
and is converted into a square wave with twice the frequency. On the other hand, the microcomputer (7) takes in this square wave, and during the period Ti of the AC input, M 1. Kai-ni! ! l The frequency of the input signal is calculated based on the ``Loccal Count'' of the Hodo Basin.

さらにマイクロコンピュータ(7)では、算出された入
力周波数fiをもとにして、入力信号1周期のサンプル
回数Nsを算出し、このサンプリングを行うための制御
信号として、図示しないプリセットカウンタのプリセッ
ト値をサンプル信号発生回路(8)へ出力する。
Furthermore, the microcomputer (7) calculates the number of samples Ns for one cycle of the input signal based on the calculated input frequency fi, and uses a preset value of a preset counter (not shown) as a control signal for performing this sampling. Output to the sample signal generation circuit (8).

サンプル信号発生回路(8)では、水晶発振器によって
、サンプル周波数fsの数10〜数1o。
In the sample signal generation circuit (8), a crystal oscillator generates a sample frequency fs of several tens to several degrees.

倍の高周波の安定信号を発生しており、これをマイクロ
コンピュータ(7)から送出されてきたプリセット値を
設定した分周用のプリセットカウンタで分周して、サン
プル周波数fsを得る。記憶制御回路(6)は、このサ
ンプル周波数fsにしたがって、A/D変換回路(0の
デジタール出方信号をサンプルメモリ(5)にサイクリ
ックに書き込んでゆく。
A stable signal with twice the high frequency is generated, and this is divided by a preset counter for frequency division set with a preset value sent from a microcomputer (7) to obtain a sample frequency fs. The storage control circuit (6) cyclically writes the digital output signal of the A/D conversion circuit (0) into the sample memory (5) according to this sampling frequency fs.

すなわち、この実施例においては、サンプル周波数fs
を入力信号の周波数fiに応じて可変制御している点に
特徴がある。なお、サンプル漂妨数fsは、交流入力信
号の周波数の4の整数倍に選定されている。
That is, in this embodiment, the sample frequency fs
is characterized in that it is variably controlled according to the frequency fi of the input signal. Note that the sample stray number fs is selected to be an integral multiple of 4 of the frequency of the AC input signal.

サンプル周波数fsとサンプル回数Nsが固定されてい
ると、すでに述べたように、入力周波数の変動により、
演算の対象となるサンプリングブロック(Ns個のデー
タ)が入力周期の1周期を越えたり、不足したりする。
If the sampling frequency fs and the number of samples Ns are fixed, as already mentioned, due to fluctuations in the input frequency,
The sampling block (Ns pieces of data) to be subjected to calculation may exceed one input period or be insufficient.

定格周波数の波高値lの正弦波交流入力時のサンプル回
数をNt、実際のサンプル回数をNとすると、このとき
の平均値STは、 で算出できる。ここで、N=Ntで、 がA/D変換器で出力される1周期分のサンプルデータ
である。
Assuming that the number of samples at the time of inputting a sine wave alternating current with a peak value l of the rated frequency is Nt, and the actual number of samples is N, the average value ST at this time can be calculated as follows. Here, N=Nt, and is the sample data for one period outputted by the A/D converter.

次に、上式にもとづいて、従来のものとこの発明のもの
との計測精度を比較してみると、従来のものでは、入力
周波数が変動した場合は、上式でNxNtとなり、Nが
Ntから±10%変動すると、Nt=40のとき、平均
値Sは−7,0%〜+4.0%も変動する。
Next, based on the above formula, we compare the measurement accuracy of the conventional method and the method of this invention.In the conventional method, when the input frequency fluctuates, the above formula becomes NxNt, and N is Nt. If it fluctuates by ±10% from , the average value S will fluctuate by -7.0% to +4.0% when Nt=40.

これに対して、この発明のものでは、入力周波数に応じ
てサンプル周波数を制御し、入力信号の1周期でのサン
プル数Nを常に一定に保っているから、N=40のとき
、平均値Sは±0.2%以内の変動で測定することがで
きる。
On the other hand, in the present invention, the sampling frequency is controlled according to the input frequency and the number of samples N in one cycle of the input signal is always kept constant, so when N=40, the average value S can be measured with a variation within ±0.2%.

なお、上記実施例では、゛高周波信号を分周用のプリセ
ットカウンタで分周して、サンプル周波数fsを得る周
波数制御について述べたが、電圧制御発振回路等により
原発振回路の発振周波数を制御するようにしてもよい。
In addition, in the above embodiment, the frequency control was described in which the sample frequency fs is obtained by dividing the high frequency signal using a preset counter for frequency division, but the oscillation frequency of the original oscillation circuit may be controlled by a voltage controlled oscillation circuit or the like. You can do it like this.

また、上記実施例では単相交流信号について説明したが
・0の発明は多相交流信号″″9いても適   。
Furthermore, although the above embodiments have been described with respect to a single-phase AC signal, the invention of 0 is also applicable to a multi-phase AC signal.

用することができ、上記実施例と同様の効果を奏する。The same effect as the above embodiment can be obtained.

[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、サンプリング周波数
を被測定信号の周波数により制御する構成にしたので、
入力周波数の変動により、サンプリングが入力信号の1
周期を越えたり、不足したりすることがなく、入力信号
の1周期でのサンプル数を常に一定に保つことができ、
これによって精度の高い交流計測装置が得られる効果が
ある。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, since the sampling frequency is controlled by the frequency of the signal under test,
Due to variations in the input frequency, the sampling may be
The number of samples in one cycle of the input signal can always be kept constant without exceeding the cycle or falling short.
This has the effect of providing a highly accurate AC measuring device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明による交流計測装置の実施例を示すブ
ロック図、第2図は従来の交流計測装置を示すブロック
図、第3図は入力信号の波形図、第4図はサンプルメモ
リへ格納されるサンプルデータの構成図、第5図はマイ
クロコンピュータの処理の概要を示すフローチャートで
ある。 i・・・交流電流信号、e・・・交流電圧信号、(2)
・・・マルチプレクサ、(3)・・・サンプルホールド
回路、(4)・・・A/D変換回路、(5)・・・サン
プルメモリ、(8)・・・記憶制御回路、(7)・・・
マイクロコンピュータ、(8)・・・サンプル信号発生
回路、(9)・・・波形整形回路。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Fig. 1 is a block diagram showing an embodiment of an AC measuring device according to the present invention, Fig. 2 is a block diagram showing a conventional AC measuring device, Fig. 3 is a waveform diagram of an input signal, and Fig. 4 is a storage in sample memory. FIG. 5 is a flowchart showing the outline of the processing of the microcomputer. i...AC current signal, e...AC voltage signal, (2)
... multiplexer, (3) ... sample hold circuit, (4) ... A/D conversion circuit, (5) ... sample memory, (8) ... storage control circuit, (7).・・・
Microcomputer, (8)...sample signal generation circuit, (9)...waveform shaping circuit. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)交流入力信号を所定のサンプル周波数でサンプリ
ングする手段と、サンプリングされたデータを格納する
手段と、上記サンプリングデータにもとづいて演算処理
を行い電気量を算出する演算手段と、上記交流入力信号
の周波数を計測する手段と、計測された周波数に応じて
上記サンプル周波数を制御する手段とを備えたことを特
徴とする交流計測装置。
(1) Means for sampling the AC input signal at a predetermined sampling frequency, means for storing the sampled data, calculation means for performing calculation processing based on the sampling data to calculate the quantity of electricity, and the AC input signal What is claimed is: 1. An alternating current measuring device comprising: means for measuring the frequency of the sample; and means for controlling the sample frequency according to the measured frequency.
(2)サンプル周波数が交流入力信号の周波数の4の整
数倍に選定されている特許請求の範囲第1項記載の交流
計測装置。
(2) The AC measuring device according to claim 1, wherein the sampling frequency is selected to be an integral multiple of 4 of the frequency of the AC input signal.
JP16346585A 1985-07-22 1985-07-22 Ac measuring instrument Pending JPS6222075A (en)

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