JP2020096430A - Electric power conversion device - Google Patents

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Abstract

To provide an electric power conversion device comprising a plurality of booster circuits and capable of preventing a current from back-flowing to an external DC power when a diode fails in a booster circuit.SOLUTION: An electric power conversion device comprises: booster circuits 16-1 to 16-3 each of which has a semiconductor element for voltage conversion and a rectification element for rectification, and converts a voltage value of DC power output from an external DC power supply and outputs it; and a control circuit 13 that controls a voltage value of an output power output from each of the booster circuits 16-1 to 16-3. The control circuit 13 detects a failure of the rectification element in each of the booster circuits 16-1 to 16-3 by using a voltage value of DC power and a voltage value of an output power when a switching frequency of the semiconductor element is changed.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、直流電力を交流電力に変換する電力変換装置に関する。 The present invention relates to a power converter that converts DC power into AC power.

従来、太陽電池で発電された直流電力を交流電力に変換する電力変換装置には、複数の太陽電池モジュールを並列接続するために複数の入力回路を有し、さらに、複数の入力回路毎に昇圧回路を有するものがある。特許文献1には、太陽光発電用の電力変換装置が、複数の入力回路毎に昇圧回路を有し、入力回路毎に独立して最大電力点追従させる制御(以下、MPPT(Maximum Power Point Tracking)制御とする。)を実施することで、よく多くの電力を太陽電池から取り出し、太陽光発電のシステム効率を向上させる技術が開示されている。 Conventionally, a power converter that converts DC power generated by a solar cell into AC power has a plurality of input circuits for connecting a plurality of solar cell modules in parallel, and further boosts each input circuit. Some have circuits. In Patent Document 1, a power conversion device for photovoltaic power generation has a booster circuit for each of a plurality of input circuits, and control for independently tracking the maximum power point for each input circuit (hereinafter, MPPT (Maximum Power Point Tracking). ) Is carried out), a large amount of electric power is often taken out from the solar cell to improve the system efficiency of solar power generation.

特開平11−318042号公報JP, 11-318042, A

しかしながら、特許文献1に記載の電力変換装置は、ある昇圧回路で整流用のダイオードが短絡故障した場合、ダイオードが短絡故障した昇圧回路以外の昇圧回路に接続された太陽電池モジュールから、ダイオードが短絡故障した昇圧回路に接続された太陽電池モジュールに電流が逆流する。この場合、電流が逆流してくる太陽電池モジュールが故障してしまう可能性がある、という問題があった。 However, in the power conversion device described in Patent Document 1, when a diode for rectification has a short circuit failure in a certain booster circuit, the diode is short-circuited from a solar cell module connected to a booster circuit other than the booster circuit in which the diode has a short circuit failure. Current flows backward to the solar cell module connected to the failed booster circuit. In this case, there is a problem that the solar cell module in which the current flows backward may break down.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、複数の昇圧回路を備え、昇圧回路でダイオードが故障した場合に、外部直流電源に電流が逆流することを防止可能な電力変換装置を得ることを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and provides a power conversion device that includes a plurality of boosting circuits and can prevent reverse current from flowing to an external DC power supply when a diode fails in the boosting circuit. The purpose is to

上述した課題を解決し、目的を達成するために、各々が電圧変換用の半導体素子および整流用の整流素子を有し、外部直流電源から出力される直流電力の電圧値を変換して出力する複数の昇圧回路と、複数の昇圧回路から出力される出力電力の電圧値を制御する制御回路と、を備える。制御回路は、各昇圧回路において、半導体素子のスイッチング周波数を変化させた際の、直流電力の電圧値と出力電力の電圧値とを用いて、整流素子の故障を検出する、ことを特徴とする。 In order to solve the above problems and achieve the object, each has a semiconductor element for voltage conversion and a rectifying element for rectification, and converts and outputs a voltage value of DC power output from an external DC power supply. A plurality of booster circuits and a control circuit that controls the voltage value of the output power output from the plurality of booster circuits are provided. The control circuit is configured to detect a failure of the rectifying element by using the voltage value of the DC power and the voltage value of the output power when the switching frequency of the semiconductor element is changed in each booster circuit. ..

本発明によれば、電力変換装置は、複数の昇圧回路を備え、昇圧回路でダイオードが故障した場合に、外部直流電源に電流が逆流することを防止できる、という効果を奏する。 Advantageous Effects of Invention According to the present invention, the power conversion device includes a plurality of boosting circuits, and has the effect of preventing current from flowing back to the external DC power supply when a diode fails in the boosting circuit.

パワーコンディショナの構成例を示す図Diagram showing a configuration example of the inverter パワーコンディショナの制御回路が、昇圧回路の昇圧回路用ダイオードが短絡故障した場合において、後述する逆流防止の処理を仮に実施しなかったときにパワーコンディショナに流れる電流のイメージを示す図The figure which shows the image of the electric current which flows into the power conditioner when the control circuit of the power conditioner does not carry out the processing of the backflow prevention mentioned later, when the diode for the booster circuit of the voltage booster has a short circuit failure. 制御回路が実施する昇圧回路用ダイオード5−1の故障検知の例を示すフローチャートThe flowchart which shows the example of the failure detection of the diode 5-1 for boost circuits which a control circuit implements. 制御回路が実施する昇圧回路用ダイオード5−2の故障検知の例を示すフローチャートThe flowchart which shows the example of the failure detection of the diode 5-2 for boost circuits which a control circuit implements. 制御回路が実施する昇圧回路用ダイオード5−3の故障検知の例を示すフローチャートThe flowchart which shows the example of the failure detection of the diode 5-3 for boost circuits which a control circuit implements. 制御回路が実施する逆流防止の処理の例を示すフローチャートFlowchart showing an example of backflow prevention processing executed by the control circuit パワーコンディショナの制御回路が、昇圧回路の昇圧回路用ダイオードが短絡故障した場合において、逆流防止の処理を実施したときにパワーコンディショナに流れる電流を示す図The figure which shows the electric current which flows into the power conditioner when the control circuit of the power conditioner performs the backflow prevention process when the booster circuit diode of the booster circuit has a short circuit failure パワーコンディショナが備える処理回路をプロセッサおよびメモリで構成する場合の例を示す図The figure which shows the example at the time of comprising the processing circuit with which a power conditioner is equipped with a processor and memory. パワーコンディショナが備える処理回路を専用のハードウェアで構成する場合の例を示す図The figure which shows the example when the processing circuit which the power conditioner has is constituted with the exclusive hardware

以下に、本発明の実施の形態に係る電力変換装置を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。 Hereinafter, a power conversion device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to this embodiment.

実施の形態.
図1は、本発明の実施の形態に係るパワーコンディショナ15の構成例を示す図である。パワーコンディショナ15は、太陽電池モジュール1−1,1−2,1−3で発電された直流電力を交流電力に変換し、系統10に出力する。パワーコンディショナ15は、MPPT制御を実施する電力変換装置である。太陽電池モジュール1−1,1−2,1−3は、パワーコンディショナ15に接続される外部直流電源の一例である。パワーコンディショナ15に接続される外部直流電源は、太陽電池モジュール1−1,1−2,1−3に限定されない。パワーコンディショナ15は、昇圧回路16−1,16−2,16−3と、インバータ回路7と、フィルタ回路8と、スイッチ回路9と、電圧センサ11−1,11−2,11−3と、電圧センサ12と、制御回路13と、電源回路14と、を備える。
Embodiment.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a power conditioner 15 according to the embodiment of the present invention. The power conditioner 15 converts the DC power generated by the solar cell modules 1-1, 1-2, 1-3 into AC power and outputs the AC power to the grid 10. The power conditioner 15 is a power conversion device that performs MPPT control. The solar cell modules 1-1, 1-2, 1-3 are examples of external DC power supplies connected to the power conditioner 15. The external DC power source connected to the power conditioner 15 is not limited to the solar cell modules 1-1, 1-2, 1-3. The power conditioner 15 includes booster circuits 16-1, 16-2, 16-3, an inverter circuit 7, a filter circuit 8, a switch circuit 9, and voltage sensors 11-1, 11-2, 11-3. A voltage sensor 12, a control circuit 13, and a power supply circuit 14 are provided.

電圧センサ11−1は、太陽電池モジュール1−1から出力される直流電力の電圧値を計測する。電圧センサ11−2は、太陽電池モジュール1−2から出力される直流電力の電圧値を計測する。電圧センサ11−3は、太陽電池モジュール1−3から出力される直流電力の電圧値を計測する。電圧センサ12は、昇圧回路16−1〜16−3からインバータ回路7に出力される出力電力の電圧値を計測する。出力電力の電圧値は、パワーコンディショナ15におけるインバータ母線電圧の電圧値ともいう。制御回路13は、昇圧回路用半導体素子4−1〜4−3のスイッチ処理を制御し、昇圧回路16−1〜16−3から出力されるインバータ母線電圧の電圧値を制御する。 The voltage sensor 11-1 measures the voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-1. The voltage sensor 11-2 measures the voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-2. The voltage sensor 11-3 measures the voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-3. The voltage sensor 12 measures the voltage value of the output power output from the booster circuits 16-1 to 16-3 to the inverter circuit 7. The voltage value of the output power is also referred to as the voltage value of the inverter bus voltage in the power conditioner 15. The control circuit 13 controls the switching process of the booster circuit semiconductor elements 4-1 to 4-3, and controls the voltage value of the inverter bus voltage output from the booster circuits 16-1 to 16-3.

昇圧回路16−1〜16−3は、外部直流電源である太陽電池モジュール1−1〜1−3から出力される直流電力の電圧値を変換して出力する。昇圧回路16−1は、太陽電池モジュール1−1から出力される直流電力を平滑する平滑回路2−1と、昇圧回路用リアクトル3−1と、昇圧回路用半導体素子4−1と、昇圧回路用ダイオード5−1と、昇圧回路用半導体素子4−1および昇圧回路用ダイオード5−1通過後の直流電力を平滑する平滑回路6−1と、を備える。昇圧回路16−2は、太陽電池モジュール1−2から出力される直流電力を平滑する平滑回路2−2と、昇圧回路用リアクトル3−2と、昇圧回路用半導体素子4−2と、昇圧回路用ダイオード5−2と、昇圧回路用半導体素子4−2および昇圧回路用ダイオード5−2通過後の直流電力を平滑する平滑回路6−2と、を備える。昇圧回路16−3は、太陽電池モジュール1−3から出力される直流電力を平滑する平滑回路2−3と、昇圧回路用リアクトル3−3と、昇圧回路用半導体素子4−3と、昇圧回路用ダイオード5−3と、昇圧回路用半導体素子4−3および昇圧回路用ダイオード5−3通過後の直流電力を平滑する平滑回路6−3と、を備える。 The booster circuits 16-1 to 16-3 convert the voltage value of the DC power output from the solar cell modules 1-1 to 1-3, which are external DC power supplies, and output it. The booster circuit 16-1 includes a smoothing circuit 2-1 that smoothes DC power output from the solar cell module 1-1, a booster circuit reactor 3-1, a booster circuit semiconductor element 4-1, and a booster circuit. And a smoothing circuit 6-1 for smoothing the DC power after passing through the booster circuit semiconductor element 4-1 and the booster circuit diode 5-1. The booster circuit 16-2 includes a smoothing circuit 2-2 that smoothes the DC power output from the solar cell module 1-2, a booster circuit reactor 3-2, a booster circuit semiconductor element 4-2, and a booster circuit. Diode 5-2, a booster circuit semiconductor element 4-2, and a smoothing circuit 6-2 that smoothes DC power that has passed through the booster circuit diode 5-2. The booster circuit 16-3 includes a smoothing circuit 2-3 for smoothing DC power output from the solar cell module 1-3, a booster circuit reactor 3-3, a booster circuit semiconductor element 4-3, and a booster circuit. Diode 5-3, boosting circuit semiconductor element 4-3, and smoothing circuit 6-3 that smoothes DC power after passing through the boosting circuit diode 5-3.

昇圧回路用半導体素子4−1〜4−3は、電圧変換用の半導体素子である。昇圧回路用半導体素子4−1〜4−3は、例えば、トランジスタ、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)などの半導体素子で構成され、制御回路13からのスイッチング信号により、高速でスイッチ処理を行う。昇圧回路用ダイオード5−1〜5−3は、整流用の整流素子である。 The booster circuit semiconductor elements 4-1 to 4-3 are voltage conversion semiconductor elements. The booster circuit semiconductor elements 4-1 to 4-3 are configured by semiconductor elements such as transistors and MOSFETs (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistors), and perform switching processing at high speed by a switching signal from the control circuit 13. .. The booster circuit diodes 5-1 to 5-3 are rectifying elements for rectification.

インバータ母線電圧は、電源回路14に入力される。電源回路14は、インバータ母線電圧を用いて制御回路13に供給する電源電圧を生成し、生成した電源電圧を制御回路13に供給する。 The inverter bus voltage is input to the power supply circuit 14. The power supply circuit 14 uses the inverter bus voltage to generate a power supply voltage to be supplied to the control circuit 13, and supplies the generated power supply voltage to the control circuit 13.

電圧センサ11−1で計測された太陽電池モジュール1−1から出力される直流電力の電圧値、電圧センサ11−2で計測された太陽電池モジュール1−2から出力される直流電力の電圧値、電圧センサ11−3で計測された太陽電池モジュール1−3から出力される直流電力の電圧値、および電圧センサ12で計測されたインバータ母線電圧の電圧値は、制御回路13に入力される。制御回路13は、各電圧値に基づいて、昇圧回路用半導体素子4−1〜4−3を制御するデューティ比を決定する。制御回路13は、決定したデューティ比に基づいて昇圧回路用半導体素子4−1〜4−3のスイッチ処理を制御するスイッチング信号を生成し、生成したスイッチング信号を昇圧回路用半導体素子4−1〜4−3に出力する。 The voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-1 measured by the voltage sensor 11-1, the voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-2 measured by the voltage sensor 11-2, The voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-3 measured by the voltage sensor 11-3 and the voltage value of the inverter bus voltage measured by the voltage sensor 12 are input to the control circuit 13. The control circuit 13 determines the duty ratio for controlling the booster circuit semiconductor elements 4-1 to 4-3 based on each voltage value. The control circuit 13 generates a switching signal for controlling the switching process of the booster circuit semiconductor elements 4-1 to 4-3 based on the determined duty ratio, and the generated switching signal is used as the booster circuit semiconductor elements 4-1 to 4-1. Output to 4-3.

以降の説明において、太陽電池モジュール1−1〜1−3を区別しない場合は太陽電池モジュール1と称し、平滑回路2−1〜2−3を区別しない場合は平滑回路2と称し、昇圧回路用リアクトル3−1〜3−3を区別しない場合は昇圧回路用リアクトル3と称し、昇圧回路用半導体素子4−1〜4−3を区別しない場合は昇圧回路用半導体素子4と称することがある。同様に、以降の説明において、昇圧回路用ダイオード5−1〜5−3を区別しない場合は昇圧回路用ダイオード5と称し、平滑回路6−1〜6−3を区別しない場合は平滑回路6と称し、電圧センサ11−1〜11−3を区別しない場合は電圧センサ11と称し、昇圧回路16−1〜16−3を区別しない場合は昇圧回路16と称することがある。 In the following description, when the solar cell modules 1-1 to 1-3 are not distinguished, they are referred to as the solar cell module 1, and when the smoothing circuits 2-1 to 2-3 are not distinguished, they are referred to as the smoothing circuit 2 for the booster circuit. When the reactors 3-1 to 3-3 are not distinguished, they may be referred to as the booster circuit reactor 3, and when the booster circuit semiconductor elements 4-1 to 4-3 are not distinguished, they may be referred to as the booster circuit semiconductor element 4. Similarly, in the following description, when the booster circuit diodes 5-1 to 5-3 are not distinguished, they are referred to as the booster circuit diode 5, and when the smoothing circuits 6-1 to 6-3 are not distinguished, they are referred to as the smoothing circuit 6. The voltage sensors 11-1 to 11-3 may be referred to as the voltage sensor 11 when they are not distinguished, and the booster circuits 16-1 to 16-3 may be referred to as the booster circuit 16 when they are not distinguished.

つづいて、パワーコンディショナ15において、ある昇圧回路16で昇圧回路用ダイオード5が短絡故障した場合に、制御回路13が、太陽電池モジュール1への電流の逆流を防止する動作について説明する。一例として、昇圧回路16−1の昇圧回路用ダイオード5−1が短絡故障した場合について説明する。図2は、本実施の形態に係るパワーコンディショナ15の制御回路13が、昇圧回路16−1の昇圧回路用ダイオード5−1が短絡故障した場合において、後述する逆流防止の処理を仮に実施しなかったときにパワーコンディショナ15に流れる電流のイメージを示す図である。昇圧回路16−1の昇圧回路用ダイオード5−1が短絡故障し、「太陽電池モジュール1−1から出力される直流電力の電圧値<太陽電池モジュール1−2から出力される直流電力の電圧値」であった場合、太陽電池モジュール1−2から出力される電流が太陽電池モジュール1−1に流れ込み、太陽電池モジュール1−1が故障する可能性がある。また、昇圧回路16−1の昇圧回路用ダイオード5−1が短絡故障し、「太陽電池モジュール1−1から出力される直流電力の電圧値<太陽電池モジュール1−3から出力される直流電力の電圧値」であった場合、太陽電池モジュール1−3から出力される電流が太陽電池モジュール1−1に流れ込み、太陽電池モジュール1−1が故障する可能性がある。 Next, in the power conditioner 15, the operation of the control circuit 13 for preventing the backflow of the current to the solar cell module 1 when the booster circuit diode 5 is short-circuited in a certain booster circuit 16 will be described. As an example, a case where the booster circuit diode 5-1 of the booster circuit 16-1 has a short circuit fault will be described. FIG. 2 shows that the control circuit 13 of the power conditioner 15 according to the present embodiment temporarily performs a backflow prevention process described later when the booster circuit diode 5-1 of the booster circuit 16-1 has a short circuit failure. It is a figure which shows the image of the electric current which flows into the power conditioner 15 when it did not exist. The step-up circuit diode 5-1 of the step-up circuit 16-1 has a short-circuit fault, and "the voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-1 <the voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-2." In the case of “,” the current output from the solar cell module 1-2 may flow into the solar cell module 1-1, and the solar cell module 1-1 may fail. In addition, the booster circuit diode 5-1 of the booster circuit 16-1 has a short circuit failure, and "the voltage value of the DC power output from the solar cell module 1-1 <the DC power output from the solar cell module 1-3 In the case of “voltage value”, the current output from the solar cell module 1-3 may flow into the solar cell module 1-1, and the solar cell module 1-1 may fail.

そのため、本実施の形態では、制御回路13は、いずれかの昇圧回路16の昇圧回路用ダイオード5で短絡故障が発生しているか否かを判定する故障検知を実施する。制御回路13は、いずれかの昇圧回路16の昇圧回路用ダイオード5で短絡故障が発生していると判定した場合、逆流防止の処理を実施する。逆流防止の処理とは、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障していない昇圧回路16に接続される太陽電池モジュール1から、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障している昇圧回路16に接続される太陽電池モジュール1に、電流が逆流しないようにするための処理である。以降の説明において、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障している昇圧回路16を第1の昇圧回路と称し、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障していない昇圧回路16を第2の昇圧回路と称することがある。 Therefore, in the present embodiment, the control circuit 13 performs failure detection to determine whether or not a short-circuit failure has occurred in the booster circuit diode 5 of any of the booster circuits 16. When the control circuit 13 determines that a short-circuit fault has occurred in the booster circuit diode 5 of one of the booster circuits 16, the control circuit 13 performs the backflow prevention process. The backflow prevention process means that the solar cell module 1 connected to the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 does not have a short circuit failure is connected to the solar cell module 1 connected to the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has a short circuit failure. This is a process for preventing current from flowing back to the battery module 1. In the following description, the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has a short-circuit fault is referred to as a first booster circuit, and the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has no short-circuit fault is referred to as a second booster circuit. Sometimes.

図3は、本実施の形態に係る制御回路13が実施する昇圧回路用ダイオード5−1の故障検知の例を示すフローチャートである。図4は、本実施の形態に係る制御回路13が実施する昇圧回路用ダイオード5−2の故障検知の例を示すフローチャートである。図5は、本実施の形態に係る制御回路13が実施する昇圧回路用ダイオード5−3の故障検知の例を示すフローチャートである。また、図6は、本実施の形態に係る制御回路13が実施する逆流防止の処理の例を示すフローチャートである。制御回路13は、パワーコンディショナ15を起動する前に、例えば、図3→図4→図5→図6の順番で各フローチャートの処理を実施する。 FIG. 3 is a flowchart showing an example of failure detection of the booster circuit diode 5-1 which is executed by the control circuit 13 according to the present embodiment. FIG. 4 is a flowchart showing an example of failure detection of the booster circuit diode 5-2 performed by the control circuit 13 according to the present embodiment. FIG. 5 is a flowchart showing an example of failure detection of the booster circuit diode 5-3 performed by the control circuit 13 according to the present embodiment. Further, FIG. 6 is a flowchart showing an example of the backflow prevention processing executed by the control circuit 13 according to the present embodiment. Before activating the power conditioner 15, the control circuit 13 executes the processing of each flowchart in the order of, for example, FIG. 3→FIG. 4→FIG. 5→FIG.

まず、制御回路13は、図3に示すフローチャートにおいて、昇圧回路16−2の昇圧回路用半導体素子4−2のデューティ比を100%にし、昇圧回路16−3の昇圧回路用半導体素子4−3のデューティ比を100%にする(ステップST11)。制御回路13は、昇圧回路16−1の昇圧回路用半導体素子4−1をデューティ比T1にして昇圧する(ステップST12)。制御回路13は、インバータ母線電圧を計測する電圧センサ12で計測された電圧値Viiと、昇圧回路16−1に接続される太陽電池モジュール1−1から出力される直流電力の電圧を計測する電圧センサ11−1で計測された電圧値Vs1とが、下記の式(1)の関係を満たすか否かを判定する(ステップST13)。 First, in the flow chart shown in FIG. 3, the control circuit 13 sets the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4-2 of the booster circuit 16-2 to 100% and sets the booster circuit semiconductor element 4-3 of the booster circuit 16-3 to 4%. The duty ratio of is set to 100% (step ST11). The control circuit 13 boosts the booster circuit semiconductor element 4-1 of the booster circuit 16-1 with the duty ratio T1 (step ST12). The control circuit 13 measures the voltage value Vii measured by the voltage sensor 12 that measures the inverter bus voltage and the voltage that measures the voltage of the DC power output from the solar cell module 1-1 connected to the booster circuit 16-1. It is determined whether or not the voltage value Vs1 measured by the sensor 11-1 satisfies the relationship of the following expression (1) (step ST13).

Vii=Vs1/(1−T1) …(1) Vii=Vs1/(1-T1) (1)

ここで、デューティ比T1は、0%または100%の場合は昇圧回路用ダイオード5−1が故障していても式(1)を満たす可能性があるため、10%〜90%にする。式(1)にあてはめる場合はT1=0.1〜0.9の範囲となる。また、平滑回路6−1の耐圧を超えないように、デューティ比T1を設定する。例えば、通常動作で電圧値Viiが350Vになるようにデューティ比T1が設定されているのであれば、図3に示すフローチャートの処理を実施するときも同様に、電圧値Viiが350Vになるようデューティ比T1を設定する。なお、電圧値Vs1が350V以上の場合はデューティ比T1を10%にする。 Here, when the duty ratio T1 is 0% or 100%, the formula (1) may be satisfied even if the booster circuit diode 5-1 fails, so the duty ratio T1 is set to 10% to 90%. When applying to the formula (1), T1=0.1 to 0.9. Further, the duty ratio T1 is set so as not to exceed the breakdown voltage of the smoothing circuit 6-1. For example, if the duty ratio T1 is set so that the voltage value Vii becomes 350V in the normal operation, when the processing of the flowchart shown in FIG. Set the ratio T1. When the voltage value Vs1 is 350 V or more, the duty ratio T1 is set to 10%.

制御回路13は、Vii=Vs1/(1−T1)の場合(ステップST13:Yes)、昇圧回路用ダイオード5−1は正常と判定する(ステップST14)。制御回路13は、例えば、後述する図6に示すフローチャートの処理に従ってパワーコンディショナ15を起動する。一方、制御回路13は、Vii=Vs1/(1−T1)ではない場合(ステップST13:No)、昇圧回路用ダイオード5−1は異常すなわち故障していると判定する(ステップST15)。制御回路13は、例えば、後述する図6に示すフローチャートの処理に従って太陽電池モジュール1−1に電流が逆流することを防止する処理を実施する。 When Vii=Vs1/(1-T1) (step ST13: Yes), the control circuit 13 determines that the booster circuit diode 5-1 is normal (step ST14). The control circuit 13 activates the power conditioner 15 in accordance with, for example, the process of the flowchart shown in FIG. 6 described later. On the other hand, when Vii=Vs1/(1-T1) is not satisfied (step ST13: No), the control circuit 13 determines that the booster circuit diode 5-1 is abnormal, that is, has a failure (step ST15). The control circuit 13 performs a process of preventing a current from flowing back to the solar cell module 1-1, for example, according to a process of a flowchart shown in FIG. 6 described later.

つぎに、制御回路13は、図4に示すフローチャートにおいて、昇圧回路16−1の昇圧回路用半導体素子4−1のデューティ比を100%にし、昇圧回路16−3の昇圧回路用半導体素子4−3のデューティ比を100%にする(ステップST21)。制御回路13は、昇圧回路16−2の昇圧回路用半導体素子4−2をデューティ比T2にして昇圧する(ステップST22)。制御回路13は、インバータ母線電圧を計測する電圧センサ12で計測された電圧値Viiと、昇圧回路16−2に接続される太陽電池モジュール1−2から出力される直流電力の電圧を計測する電圧センサ11−2で計測された電圧値Vs2とが、下記の式(2)の関係を満たすか否かを判定する(ステップST23)。なお、デューティ比T2の設定方法については、前述のデューティ比T1の場合と同様とする。 Next, in the flowchart shown in FIG. 4, the control circuit 13 sets the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4-1 of the booster circuit 16-1 to 100% and sets the booster circuit semiconductor element 4- of the booster circuit 16-3 to 4-%. The duty ratio of No. 3 is set to 100% (step ST21). The control circuit 13 boosts the booster circuit semiconductor element 4-2 of the booster circuit 16-2 with the duty ratio T2 (step ST22). The control circuit 13 measures the voltage value Vii measured by the voltage sensor 12 that measures the inverter bus voltage and the voltage that measures the voltage of the DC power output from the solar cell module 1-2 connected to the booster circuit 16-2. It is determined whether or not the voltage value Vs2 measured by the sensor 11-2 satisfies the relationship of the following expression (2) (step ST23). The method of setting the duty ratio T2 is the same as the case of the duty ratio T1 described above.

Vii=Vs2/(1−T2) …(2) Vii=Vs2/(1-T2) (2)

制御回路13は、Vii=Vs2/(1−T2)の場合(ステップST23:Yes)、昇圧回路用ダイオード5−2は正常と判定する(ステップST24)。制御回路13は、例えば、後述する図6に示すフローチャートの処理に従ってパワーコンディショナ15を起動する。一方、制御回路13は、Vii=Vs2/(1−T2)ではない場合(ステップST23:No)、昇圧回路用ダイオード5−2は異常すなわち故障していると判定する(ステップST25)。制御回路13は、例えば、後述する図6に示すフローチャートの処理に従って太陽電池モジュール1−2に電流が逆流することを防止する処理を実施する。 When Vii=Vs2/(1-T2) (step ST23: Yes), the control circuit 13 determines that the booster circuit diode 5-2 is normal (step ST24). The control circuit 13 activates the power conditioner 15 in accordance with, for example, the process of the flowchart shown in FIG. 6 described later. On the other hand, when Vii=Vs2/(1-T2) is not satisfied (step ST23: No), the control circuit 13 determines that the booster circuit diode 5-2 is abnormal, that is, malfunctions (step ST25). The control circuit 13 performs a process of preventing a current from flowing backward to the solar cell module 1-2, for example, according to a process of a flowchart shown in FIG. 6 described later.

つぎに、制御回路13は、図5に示すフローチャートにおいて、昇圧回路16−1の昇圧回路用半導体素子4−1のデューティ比を100%にし、昇圧回路16−2の昇圧回路用半導体素子4−2のデューティ比を100%にする(ステップST31)。制御回路13は、昇圧回路16−3の昇圧回路用半導体素子4−3をデューティ比T3にして昇圧する(ステップST32)。制御回路13は、インバータ母線電圧を計測する電圧センサ12で計測された電圧値Viiと、昇圧回路16−3に接続される太陽電池モジュール1−3から出力される直流電力の電圧を計測する電圧センサ11−3で計測された電圧値Vs3とが、下記の式(3)の関係を満たすか否かを判定する(ステップST33)。なお、デューティ比T3の設定方法については、前述のデューティ比T1の場合と同様とする。 Next, in the flowchart shown in FIG. 5, the control circuit 13 sets the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4-1 of the booster circuit 16-1 to 100% and sets the booster circuit semiconductor element 4- of the booster circuit 16-2 to 4-%. The duty ratio of 2 is set to 100% (step ST31). The control circuit 13 boosts the booster circuit semiconductor element 4-3 of the booster circuit 16-3 with the duty ratio T3 (step ST32). The control circuit 13 measures the voltage value Vii measured by the voltage sensor 12 that measures the inverter bus voltage and the voltage that measures the voltage of the DC power output from the solar cell module 1-3 connected to the booster circuit 16-3. It is determined whether or not the voltage value Vs3 measured by the sensor 11-3 satisfies the relationship of the following expression (3) (step ST33). The setting method of the duty ratio T3 is the same as that of the above-mentioned duty ratio T1.

Vii=Vs3/(1−T3) …(3) Vii=Vs3/(1-T3) (3)

制御回路13は、Vii=Vs3/(1−T3)の場合(ステップST33:Yes)、昇圧回路用ダイオード5−3は正常と判定する(ステップST34)。制御回路13は、例えば、後述する図6に示すフローチャートの処理に従ってパワーコンディショナ15を起動する。一方、制御回路13は、Vii=Vs3/(1−T3)ではない場合(ステップST33:No)、昇圧回路用ダイオード5−3は異常すなわち故障していると判定する(ステップST35)。制御回路13は、例えば、後述する図6に示すフローチャートの処理に従って太陽電池モジュール1−3に電流が逆流することを防止する処理を実施する。 When Vii=Vs3/(1-T3) (step ST33: Yes), the control circuit 13 determines that the booster circuit diode 5-3 is normal (step ST34). The control circuit 13 activates the power conditioner 15 in accordance with, for example, the process of the flowchart shown in FIG. 6 described later. On the other hand, when Vii=Vs3/(1-T3) is not satisfied (step ST33: No), the control circuit 13 determines that the booster circuit diode 5-3 is abnormal, that is, malfunctions (step ST35). The control circuit 13 performs a process of preventing a current from flowing backward to the solar cell module 1-3, for example, according to a process of a flowchart shown in FIG. 6 described later.

このように、制御回路13は、各昇圧回路16において、昇圧回路用半導体素子4のスイッチング周波数を変化させた際の、太陽電池モジュール1からの直流電力の電圧値と昇圧回路16からの出力電力の電圧値とを用いて、昇圧回路用ダイオード5の故障を検出する。具体的には、制御回路13は、各昇圧回路16において、昇圧回路用半導体素子4を規定されたデューティ比でオンさせた際の、太陽電池モジュール1からの直流電力の電圧値と昇圧回路16からの出力電力の電圧値との関係に基づいて、昇圧回路用ダイオード5の故障を検出する。制御回路13は、昇圧回路16が正常に働いているかどうかを確認することで、昇圧回路用ダイオード5の故障を検出することができる。 As described above, the control circuit 13 controls the voltage value of the DC power from the solar cell module 1 and the output power from the booster circuit 16 when the switching frequency of the booster circuit semiconductor element 4 is changed in each booster circuit 16. And the voltage value of 1 are used to detect the failure of the booster circuit diode 5. Specifically, the control circuit 13 sets the voltage value of the DC power from the solar cell module 1 and the booster circuit 16 when the booster circuit semiconductor element 4 is turned on at a prescribed duty ratio in each booster circuit 16. The failure of the booster circuit diode 5 is detected on the basis of the relationship between the output power from the device and the voltage value. The control circuit 13 can detect the failure of the booster circuit diode 5 by confirming whether the booster circuit 16 is operating normally.

制御回路13は、図3から図5に示す昇圧回路用ダイオード5の故障検知の処理を実施し、昇圧回路用ダイオード5が故障している昇圧回路16があった場合、昇圧回路用ダイオード5が故障していない昇圧回路16の昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を100%にし、昇圧回路用ダイオード5が故障している昇圧回路16の昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を0%にする。制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5が故障していない昇圧回路16の昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を100%にしてオンすることで、昇圧回路用ダイオード5が故障していない昇圧回路16に接続されている太陽電池モジュール1を短絡させる。これにより、制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5が故障していない昇圧回路16から他の昇圧回路16に電流が流れることを防止することができる。 The control circuit 13 executes the process of detecting the failure of the booster circuit diode 5 shown in FIGS. 3 to 5, and when there is the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has a failure, the booster circuit diode 5 is detected. The duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4 of the booster circuit 16 which has not failed is set to 100%, and the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4 of the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has failed is set to 0%. .. The control circuit 13 turns on by setting the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4 of the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has not failed to 100% to turn it on, so that the booster circuit diode 5 has no failure. The solar cell module 1 connected to 16 is short-circuited. As a result, the control circuit 13 can prevent current from flowing from the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has not failed to another booster circuit 16.

制御回路13は、図6に示すフローチャートにおいて、昇圧回路16−1の昇圧回路用ダイオード5−1が故障であった場合(ステップST41:No)、昇圧回路16−2の昇圧回路用半導体素子4−2のデューティ比を100%にし、昇圧回路16−3の昇圧回路用半導体素子4−3のデューティ比を100%にする(ステップST42)。 In the flowchart shown in FIG. 6, when the booster circuit diode 5-1 of the booster circuit 16-1 is defective (step ST41: No), the control circuit 13 includes the booster circuit semiconductor element 4 of the booster circuit 16-2. The duty ratio of -2 is set to 100%, and the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4-3 of the booster circuit 16-3 is set to 100% (step ST42).

制御回路13は、昇圧回路16−1の昇圧回路用ダイオード5−1が正常であり(ステップST41:Yes)、昇圧回路16−2の昇圧回路用ダイオード5−2が故障であった場合(ステップST43:No)、昇圧回路16−1の昇圧回路用半導体素子4−1のデューティ比を100%にし、昇圧回路16−3の昇圧回路用半導体素子4−3のデューティ比を100%にする(ステップST44)。 The control circuit 13 determines that the step-up circuit diode 5-1 of the step-up circuit 16-1 is normal (step ST41: Yes) and the step-up circuit diode 5-2 of the step-up circuit 16-2 is defective (step ST41: Yes). (ST43: No), the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4-1 of the booster circuit 16-1 is set to 100%, and the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4-3 of the booster circuit 16-3 is set to 100% ( Step ST44).

制御回路13は、昇圧回路16−2の昇圧回路用ダイオード5−2が正常であり(ステップST43:Yes)、昇圧回路16−3の昇圧回路用ダイオード5−3が故障であった場合(ステップST45:No)、昇圧回路16−1の昇圧回路用半導体素子4−1のデューティ比を100%にし、昇圧回路16−2の昇圧回路用半導体素子4−2のデューティ比を100%にする(ステップST46)。 The control circuit 13 determines that the booster circuit diode 5-2 of the booster circuit 16-2 is normal (step ST43: Yes) and the booster circuit diode 5-3 of the booster circuit 16-3 is defective (step ST43: Yes). (ST45: No), the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4-1 of the booster circuit 16-1 is set to 100%, and the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4-2 of the booster circuit 16-2 is set to 100% ( Step ST46).

制御回路13は、昇圧回路16−3の昇圧回路用ダイオード5−3が正常の場合(ステップST45:Yes)、パワーコンディショナ15を起動する(ステップST47)。 When the booster circuit diode 5-3 of the booster circuit 16-3 is normal (step ST45: Yes), the control circuit 13 activates the power conditioner 15 (step ST47).

図7は、本実施の形態に係るパワーコンディショナ15の制御回路13が、昇圧回路16−1の昇圧回路用ダイオード5−1が短絡故障した場合において、逆流防止の処理を実施したときにパワーコンディショナ15に流れる電流を示す図である。制御回路13は、昇圧回路16−1の昇圧回路用ダイオード5−1が短絡故障した場合、昇圧回路16−2の昇圧回路用半導体素子4−2、および昇圧回路16−3の昇圧回路用半導体素子4−3をデューティ比100%でオンする。この場合、太陽電池モジュール1−2から出力される電流は、昇圧回路用リアクトル3−2、および昇圧回路用半導体素子4−2を通って、太陽電池モジュール1−2に戻る。これにより、制御回路13は、太陽電池モジュール1−2から太陽電池モジュール1−1に電流が流れることを防ぐことができる。同様に、太陽電池モジュール1−3から出力される電流は、昇圧回路用リアクトル3−3、および昇圧回路用半導体素子4−3を通って、太陽電池モジュール1−3に戻る。これにより、制御回路13は、太陽電池モジュール1−3から太陽電池モジュール1−1に電流が流れることを防ぐことができる。 FIG. 7 shows that when the control circuit 13 of the power conditioner 15 according to the present embodiment performs a backflow prevention process when the booster circuit diode 5-1 of the booster circuit 16-1 has a short circuit failure. 5 is a diagram showing a current flowing through the conditioner 15. FIG. When the booster circuit diode 5-1 of the booster circuit 16-1 has a short circuit failure, the control circuit 13 has a booster circuit semiconductor element 4-2 of the booster circuit 16-2 and a booster circuit semiconductor of the booster circuit 16-3. The element 4-3 is turned on with a duty ratio of 100%. In this case, the current output from the solar cell module 1-2 passes through the booster circuit reactor 3-2 and the booster circuit semiconductor element 4-2 and returns to the solar cell module 1-2. Thereby, the control circuit 13 can prevent a current from flowing from the solar cell module 1-2 to the solar cell module 1-1. Similarly, the current output from the solar cell module 1-3 returns to the solar cell module 1-3 through the booster circuit reactor 3-3 and the booster circuit semiconductor element 4-3. As a result, the control circuit 13 can prevent current from flowing from the solar cell module 1-3 to the solar cell module 1-1.

制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障した場合、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障した昇圧回路16の昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を0%にすることで、昇圧回路用半導体素子4を制御する制御回路13に電源電圧を出力する電源回路14に対して電源を供給することができる。図7の例では、電源回路14は、昇圧回路16−1を介して太陽電池モジュール1−1から供給される直流電力によって、制御回路13に出力する電源電圧を生成することができる。 When the booster circuit diode 5 has a short-circuit failure, the control circuit 13 sets the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4 of the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has a short-circuit failure to 0%, so that the booster circuit semiconductor Power can be supplied to the power supply circuit 14 that outputs the power supply voltage to the control circuit 13 that controls the element 4. In the example of FIG. 7, the power supply circuit 14 can generate the power supply voltage to be output to the control circuit 13 by the DC power supplied from the solar cell module 1-1 via the booster circuit 16-1.

このように、制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5の故障を検出した場合、昇圧回路用ダイオード5が故障している昇圧回路16から太陽電池モジュール1に電流が流れ込むことを防止するように、昇圧回路用ダイオード5が故障していない昇圧回路16を制御する。具体的には、制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5が故障していない昇圧回路16が有する昇圧回路用半導体素子4を短絡させる。また、制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5が故障している昇圧回路16が有する昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を0%にする。これにより、制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5が故障していない昇圧回路16に接続される太陽電池モジュール1からの電流を、他の昇圧回路16、すなわち昇圧回路用ダイオード5が故障している昇圧回路16に流れないようにすることができる。すなわち、制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5が故障している昇圧回路16に接続された太陽電池モジュール1に、電流が逆流することを防止することができる。 As described above, when the control circuit 13 detects a failure of the booster circuit diode 5, the control circuit 13 prevents the current from flowing into the solar cell module 1 from the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has a failure. It controls the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has not failed. Specifically, the control circuit 13 short-circuits the booster circuit semiconductor element 4 included in the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has not failed. Further, the control circuit 13 sets the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4 included in the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has a failure to 0%. As a result, the control circuit 13 causes the current from the solar cell module 1 connected to the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has not failed to cause another booster circuit 16, that is, the booster circuit diode 5 to fail. It is possible to prevent it from flowing to the boosting circuit 16 that is present. That is, the control circuit 13 can prevent the current from flowing backward to the solar cell module 1 connected to the booster circuit 16 in which the booster circuit diode 5 has failed.

なお、制御回路13は、図6に示すフローチャートの処理では、パワーコンディショナ15が備える昇圧回路16−1〜16−3のうち1つの昇圧回路16で昇圧回路用ダイオード5が短絡故障した場合を想定していたが、一例であり、これに限定されない。制御回路13は、例えば、図6に示すフローチャートにおいて、ステップST41,ST43,ST45の処理を連続して実施し、いずれかの昇圧回路16で昇圧回路用ダイオード5の短絡故障が検出された場合、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障している昇圧回路16の昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を0%にし、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障していない昇圧回路16の昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を100%にする。これにより、制御回路13は、複数の昇圧回路16で昇圧回路用ダイオード5が短絡故障した場合にも、太陽電池モジュール1に電流が逆流することを防止することができる。 In the process of the flowchart shown in FIG. 6, the control circuit 13 detects a case where the booster circuit diode 5 is short-circuited in one of the booster circuits 16-1 to 16-3 included in the power conditioner 15. Although assumed, this is an example and the present invention is not limited to this. For example, when the control circuit 13 continuously executes the processes of steps ST41, ST43, and ST45 in the flowchart shown in FIG. 6 and any one of the booster circuits 16 detects a short-circuit fault of the booster circuit diode 5, The booster circuit diode 5 has a short circuit failure. The duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4 of the booster circuit 16 is set to 0%, and the booster circuit diode 5 does not have a short circuit failure. To 100%. Accordingly, the control circuit 13 can prevent the current from flowing back to the solar cell module 1 even when the booster circuit diodes 5 in the plurality of booster circuits 16 have a short circuit failure.

つづいて、パワーコンディショナ15の構成について説明する。パワーコンディショナ15において、昇圧回路16、インバータ回路7、フィルタ回路8、スイッチ回路9、電圧センサ11、電圧センサ12、および電源回路14は、一般的な電力変換装置の回路構成により実現される。制御回路13は、処理回路によって実現される。処理回路は、メモリに格納されるプログラムを実行するプロセッサおよびメモリであってもよいし、専用のハードウェアであってもよい。 Next, the configuration of the power conditioner 15 will be described. In the power conditioner 15, the booster circuit 16, the inverter circuit 7, the filter circuit 8, the switch circuit 9, the voltage sensor 11, the voltage sensor 12, and the power supply circuit 14 are realized by the circuit configuration of a general power converter. The control circuit 13 is realized by a processing circuit. The processing circuit may be a processor and a memory that execute a program stored in the memory, or may be dedicated hardware.

図8は、本実施の形態に係るパワーコンディショナ15が備える処理回路をプロセッサおよびメモリで構成する場合の例を示す図である。処理回路がプロセッサ91およびメモリ92で構成される場合、処理回路の各機能は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせにより実現される。ソフトウェアまたはファームウェアはプログラムとして記述され、メモリ92に格納される。処理回路では、メモリ92に記憶されたプログラムをプロセッサ91が読み出して実行することにより、各機能を実現する。これらのプログラムは、制御回路13の手順および方法をコンピュータに実行させるものであるともいえる。 FIG. 8 is a diagram showing an example of a case where the processing circuit included in the power conditioner 15 according to the present embodiment is composed of a processor and a memory. When the processing circuit includes the processor 91 and the memory 92, each function of the processing circuit is realized by software, firmware, or a combination of software and firmware. The software or firmware is described as a program and stored in the memory 92. In the processing circuit, each function is realized by the processor 91 reading and executing the program stored in the memory 92. It can be said that these programs cause a computer to execute the procedure and method of the control circuit 13.

ここで、プロセッサ91は、CPU(Central Processing Unit)、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、またはDSP(Digital Signal Processor)などであってもよい。また、メモリ92には、例えば、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ、EPROM(Erasable Programmable ROM)、EEPROM(登録商標)(Electrically EPROM)などの、不揮発性または揮発性の半導体メモリ、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ミニディスク、またはDVD(Digital Versatile Disc)などが該当する。 Here, the processor 91 may be a CPU (Central Processing Unit), a processing device, an arithmetic device, a microprocessor, a microcomputer, a DSP (Digital Signal Processor), or the like. The memory 92 is non-volatile or volatile, such as RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), flash memory, EPROM (Erasable Programmable ROM), and EEPROM (registered trademark) (Electrically EPROM). The semiconductor memory, magnetic disk, flexible disk, optical disk, compact disk, mini disk, DVD (Digital Versatile Disc), etc.

図9は、本実施の形態に係るパワーコンディショナ15が備える処理回路を専用のハードウェアで構成する場合の例を示す図である。処理回路が専用のハードウェアで構成される場合、図9に示す処理回路93は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、FPGA(Field Programmable Gate Array)、またはこれらを組み合わせたものが該当する。制御回路13の各機能を機能別に処理回路93で実現してもよいし、各機能をまとめて処理回路93で実現してもよい。 FIG. 9 is a diagram showing an example in which the processing circuit included in the power conditioner 15 according to the present embodiment is configured by dedicated hardware. When the processing circuit is configured by dedicated hardware, the processing circuit 93 shown in FIG. 9 is, for example, a single circuit, a composite circuit, a programmed processor, a parallel programmed processor, an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), An FPGA (Field Programmable Gate Array) or a combination thereof is applicable. Each function of the control circuit 13 may be realized by the processing circuit 93 for each function, or each function may be collectively realized by the processing circuit 93.

なお、パワーコンディショナ15の制御回路13の各機能について、一部を専用のハードウェアで実現し、一部をソフトウェアまたはファームウェアで実現するようにしてもよい。このように、処理回路は、専用のハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、またはこれらの組み合わせによって、上述の各機能を実現することができる。 Note that each function of the control circuit 13 of the power conditioner 15 may be partially implemented by dedicated hardware and partially implemented by software or firmware. In this way, the processing circuit can realize each function described above by dedicated hardware, software, firmware, or a combination thereof.

以上説明したように、本実施の形態によれば、パワーコンディショナ15の制御回路13は、昇圧回路16において昇圧回路用ダイオード5が短絡故障しているか否かを判定し、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障している昇圧回路16が検出された場合、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障している昇圧回路16の昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を0%にし、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障していない昇圧回路16の昇圧回路用半導体素子4のデューティ比を100%にすることとした。これにより、制御回路13は、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障していない他の昇圧回路16に接続される太陽電池モジュール1から、昇圧回路用ダイオード5が短絡故障している昇圧回路16に接続される太陽電池モジュール1に電流が逆流することを防止することができる。 As described above, according to the present embodiment, the control circuit 13 of the power conditioner 15 determines whether or not the booster circuit diode 5 is short-circuited in the booster circuit 16, and the booster circuit diode 5 is determined. When the booster circuit 16 having a short circuit fault is detected, the duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4 of the booster circuit 5 having the short circuit fault in the booster circuit 5 is set to 0%, and the booster circuit diode 5 is The duty ratio of the booster circuit semiconductor element 4 of the booster circuit 16 which is not short-circuited is set to 100%. As a result, the control circuit 13 connects the solar cell module 1 that is connected to the other boosting circuit 16 in which the boosting circuit diode 5 does not have a short circuit failure to the boosting circuit 16 in which the boosting circuit diode 5 has a short circuit failure. It is possible to prevent the reverse flow of current to the solar cell module 1 to be carried out.

また、制御回路13は、昇圧回路16の昇圧回路用ダイオード5が短絡故障した場合において、太陽電池モジュール1が故障してしまう拡大被害を抑えることができる。パワーコンディショナ15では、一般的なパワーコンディショナ15の回路構成に対して部品を追加することなく、制御回路13は、太陽電池モジュール1に電流が逆流することを防止することができる。 Moreover, the control circuit 13 can suppress the expansion damage in which the solar cell module 1 fails when the booster circuit diode 5 of the booster circuit 16 has a short circuit failure. In the power conditioner 15, the control circuit 13 can prevent the current from flowing back to the solar cell module 1 without adding any component to the circuit configuration of the general power conditioner 15.

以上の実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。 The configurations described in the above embodiments are examples of the content of the present invention, and can be combined with another known technique, and the configurations of the configurations are not departing from the scope of the present invention. It is also possible to omit or change parts.

1−1〜1−3 太陽電池モジュール、2−1〜2−3,6−1〜6−3 平滑回路、3−1〜3−3 昇圧回路用リアクトル、4−1〜4−3 昇圧回路用半導体素子、5−1〜5−3 昇圧回路用ダイオード、7 インバータ回路、8 フィルタ回路、9 スイッチ回路、10 系統、11−1〜11−3,12 電圧センサ、13 制御回路、14 電源回路、15 パワーコンディショナ、16−1〜16−3 昇圧回路。 1-1 to 1-3 solar cell module, 2-1 to 2-3, 6-1 to 6-3 smoothing circuit, 3-1 to 3-3 booster reactor, 4-1 to 4-3 booster circuit Semiconductor element, 5-1 to 5-3 step-up circuit diode, 7 inverter circuit, 8 filter circuit, 9 switch circuit, 10 systems, 11-1 to 11-3, 12 voltage sensor, 13 control circuit, 14 power supply circuit , 15 power conditioner, 16-1 to 16-3 booster circuit.

Claims (5)

各々が電圧変換用の半導体素子および整流用の整流素子を有し、外部直流電源から出力される直流電力の電圧値を変換して出力する複数の昇圧回路と、
前記複数の昇圧回路から出力される出力電力の電圧値を制御する制御回路と、
を備え、
前記制御回路は、各昇圧回路において、前記半導体素子のスイッチング周波数を変化させた際の、前記直流電力の電圧値と前記出力電力の電圧値とを用いて、前記整流素子の故障を検出する、
ことを特徴とする電力変換装置。
A plurality of booster circuits each having a semiconductor element for voltage conversion and a rectifying element for rectification, converting a voltage value of DC power output from an external DC power source and outputting the converted voltage value,
A control circuit for controlling the voltage value of the output power output from the plurality of booster circuits;
Equipped with
The control circuit, in each step-up circuit, when changing the switching frequency of the semiconductor element, using the voltage value of the DC power and the voltage value of the output power, to detect the failure of the rectifying element,
A power converter characterized by the above.
前記制御回路は、前記整流素子の故障を検出した場合、整流素子が故障している第1の昇圧回路から前記外部直流電源に電流が流れ込むことを防止するように、整流素子が故障していない第2の昇圧回路を制御する、
ことを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。
When the control circuit detects a failure of the rectifying element, the rectifying element does not fail so as to prevent a current from flowing into the external DC power supply from the first step-up circuit in which the rectifying element has failed. Controlling the second booster circuit,
The power conversion device according to claim 1, wherein the power conversion device is a power conversion device.
前記制御回路は、前記第2の昇圧回路が有する半導体素子を短絡させる、
ことを特徴とする請求項2に記載の電力変換装置。
The control circuit short-circuits a semiconductor element included in the second booster circuit,
The power conversion device according to claim 2, wherein the power conversion device is a power conversion device.
さらに、前記出力電力を用いて前記制御回路に供給する電源電力を生成する電源回路、
を備え、
前記制御回路は、前記第1の昇圧回路が有する半導体素子のデューティ比を0%にする、
ことを特徴とする請求項2または3に記載の電力変換装置。
Furthermore, a power supply circuit that uses the output power to generate power supply power to be supplied to the control circuit,
Equipped with
The control circuit sets the duty ratio of the semiconductor element included in the first booster circuit to 0%.
The power conversion device according to claim 2 or 3, characterized in that.
前記制御回路は、各昇圧回路において、前記半導体素子を規定されたデューティ比でオンさせた際の、前記直流電力の電圧値と前記出力電力の電圧値との関係に基づいて、前記整流素子の故障を検出する、
ことを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の電力変換装置。
The control circuit, in each step-up circuit, based on the relationship between the voltage value of the DC power and the voltage value of the output power when the semiconductor element is turned on at a prescribed duty ratio, Detect failure,
The power conversion device according to claim 1, wherein the power conversion device is a power conversion device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2022230336A1 (en) 2021-04-29 2022-11-03 株式会社ソミックマネージメントホールディングス Direct action damper and steering device
CN117148123A (en) * 2023-10-31 2023-12-01 锦浪科技股份有限公司 Open circuit fault self-checking method, system and storage medium

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