JP2766876B2 - Glitch pattern detection circuit - Google Patents

Glitch pattern detection circuit

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JP2766876B2 JP9321188A JP9321188A JP2766876B2 JP 2766876 B2 JP2766876 B2 JP 2766876B2 JP 9321188 A JP9321188 A JP 9321188A JP 9321188 A JP9321188 A JP 9321188A JP 2766876 B2 JP2766876 B2 JP 2766876B2
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【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、DA変換器にグリッチパターンの検出結果
から得られる最適な暫定時間を供給するためのもので、
グリッチを発生するパターンを検出するグリッチパター
ン検出回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention is to supply a DA converter with an optimal provisional time obtained from a glitch pattern detection result.
The present invention relates to a glitch pattern detection circuit that detects a pattern that generates a glitch.

「従来の技術」 デジタルデータをアナログ信号に変換するDA変換器で
はデジタルデータを印加してからアナログ信号が安定す
るまでに時間を必要とする。この安定するまでの時間は
整定時間と呼ばれる。この整定時間はデジタルデータの
変化量に応じて異なる。一方デジタルデータが例えば7
(=0111)から8(=1000)に変化する場合はデジタル
データの変化量は僅か1であるが、全部のビットが変化
するためグリッチが生じる。グリッチが生じると整定時
間が長くなる。
[Background Art] A DA converter that converts digital data into an analog signal requires time from the application of digital data to the stabilization of the analog signal. This time to stabilization is called the settling time. This settling time differs depending on the amount of change in the digital data. On the other hand, if digital data
When the value changes from (= 0111) to 8 (= 1000), the change amount of the digital data is only 1, but a glitch occurs because all bits change. If a glitch occurs, the settling time becomes longer.

第3図に従来のDA変換器の整定時間を制御する装置を
示す。アナログ信号に変換されるべきデジタルデータが
入力端子11よりデータ変化量算出回路12へ供給されると
共にデータラッチ13へ供給される。データラッチ13には
1サイクル前のデジタルデータが記憶され、これがデー
タ変化量算出回路12へ供給され、データ変化量算出回路
12では今回のデータと前回のデータとの差が演算され、
そのデータ変化量で整定時間テーブル14が読み出され、
データ変化量に応じた整定時間が発生される。整定時間
テーブル14には、データ変化量に応じた安定時間と最大
グリッチ量に応じた安定時間とを加算した整定時間が記
憶されている。
FIG. 3 shows an apparatus for controlling the settling time of a conventional DA converter. Digital data to be converted into an analog signal is supplied from an input terminal 11 to a data change amount calculation circuit 12 and to a data latch 13. The digital data of one cycle before is stored in the data latch 13 and is supplied to the data change amount calculation circuit 12, and the data change amount calculation circuit
At 12, the difference between the current data and the previous data is calculated,
The settling time table 14 is read with the data change amount,
A settling time corresponding to the data change amount is generated. The settling time table 14 stores a settling time obtained by adding a stabilizing time according to the data change amount and a stabilizing time according to the maximum glitch amount.

このように従来の装置では予め最大グリッチ量に応じ
た安定時間を加えて整定時間テーブルを作っているが、
グリッチが発生するのは引き続く2つのデータが特定の
パターン関係にある時だけであり、グリッチが発生しな
いほとんどの場合には必要以上に長い整定時間がとられ
ている。
As described above, in the conventional apparatus, a settling time table is created by adding a stabilizing time according to the maximum glitch amount in advance.
A glitch occurs only when two subsequent data have a specific pattern relationship. In most cases where no glitch occurs, an unnecessarily long settling time is taken.

このような問題を改善するため第4図に示す装置が提
案されている。端子11よりのデジタルデータはデータ変
化量算出回路12及びデータラッチ13へ供給されると共に
グリッチパターン検出回路15へ供給される。データラッ
チ13から1サイクル前のデータがデータ変化量算出回路
12及びグリッチパターン検出回路15へ供給される。デー
タ変化量算出回路12にて現在のデータと前回のデータと
の差が演算され、その差データにより整定時間テーブル
14が読み出される。グリッチパターン検出回路15におい
て現データと前回のデータとからグリッチを発生すべき
パターンが検出され、そのグリッチパターンに応じてグ
リッチ時間テーブル16が読み出される。整定時間テーブ
ル14には現データと前回のデータとの差に応じた安定化
時間が記憶されている。グリッチ時間テーブル16にはグ
リッチパターンに応じてグリッチが安定化するまでの時
間、つまりグリッチ時間が記憶されている。整定時間テ
ーブル14の出力とグリッチ時間テーブル16の出力とが加
算回路17で加算されて整定時間データとして出力され
る。
In order to improve such a problem, an apparatus shown in FIG. 4 has been proposed. The digital data from the terminal 11 is supplied to the data change amount calculation circuit 12 and the data latch 13 and also to the glitch pattern detection circuit 15. The data one cycle before the data latch 13 is the data change amount calculation circuit
12 and the glitch pattern detection circuit 15. The difference between the current data and the previous data is calculated by the data change amount calculation circuit 12, and the settling time table is calculated based on the difference data.
14 is read. The glitch pattern detection circuit 15 detects a pattern to generate a glitch from the current data and the previous data, and reads the glitch time table 16 according to the glitch pattern. The settling time table 14 stores a stabilizing time according to the difference between the current data and the previous data. The glitch time table 16 stores the time until the glitch is stabilized according to the glitch pattern, that is, the glitch time. The output of the settling time table 14 and the output of the glitch time table 16 are added by the adding circuit 17 and output as settling time data.

このようにすれば常に実際の整定時間に近い整定時間
データが得られ、必要以上に長い整定時間がとられるお
それはない。
In this way, settling time data close to the actual settling time is always obtained, and there is no danger that an unnecessarily long settling time will be taken.

この発明の目的はグリッチパターンを検出するための
グリッチパターン検出回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a glitch pattern detection circuit for detecting a glitch pattern.

「課題を解決するための手段」 この発明によれば、入力データとその1サイクル前の
データの、MSB以降連続した異なるビット数からなるデ
ータ間の差が複数の引算回路でそれぞれ検出され、その
引算回路の出力が+1又は−1であることが、つまりそ
れぞれの引算回路に入力される2つのデータ間のLSBが
異なることが、複数の1LSB変化検出回路で検出され、そ
の複数の1LSB変化検出回路の出力の中の1つが選択され
てデータラッチに入力される。又入力データとその1サ
イクル前のデータのそれぞれの上位の対応するビット間
が不一致であることが複数の不一致回路で検出され、そ
の複数の不一致回路の出力から選択された1出力と、複
数の1LSB変化検出回路から選択された1出力との論理積
が論理積回路でとられてデータラッチに入力される。そ
して1サイクル前のデータと現在のデータ間のビットの
変化が、MSBとLSBから数えてそれぞれ何番目のビットに
あったかを示すグリッチパターンとして、データラッチ
からグリッチ時間テーブルと暫定時間テーブルの演算を
経て、DA変換器に供給される。
According to the present invention, the difference between the input data and the data one cycle before the input data and the data having a different number of consecutive bits after the MSB is detected by the plurality of subtraction circuits, respectively. That the output of the subtraction circuit is +1 or -1, that is, that the LSB between two data input to each subtraction circuit is different is detected by a plurality of 1LSB change detection circuits, and the One of the outputs of the 1LSB change detection circuit is selected and input to the data latch. Further, a plurality of non-matching circuits detect that there is a mismatch between the corresponding higher-order bits of the input data and the data one cycle before, and one output selected from the outputs of the plurality of non-matching circuits and a plurality of outputs. The logical product with one output selected from the 1LSB change detecting circuit is taken by the logical product circuit and input to the data latch. The bit change between the data one cycle ago and the current data is calculated as a glitch pattern indicating the number of bits counted from the MSB and LSB, respectively, from the data latch through the calculation of the glitch time table and the provisional time table. , Supplied to the DA converter.

「実施例」 第1図はこの発明の実施例を示す。端子21からの入力
データb9〜b0は引算回路221〜224の一方の入力端子へ供
給されると共にデータラッチ23へ供給される。引算回路
221〜224の他方の入力端子にデータラッチ23から1サイ
クル前のデータが入力される。引算回路221はビットb9
〜b5からなるデータの引算を行い、引算回路222はビッ
トb9〜b6からなるデータの引算を行い、引算回路223
ビットb9〜b7からなるデータの引算を行い、引算回路22
4はビットb9〜b8からなるデータの引算を行う。例えば
ビットb9〜b5からなる現入力データが“01111"(=15)
で、1サイクル前のデータが“10000"(=16)であった
場合、引算回路221、222、223、224のそれぞれの出力
は、“11110"(=−1)、“1110"(=−1)、“110"
(=−1)、“10"(=−1)となる(“11111"〜“11"
は2の補数演算されて“−1"が加算される)。引算回路
221〜224の各出力はILSB変化検出回路231〜234へそれぞ
れ供給される。ILSB変化検出回路231〜234は引算回路22
1〜224へそれぞれ入力されたデータのLSB(最下位ビッ
ト)に変化があるか否か、つまり引算回路221〜224の出
力が+1又は−1であることが検出される。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. Input data b 9 ~b 0 from the terminal 21 is supplied to the data latch 23 is supplied to one input terminal of the subtraction circuit 22 1 to 22 4. Subtraction circuit
22 1-22 4 the other input terminal from the data latch 23 one cycle before the data is input. Subtraction circuit 22 1 bit b 9
Performs subtraction of the data consisting of ~b 5, subtraction circuit 22 2 performs the subtraction of the data consisting of bits b 9 ~b 6, pull data subtraction circuit 22 3 is comprised of bits b 9 ~b 7 Calculation and subtraction circuit 22
4 performs subtraction of data consisting of bits b 9 ~b 8. For example, the current input data consisting of bits b 9 to b 5 is “01111” (= 15)
In the case one cycle before the data is "10000" (= 16), the respective outputs of the subtraction circuits 22 1, 22 2, 22 3, 22 4, "11110" (= - 1), " 1110 "(= -1)," 110 "
(= −1) and “10” (= −1) (“11111” to “11”
Is a two's complement operation and "-1" is added.) Subtraction circuit
Each output of 22 1-22 4 is supplied to the ILSB change detection circuit 23 1 to 23 4. ILSB change detection circuits 23 1 to 23 4 are subtraction circuits 22
Whether to 1-22 4 data inputted respectively to the LSB (least significant bit) is changed, i.e. it is detected the output of the subtraction circuit 22 1 to 22 4 is +1 or -1.

1LSB変化検出回路231、232、233、234の具体例を第2
図に示す。この回路では例えば引算回路221、222、2
23、224のそれぞれの出力が、“11110"(=−1)、“1
110"(=−1)、“110"(=−1)、“10"(=−1)
の場合、1LSB変化検出回路231、232、233、234(第2
図)の各NAND回路24の出力は“0"であるが、各AND回路2
5の出力は“1"であり、各NAND回路24の出力と各AND回路
25の出力のOR回路の出力である1LSB変化検出回路231、2
32、233、234の出力はそれぞれ“1"となる。又引算回路
221、222、223、224のそれぞれの出力が、“00000"(=
1)、“0000"(=1)、“000"(=1)、“00"(=
1)の場合(“00001"〜“01"は2の補数演算されて
“−1"が加算される。)各NAND回路24の出力は“1"であ
るが、各AND回路25の出力は“0"になる。つまり“0000
0"〜“00"を検出する回路24と、“11110"〜“10"を検出
する回路25とにより構成される。ILSB変化検出回路231
の反転出力はAND回路261,262,263へ供給され、AND回路2
61,262,263へはILSB変化検出回路232,233,234の各出力
が供給され、ILSB検出回路231より出力が得られると、
他のILSB検出回路232〜234の出力はAND回路261〜263
禁止される。AND回路261〜263は優先回路26を構成して
いる。ILSB変化検出回路232の反転出力はAND回路262,26
3へ供給され、ILSB変化検出回路233の反転出力はAND回
路263へ供給される。従って1LSB変化検出回路231の出力
が“1"の場合(例えば現入力データが“01111"で1サイ
クル前のデータが“10000"の場合)、1LSB変化検出回路
231、232、233、234の出力も“1"になるが、AND回路2
61、262、263により232、233、234のデータは阻止され
て、データラッチ回路23には1LSB変化検出回路231のデ
ータのみが入力されて、b5にビット変化のあったことが
知らされる。又例えば1LSB変化検出回路231と232の出力
が“0"で233と234の出力が“1"の場合(例えば現入力デ
ータ“01000"で1サイクル前のデータが“00110"の場
合)、AND回路263を通ってb3にビット変化のあったこと
が知らされる。1LSB変化検出回路231の出力、AND回路26
1〜263の各出力はOR回路27へ供給される。
1LSB change detection circuit 23 1, 23 2, 23 3, 23 a specific example of a 4 second
Shown in the figure. In this circuit, for example, subtraction circuits 22 1 , 22 2 , 2
2 3, 22 4 each output of "11110" (= - 1), "1
110 "(= -1)," 110 "(= -1)," 10 "(= -1)
In the case of 1LSB change detection circuit 23 1 , 23 2 , 23 3 , 23 4 (second
The output of each NAND circuit 24 in FIG.
The output of 5 is “1”, and the output of each NAND circuit 24 and each AND circuit
1 LSB change detection circuit 23 1 , 2 which is the output of the OR circuit of 25 outputs
3 2, 23 3, 23 4 output of each "1". Subtraction circuit
The output of each of 22 1 , 22 2 , 22 3 , and 22 4 is “00000” (=
1), “0000” (= 1), “000” (= 1), “00” (=
In the case of 1) (“00001” to “01” are subjected to two's complement operation and “−1” is added.) The output of each NAND circuit 24 is “1”, but the output of each AND circuit 25 is It becomes “0”. That is, "0000
0 "to" 00 "and circuit 24 for detecting the," 11110 "~" 10 .ILSB change detection circuit 23 1 constituted by a circuit 25 for detecting a "
Is output to the AND circuits 26 1 , 26 2 , and 26 3 and the AND circuit 2
6 1, 26 2, 26 Ilsb change detection circuit 23 2 to 3, 23 3, the outputs of 23 4 is supplied, the output from the Ilsb detecting circuit 23 1 is obtained,
Output of other ILSB detection circuit 23 2-23 4 is inhibited by the AND circuit 26 1 to 26 3. AND circuits 26 1 to 26 3 constitute a priority circuit 26. The inverted output of the ILSB change detection circuit 23 2 is connected to the AND circuits 26 2 and 26
Is supplied to the 3, the inverted output of ILSB change detection circuit 23 3 is supplied to the AND circuit 26 3. Thus (for example 1 cycle before the data in the current input data is "01111" is "10000") output of 1LSB change detection circuit 23 1 is "1" when, 1LSB change detection circuit
23 1, 23 2, 23 3, 23 4 of the output also becomes a "1", the AND circuit 2
6 1, 26 2, 26 3 by 23 2, 23 3, 23 4 of the data is prevented, only the data of 1LSB change detection circuit 23 1 to the data latch circuit 23 is inputted, the b 5 bit change It is informed that there was. Also for example, the output of 1LSB change detection circuit 23 1 and 23 2 is "0" output at 23 3 and 23 4 is "1" when (e.g. one cycle before the data in the current input data "01000" is "00110" If), that there was a bit change is notified to b 3 through an aND circuit 26 3. 1 LSB change detection circuit 23 1 output, AND circuit 26
Each output of 1-26 3 are supplied to the OR circuit 27.

一方、入力端子21のデータの最上位ビットb9と1サイ
クル前のデータの最上位ビットb9との不一致が不一致検
出回路281で検出される。同様にして最上位ビットから
2番目のビットb8について現データと前回のデータとの
不一致が不一致検出回路282で検出され、更にビットb7,
b6についての不一致が不一致検出回路283,284でそれぞ
れ検出される。
Meanwhile, mismatch between the most significant bit b 9 upper bits b 9 uppermost one cycle before the data in the data input terminal 21 is detected by mismatch detection circuit 28 1. Similarly for the second bit b 8 from the most significant bit mismatch between the current data and the previous data is detected by mismatch detection circuit 28 2, further bits b 7,
mismatch of b 6 are respectively detected by the mismatch detection circuit 28 3, 28 4.

不一致検出回路281〜284の出力は論理積回路291〜294
へそれぞれ供給され、これら論理積回路291〜294へはOR
回路27の出力が供給される。不一致検出回路281の反転
出力が論理積回路292〜294へ供給され、不一致検出回路
282の反転出力が論理積回路293,294へ供給され、不一致
検出回路283の反転出力が論理積回路294へ供給される。
論理積回路291〜294は上位ビット程、優先する優先回路
29を構成している。論理積回路291〜294の出力はグリッ
チパターン検出出力となる。
The output of mismatch detection circuit 28 1 to 28 4 are AND circuits 29 1 to 29 4
To be supplied, OR is to these AND circuits 29 1 to 29 4
The output of circuit 27 is provided. Inverted output of mismatch detection circuit 28 1 is supplied to the AND circuit 29 2-29 4, mismatch detection circuit
28 2 inverted output is supplied to the AND circuit 29 3, 29 4, the inverted output of mismatch detection circuit 28 3 is supplied to the AND circuit 29 4.
AND circuits 29 1 to 29 4 as upper bits, priority priority circuit
Make up 29. The output of the AND circuit 29 1 to 29 4 become glitch pattern detection output.

以上述べたようにこの発明によれば最下位ビットの変
化がILSB変化検出回路で検出され、この検出がなされか
つ上位ビットが不一致であればグリッチパターンである
と検出される。例えば現入力データが“01000"で1サイ
クル前のデータが“00100"の場合、AND回路292の出力に
よりMSBから数えて2番下位にビット変化のあったこと
が、又AND回路262の出力によりLSBから数えて3番上位
にビット変化のあったことが、つまりビット変化幅が2
であったことが、データラッチ23に知らされる。又例え
ば現入力データが“10000"で1サイクル前のデータが
“01000"の場合、AND回路291の出力によりMSBにビット
変化のあったことが、AND回路263の出力によりLSBから
数えて4番上位にビット変化のあったことが、つまりビ
ット変化幅が2であったことが知らされる。
As described above, according to the present invention, the change of the least significant bit is detected by the ILSB change detection circuit. If this change is detected and the upper bits do not match, it is detected that the pattern is a glitch pattern. For example, in the case of one cycle before the data is "00100" in the current input data is "01000", the 2nd lower counted from the MSB by the output of the AND circuit 29 2 that for which the bit changes, also the AND circuit 26 2 The output indicates that the bit has changed in the third most significant position from the LSB, that is, the bit change width is 2
Is notified to the data latch 23. Also for example, in the case of one cycle before the data in the current input data is "10000" is "01000", the output of the AND circuit 29 1 that there was a bit change in MSB, counted from the LSB by the output of the AND circuit 26 3 It is informed that a bit change has occurred at the fourth highest position, that is, the bit change width is 2.

「発明の効果」 以上述べたようにこの発明によれば、DA変換器の前段
において、1サイクル毎に入力される前後のデータ間
に、連続するビット変化があった時に、これをグリッチ
パターンとして検出することができる。この際、複数の
排他的論理和回路によってMSB側の、複数の引算回路と1
LSB変化検出回路によってLSB側のビット変化をそれぞれ
検出する回路によって、グリッチ検出に幅を持たせるこ
とができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, when there is a continuous bit change between data before and after data input every cycle in the preceding stage of the DA converter, this is used as a glitch pattern. Can be detected. At this time, a plurality of exclusive OR circuits and one or more subtraction circuits on the MSB side
Glitch detection can be given a range by a circuit that detects each bit change on the LSB side by the LSB change detection circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明の実施例を示すブロック図、第2図は
1LSB変化検出回路の具体例を示す論理回路図、第3図は
従来の整定時間制御装置を示すブロック図、第4図は提
案されている整定時間制御装置の一例を示すブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a block diagram showing a conventional settling time control device, and FIG. 4 is a block diagram showing an example of a proposed settling time control device.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】1サイクル毎に入力データを変換するDA変
換器に、グリッチパターンを供給するグリッチパターン
検出回路において、 入力データとその1サイクル前のデータとから、それぞ
れMSB以降連続した同一複数ビットが取り出されてなる
データ間の差を、その複数ビット数が互いに異なるもの
についてそれぞれ検出する複数の引算回路と、 その各引算回路の出力が+1又は−1であることを検出
する複数の1LSB変化検出回路と、 上記複数の1LSB変化検出回路の出力から、その入力ビッ
ト数が多いもの程高い優先度で1出力を選択する優先回
路と、 上記入力データとその1サイクル前のデータとのそれぞ
れ対応するビットを比較し、不一致であるとこれを検出
する複数の不一致検出回路と、 上記複数の不一致検出回路の出力から、その比較ビット
が上位ビットであるもの程高い優先度で1出力を選択
し、上記優先回路の出力と論理積をとる論理積回路と、 上記入力データを上記1サイクル毎にラッチし、これを
その1サイクル後に上記各引算回路と上記各不一致検出
回路に出力し、上記各不一致検出回路及び上記各1LSB変
化検出回路の出力を入力し、これを上記DA変換器に供給
するデータラッチと、 を具備することを特徴とするグリッチパターン検出回
路。
1. A glitch pattern detection circuit for supplying a glitch pattern to a DA converter for converting input data every cycle, comprising: input data and data one cycle before the input data; A plurality of subtraction circuits for detecting the difference between the data obtained by extracting the plurality of bits having different numbers of bits, and a plurality of subtraction circuits for detecting that the output of each subtraction circuit is +1 or -1. A 1LSB change detection circuit, a priority circuit that selects one output from the outputs of the plurality of 1LSB change detection circuits with a higher priority as the number of input bits is larger, A plurality of mismatch detection circuits for comparing corresponding bits and detecting the mismatch, and comparing the outputs from the plurality of mismatch detection circuits. The higher the bit, the higher the bit, the higher the priority, the higher the priority, the logical product of the output of the priority circuit, and the input data. A data latch that outputs to each of the subtraction circuits and each of the non-coincidence detection circuits after a cycle, inputs the outputs of each of the non-coincidence detection circuits and each of the 1LSB change detection circuits, and supplies them to the DA converter. A glitch pattern detection circuit.
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