JPH0515972B2 - - Google Patents

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JPH0515972B2
JPH0515972B2 JP4338488A JP4338488A JPH0515972B2 JP H0515972 B2 JPH0515972 B2 JP H0515972B2 JP 4338488 A JP4338488 A JP 4338488A JP 4338488 A JP4338488 A JP 4338488A JP H0515972 B2 JPH0515972 B2 JP H0515972B2
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JP
Japan
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small space
calibrator
microphone
microphones
speaker
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JPH01217216A (en
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Shozo Anzai
Hideo Suzuki
Fumio Mita
Fujio Maejima
Takatsugu Imanaga
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ONO SOTSUKI KK
SANKEN MAIKUROPPON KK
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ONO SOTSUKI KK
SANKEN MAIKUROPPON KK
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、騒音制御、建築音響、音響機器等
の計測で使用される音響強度計測装置に使われる
マイクロホンの特性を補正する校正器に関するも
のである。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field This invention relates to a calibrator for correcting the characteristics of a microphone used in a sound intensity measurement device used for noise control, architectural acoustics, measurement of audio equipment, etc. .

従来の技術 時間平均の音響強度Iは、例えば「音響インテ
ンシテイ法による騒音源の同定」(日本音響学会
説39巻10号1983年)に開示されるごとく I=(t)(t) (1) で表わされる。ここでp(t)は音圧、u(t)は注目す
る方向の粒子速度である。現在のところ粒子速度
を精度良く直接測定できる変換器がないために第
3図に示すように計測しようとする方向にマイク
ロホン6a,6bを2つ並べて、それらの音圧信
号p1(t),p2(t)から U(t)=−1/ρ∫t∽p2(t′)−p1(t′)/△rdt′
(2) として近以的に求められる値を用いている。ここ
でρは空気の密度である。音圧は2つのマイクロ
ホンの出力の平均値をとり、 P(t)=p1(t)+p2(t)/2 (3) で近以される。(2)、(3)式を(1)式に代入することに
より、時間平均の音響強度が求められる。
Conventional technology The time-averaged sound intensity I is, for example, as disclosed in "Identification of Noise Sources by Sound Intensity Method" (Acoustical Society of Japan Vol. 39, No. 10, 1983), I = (t) (t) (1 ). Here, p(t) is the sound pressure, and u(t) is the particle velocity in the direction of interest. At present, there is no transducer that can directly measure particle velocity with high precision, so two microphones 6a and 6b are lined up in the direction of measurement as shown in Fig. 3, and their sound pressure signals p 1 (t), From p 2 (t), U(t)=-1/ρ∫ t ∽p 2 (t') - p 1 (t')/△rdt'
(2) uses the value that can be found recently. Here ρ is the density of air. The sound pressure is the average value of the outputs of the two microphones, and is approximated by P(t)=p 1 (t)+p 2 (t)/2 (3). By substituting equations (2) and (3) into equation (1), the time-averaged sound intensity can be determined.

ここで、(2)、(3)式が示すように、2つのマイク
ロホンの特性を含めた2チヤンネル間の特性が同
一で、しかも絶対感度が等しくないと(2)、(3)式に
誤差が含まれる。例えば第3図のマイクロホンの
軸方向に平面波が到来する時の、マイクロホンを
含めた2チヤンネルの測定系の位相差を△θと
し、振幅感度を同一とした時の測定誤差は、 Ie/I=sin(k・△r−△θ)/
k・△r、k=2πf/c(4) で与えられる。ここでIeは誤差を含んだ音響強
度、Iは真の音響強度、fは平面波の周波数、c
は音速である。一例をあげると、△r=0.05m、
△θ=1°、f=50HzのときIe/I0.63となり、4dB
の測定誤差なる。このように2チヤンネル間の特
性差、特に位相差を補正することは音響強度の測
定精度を高める上で非常に重要である。
Here, as shown in equations (2) and (3), if the characteristics between the two channels, including the characteristics of the two microphones, are the same, and the absolute sensitivities are not equal, there will be an error in equations (2) and (3). is included. For example, when a plane wave arrives in the axial direction of the microphone in Figure 3, the measurement error when the phase difference of the two-channel measurement system including the microphone is △θ and the amplitude sensitivity is the same is Ie/I = sin(k・△r−△θ)/
It is given by k・△r, k=2πf/c(4). Here, Ie is the acoustic intensity including error, I is the true acoustic intensity, f is the plane wave frequency, and c
is the speed of sound. To give an example, △r=0.05m,
When △θ=1°, f=50Hz, Ie/I0.63, 4dB
There will be a measurement error. Correcting the characteristic difference between the two channels, especially the phase difference, in this way is very important in improving the accuracy of sound intensity measurement.

この問題に関する従来の解決方法は、特性のそ
ろつた2つのマイクロホンを使用することが一般
的であつた。電気回路は、特性の管理が比較的容
易であるが、機械的構造を含むマイクロホンで
は、特性の管理が難しく、チヤンネル間の特性差
はほぼマイクロホンの特性差によつて決められる
からである。しかしながら、特性のそろつた2つ
のマイクロホンを選択することは生産効率を阻害
するばかりでなく、長期間使用している間にマイ
クロホンの特性が変化することも十分考えられ
る。
Conventional solutions to this problem have typically involved the use of two microphones with matching characteristics. It is relatively easy to manage the characteristics of an electric circuit, but it is difficult to manage the characteristics of a microphone that includes a mechanical structure, and the difference in characteristics between channels is almost determined by the difference in characteristics of the microphones. However, selecting two microphones with similar characteristics not only impairs production efficiency, but it is also highly conceivable that the characteristics of the microphones may change during long-term use.

これらの問題を解決する方法として、第4図お
よび第5図に示すようなマイクロホン間の特性差
を測定するための校正器が用いられる。
As a method to solve these problems, a calibrator for measuring the difference in characteristics between microphones as shown in FIGS. 4 and 5 is used.

第4図は、校正しようとする2つのマイクロホ
ンの特性差を直接測定する方法である。1は校正
器、2は校正器内部の小空間、3は小空間に校正
用音圧を発生させるためのスピーカ、4はスピー
カに校正用信号を供給する信号発生器、5はその
増幅器である。6a,6bは校正される2つのマ
イクロホン、7はそれらの特性差を計測する装置
である。2つのマイクロホン6a,6bは小空間
内においてスピーカに対して互いに対称な位置に
あるため、同じ音圧を受ける。マイクロホンから
の2つの信号を特性差計測装置7に加えれば、2
つのマイクロホンの特性差を測定できる。それを
音響強度計測装置に供給することにより、音響強
度の計測精度を高めることができる。
FIG. 4 shows a method of directly measuring the difference in characteristics between two microphones to be calibrated. 1 is a calibrator, 2 is a small space inside the calibrator, 3 is a speaker for generating a calibration sound pressure in the small space, 4 is a signal generator that supplies a calibration signal to the speaker, and 5 is its amplifier. . 6a and 6b are two microphones to be calibrated, and 7 is a device for measuring the difference in their characteristics. Since the two microphones 6a and 6b are positioned symmetrically with respect to the speaker in the small space, they receive the same sound pressure. If two signals from the microphone are applied to the characteristic difference measuring device 7, 2
It is possible to measure the difference in characteristics between two microphones. By supplying it to the sound intensity measuring device, the accuracy of sound intensity measurement can be improved.

第5図は、校正しようとするマイクロホンを1
個ずつ校正器に挿入することによつて、間接的に
マイクロホン間の特性差を測定する方法であり、
図中、第4図と同一部分には同一番号を付してい
る。図において、まず、マイクロホン6aを小空
間内に挿入し、スピーカへの入力信号との振幅比
A1および位相差△θ1を測定する。次に、マイク
ロホン6bを小空間内において6aと同じ位置に
挿入してスピーカの入力信号との振幅比A1およ
び位相差△θ2を測定する。
Figure 5 shows the microphone to be calibrated.
This method indirectly measures the characteristic difference between microphones by inserting them into a calibrator one by one.
In the figure, the same parts as in FIG. 4 are given the same numbers. In the figure, first, the microphone 6a is inserted into a small space, and the amplitude ratio with the input signal to the speaker is
Measure A 1 and phase difference Δθ 1 . Next, the microphone 6b is inserted into the small space at the same position as the microphone 6a, and the amplitude ratio A 1 and phase difference Δθ 2 with respect to the input signal of the speaker are measured.

これらが得られれば、マイクロホン6aと6b
との振幅比および位相差はそれぞれA2/A1およ
び(θ2−θ+)として与えられる。これらの特性
差を音響強度計測装置に供給することにより、測
定精度を高めることができる。
If these are obtained, the microphones 6a and 6b
The amplitude ratio and phase difference are given as A 2 /A 1 and (θ 2 −θ+), respectively. By supplying these characteristic differences to the sound intensity measuring device, measurement accuracy can be improved.

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、第3図および第4図の校正器の
問題点は小空間内部においてマイクロホンの受音
面における音圧が周波数によつて大きく変化する
ことである。
Problems to be Solved by the Invention However, the problem with the calibrators shown in FIGS. 3 and 4 is that the sound pressure at the sound receiving surface of the microphone changes greatly depending on the frequency inside the small space.

第6図は、その一例を示したものである。横軸
は周波数、縦軸は相対音圧(dB)である。
FIG. 6 shows an example. The horizontal axis is frequency, and the vertical axis is relative sound pressure (dB).

5kHz付近にピークがあり、9kHzに深い谷が見
られる。音圧の谷の周波数においてはマイクロホ
ンへ十分な音圧が供給されず、特性差を十分な精
度で測定できないことになる。
There is a peak around 5kHz and a deep valley at 9kHz. At the frequency of the sound pressure trough, sufficient sound pressure is not supplied to the microphone, making it impossible to measure the characteristic difference with sufficient accuracy.

課題を解決するための手段 ところで、第6図において深い谷が見られる理
由は、小空間内にあつては高周波数領域において
音響的な共振が生じ、特定の周波数においてマイ
クロホンの受音部における音圧が低下するためで
あることが種々の検討の結果わかつた。
Means to Solve the Problem By the way, the reason why deep valleys are seen in Figure 6 is that acoustic resonance occurs in the high frequency range in a small space, and the sound at the sound receiving part of the microphone at a specific frequency is As a result of various studies, it was found that this was due to a decrease in pressure.

本発明はこの問題を解決し、校正器内部の小空
間における周波数に対する音圧の変化を少なくし
た校正器を提供しようとするものである。すなわ
ち、本発明の第1発明は1個毎のマイクロホンを
それぞれ挿入、または2個のマイクロホンを同時
に挿入する小空間と、その小空間に校正用信号音
場を発生するスピーカとを有するマイクロホン特
性差補正用校正器において、その小空間に連通さ
せて小空間の共振周波数よりも高い共振周波数を
有する高域補償用の二次的小空間を形成したもの
である。また、第2発明は前記第1発明のものの
2つの小空間を結ぶ音響路に音響的制動材を設
け、第1の発明の効果をさらに改善したものであ
る。
The present invention aims to solve this problem and provide a calibrator in which changes in sound pressure with respect to frequency in a small space inside the calibrator are reduced. That is, the first aspect of the present invention is a microphone characteristic difference having a small space into which each microphone is inserted or two microphones are inserted at the same time, and a speaker which generates a signal sound field for calibration in the small space. In the correction calibrator, a secondary small space for high frequency compensation is formed in communication with the small space and has a resonant frequency higher than that of the small space. Further, the second invention further improves the effect of the first invention by providing an acoustic damping material in the acoustic path connecting the two small spaces of the first invention.

作 用 以下、本発明の音響系を電気回路で等価的に表
わし、その作用を説明する。
Function The acoustic system of the present invention will be equivalently represented by an electric circuit, and its function will be explained.

まず、従来技術に関する第4図または第5図に
示す校正器の等価電気回路を第7図に示す。校正
器の補正回路のない場合の高域における共振は、
第7図に示すようにL0,C0,およびL1,C1によ
つて決められる。ここでインダクタンスL0はス
ピーカの振動質量に対応し、キヤパシタンスC0
はスピーカの振動系のバネ定数に対応する。ま
た、インダクタンスL1およびキヤパシタンスC1
は小空間の質量とバネ定数に対応する。E0はス
ピーカの駆動力に対応する起電力である。このと
き、キヤパシタンスC1の両端に発生する電圧E1
は小空間内の音圧に対応するものである。電圧
E1は共振周波数 f1=1/2π√(01)(011 0 ≒1/2π√1(011(C0≫C1) 以上で急激に低下する。すなわち、容量C1によ
るインピーダンスがインダクタンス(L0+L1
によるインピーダンスよりも小さくなるためであ
る。そこで、第8図に示すようにC1のインピー
ダンスの低下を防ぐ目的でそれと並列に新たな共
振系L2,C2を設ける。この第8図の等価回路に
よつて表わされる校正器が第1発明であり、等価
回路におけるインダクタンスL2およびキヤパシ
タンスC2は校正器の二次的小空間の持つ等価質
量および等価バネ定数に対応する。ここで、C1
とL2で決められる共振周波数f2=1/2π√2 2
f1より大きく設定することによりf1以上の周波数
でC1の両端のインピーダンスが上昇し、結果的
に、同周波数帯域でE1′がE1よりも大きくなる。
即ち、二次的小空間を形成したことにより小空間
の音圧を上昇させることになつた。
First, FIG. 7 shows an equivalent electric circuit of the calibrator shown in FIG. 4 or 5 in relation to the prior art. The resonance in the high frequency range without the correction circuit of the calibrator is
As shown in FIG. 7, it is determined by L 0 , C 0 and L 1 , C 1 . where the inductance L 0 corresponds to the vibrating mass of the speaker and the capacitance C 0
corresponds to the spring constant of the speaker's vibration system. Also, the inductance L 1 and capacitance C 1
corresponds to the mass and spring constant of the small space. E 0 is an electromotive force corresponding to the driving force of the speaker. At this time, the voltage E 1 generated across the capacitance C 1
corresponds to the sound pressure in a small space. Voltage
E 1 rapidly decreases above the resonance frequency f 1 = 1/2π√( 0 + 1 ) ( 0 + 1 ) 1 0 ≒ 1/2π√1 ( 0 + 1 ) 1 (C 0 ≫C 1 ). In other words, the impedance due to capacitance C 1 is inductance (L 0 + L 1 )
This is because the impedance is smaller than the impedance due to Therefore, as shown in FIG. 8, a new resonance system L 2 and C 2 is provided in parallel with C 1 in order to prevent the impedance from decreasing. The calibrator represented by the equivalent circuit in FIG. 8 is the first invention, and the inductance L 2 and capacitance C 2 in the equivalent circuit correspond to the equivalent mass and equivalent spring constant of the secondary small space of the calibrator. do. Here, C 1
The resonant frequency f 2 = 1/2π√ 2 2 determined by and L 2 is
By setting f to be larger than f 1 , the impedance at both ends of C 1 increases at frequencies above f 1 , and as a result, E 1 ' becomes larger than E 1 in the same frequency band.
That is, by forming the secondary small space, the sound pressure in the small space was increased.

ただし、上記の第8図に示す等価回路では、共
振回路がインダクタンスおよびキヤパシタンスの
みから構成されているため、大きな共振の山や谷
が発生する。これを防ぐために、第9図において
は第8図のものに、抵抗R2が追加されている。
これによつて共振が制動され、広い帯域にわたつ
て本発明による効果が達成される。
However, in the equivalent circuit shown in FIG. 8 above, since the resonant circuit is composed only of inductance and capacitance, large resonance peaks and valleys occur. To prevent this, a resistor R 2 is added in FIG. 9 to that in FIG. 8.
This damps resonance and achieves the effects of the invention over a wide band.

すなわち、この制動抵抗は小空間と二次的小空
間とを結ぶ音響路に付加した音響的制動材料に対
応する。なお、音響的制動材料とは、グラスウー
ル、不織布、フエルトなどが本目的に適したもの
としてあげられる。
That is, this damping resistance corresponds to acoustic damping material added to the acoustic path connecting the small space and the secondary small space. Note that the acoustic damping material includes glass wool, nonwoven fabric, felt, etc. suitable for this purpose.

実施例 第1図は第1発明のものの音響回路に音響的制
動材を介在させてなる第2発明の一実施例を示し
たものであり、第4図のものと同番号を付した要
素は第4図のものと同様であり、同様に動作す
る。そして、第1図においては、高域補償用の二
次的小空間8が小空間2のスピーカ3と対向する
壁面に設けられ、その大きさは約1/10程度であ
り、その中間に吸音性材料9が配置されている。
この二次的小空間8は前記第8図に基づいて説明
したように小空間2の共振を防ぐ。
Embodiment FIG. 1 shows an embodiment of the second invention in which an acoustic damping material is interposed in the acoustic circuit of the first invention, and elements given the same numbers as those in FIG. It is similar to that of FIG. 4 and operates similarly. In FIG. 1, a secondary small space 8 for high-frequency compensation is provided on the wall facing the speaker 3 of the small space 2, and its size is about 1/10, and a sound absorbing space 8 is provided in the middle. A flexible material 9 is arranged.
This secondary small space 8 prevents resonance of the small space 2 as explained based on FIG. 8 above.

第2図は吸音性材料を音響路9にい設けた二次
的小空間8を有する校正器内部の音圧特性を示し
たもので、第6図に見られるような急激な谷が見
られない。このように小空間内の音圧の周波数変
化が少ない校正器を使用することによつて、精度
の良い特性差の補正ができるようになり、音響強
度の測定精度そのものを高めることができる。
Figure 2 shows the sound pressure characteristics inside the calibrator, which has a secondary small space 8 in which a sound-absorbing material is provided in the acoustic path 9, and there is a sharp valley as seen in Figure 6. do not have. By using a calibrator in which the frequency change of sound pressure in a small space is small in this way, it becomes possible to correct characteristic differences with high accuracy, and the accuracy of sound intensity measurement itself can be improved.

尚、上記は2つのマイクロホンを直接校正する
校正器に関する実施例であるが、第5図に示すよ
うな間接的にマイクロホンの特性差を計測する場
合においても同様である。さらに、二次的小空間
8はは小空間のどこに配しても良いが、スピーカ
と対向すう壁面に配するのが最も効果的である。
また、第1図では、信号発生器ならびに増幅器を
校正器の外に配しているが、それらを校正器の内
部に配しても同様の結果が得られる。また、特性
差計測装置を特別に用意しなくとも音響強度計測
装置自体にその機能が含まれている場合には、本
発明の校正器を有効に使用することが可能であ
る。
Although the above embodiment is related to a calibrator that directly calibrates two microphones, the same applies to a case where the difference in characteristics of the microphones is indirectly measured as shown in FIG. Furthermore, although the secondary small space 8 may be placed anywhere in the small space, it is most effective to place it on the wall facing the speaker.
Further, in FIG. 1, the signal generator and amplifier are placed outside the calibrator, but similar results can be obtained even if they are placed inside the calibrator. Moreover, even if a characteristic difference measuring device is not specially prepared, if the function is included in the sound intensity measuring device itself, the calibrator of the present invention can be effectively used.

発明の効果 以上のとおりでおり、本発明は小空間内に併設
された高域補償用の二次的小空間により、小空間
のみでは達成させられない高音域での周波数特性
の改善がなされており、広い周波数範囲にわたつ
て正確な校正を行なうことができる。
Effects of the Invention As described above, the present invention improves the frequency characteristics in the high frequency range, which cannot be achieved with the small space alone, by using the secondary small space for high frequency compensation installed in the small space. This allows for accurate calibration over a wide frequency range.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第2発明の一実施例を示す断
面図、第2図は第1図の校正器の内部における音
圧の周波数特性の一例を示す線図、第3図は、2
つのマイクロホンを用いた音響強度計測用プロー
ブを示す正面図、第4図および第5図は従来のマ
イクロホン特性差補正用校正器を示す断面図、第
6図は第4図または第5図に示す校正器の内部に
おける音圧の周波数特性の一例を示す線図であ
る。第7図は第4図または第5図に対応する等価
電気回路、第8,9図は第1図に対応する等価電
気回路である。 1:校正器、2:校正器内の小空間、3:スピ
ーカ、4:校正信号発生器、5:増幅器、6a,
6b:マイクロホン、7:特性差計測装置、8:
二次的小空間、9:音響制動材料。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the second invention of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an example of the frequency characteristics of sound pressure inside the calibrator shown in FIG. 1, and FIG.
A front view showing a sound intensity measurement probe using two microphones, FIGS. 4 and 5 are cross-sectional views showing a conventional calibrator for correcting microphone characteristic differences, and FIG. 6 is shown in FIGS. FIG. 3 is a diagram showing an example of frequency characteristics of sound pressure inside the calibrator. FIG. 7 is an equivalent electric circuit corresponding to FIG. 4 or FIG. 5, and FIGS. 8 and 9 are equivalent electric circuits corresponding to FIG. 1. 1: Calibrator, 2: Small space inside the calibrator, 3: Speaker, 4: Calibration signal generator, 5: Amplifier, 6a,
6b: Microphone, 7: Characteristic difference measuring device, 8:
Secondary small space, 9: Acoustic damping material.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 1個毎のマイクロホンをそれぞれ挿入、また
は2個のマイクロホンを同時に挿入する小空間
と、その小空間に校正用信号音場を発生するスピ
ーカとを有するマイクロホン特性差補正用校正器
において、その小空間に連通させて小空間の共振
周波数よりも高い共振周波数を有する二次的小空
間を形成したことを特徴とする特性差補正用校正
器。 2 1個毎のマイクロホンをそれぞれ挿入、また
は2個のマイクロホンを同時に挿入する小空間
と、その小空間に校正用信号音場を発生するスピ
ーカとを有するマイクロホン特性差補正用校正器
において、その小空間に連通させて小空間の共振
周波数よりも高い共振周波数を有する二次的小空
間を形成し、かつその2つの小空間を結ぶ音響路
に音響的制動材を介在させたことを特徴とする特
性差補正用校正器。
[Claims] 1. A microphone characteristic difference correction device having a small space into which each microphone or two microphones are inserted at the same time, and a speaker that generates a signal sound field for calibration in the small space. A calibrator for correcting characteristic differences, characterized in that a secondary small space is formed in communication with the small space and has a resonant frequency higher than the resonant frequency of the small space. 2. In a calibrator for microphone characteristic difference correction, which has a small space into which each microphone is inserted or two microphones are inserted at the same time, and a speaker that generates a signal sound field for calibration in the small space, the small A secondary small space is formed in communication with the space and has a resonance frequency higher than that of the small space, and an acoustic damping material is interposed in the acoustic path connecting the two small spaces. Calibrator for characteristic difference correction.
JP4338488A 1988-02-26 1988-02-26 Calibrator for correcting characteristic difference Granted JPH01217216A (en)

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