JP2010237058A - Sensor device, and method for manufacturing the same - Google Patents

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Hajime Kobayashi
初 小林
Yuusuke Igarashi
優助 五十嵐
Toshimichi Naruse
俊道 成瀬
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sensor device to which a magnetometric sensor element is connected stably and electrically, and to provide a method for manufacturing the sensor device. <P>SOLUTION: The sensor device 10 includes a constitution mainly including a circuit board 12, sensor elements 14, 16, 18 arranged on the upper surface of the circuit board 12, and a sealing resin 32 for coating the sensor elements. The sensor element 14 and the sensor element 16 are provided with a sensor part 26 and a sensor part 28 respectively on each upper surface, and a connection pad provided on the upper surface is connected to a pad on the board via a metal thin wire 24. Meanwhile, in the sensor element 18, a connection pad 18A provided on the side face is connected to a thick post 35 arranged on the upper surface of the circuit board 12 via a solder 11. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明はセンサ装置およびその製造方法に関し、特に、複数個のセンサ素子を備えたセンサ装置およびその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a sensor device and a manufacturing method thereof, and more particularly to a sensor device including a plurality of sensor elements and a manufacturing method thereof.

例えば、3軸の電子方位計は、磁気センサなどを用いて電気的に方位を検出できる。そして一般的には、複数の磁気センサ素子を配置して電子方位計を構成する。この様に構成した磁気センサ素子は、磁気センサ素子の出力から得られるデータを演算することによって、基準として決めた方向からの角度、すなわち方位角を算出することができる。この方位角から得られる方位情報は、アナログ又はデジタルの電気信号として処理できるため、例えば携帯電話のような携帯情報端末や、腕時計、カーナビゲーション装置、航空機の姿勢検出、視覚障害者向けゲーム機など、種々の電子機器への応用が期待されている。   For example, a three-axis electronic azimuth meter can electrically detect the azimuth using a magnetic sensor or the like. In general, an electronic azimuth meter is configured by arranging a plurality of magnetic sensor elements. The magnetic sensor element configured as described above can calculate an angle from a direction determined as a reference, that is, an azimuth angle by calculating data obtained from the output of the magnetic sensor element. Since azimuth information obtained from this azimuth can be processed as an analog or digital electrical signal, for example, portable information terminals such as mobile phones, wristwatches, car navigation devices, attitude detection of aircraft, game machines for visually impaired people, etc. Application to various electronic devices is expected.

特に近年、GPS等を利用した携帯情報端末向けの位置情報提供サービスが始まっている。このサービスによれば、利用者は現在の位置情報を端末上の画面を見ながら判るようになっている。この端末に電子方位計を組み合わせることによって、利用者が今どの方位を向いているのか、あるいは歩行中であればどの方向に向かっているのかが判る。この位置情報と電子方位計に関する情報提供サービスは、今後多くの産業界に新しいビジネスを生み出すものと考えられ、また利用者に有益な情報をもたらす。   In particular, in recent years, position information providing services for portable information terminals using GPS or the like have begun. According to this service, the user can understand the current position information while looking at the screen on the terminal. By combining an electronic compass with this terminal, it is possible to determine which direction the user is currently facing or in which direction the user is walking. This information providing service regarding position information and electronic compass is expected to create new business for many industries in the future, and will also provide useful information to users.

一方、上述した携帯情報端末は、小型薄型とする傾向にあり、その中に搭載される電子デバイスとしては小型が求められている。   On the other hand, the above-described portable information terminal tends to be small and thin, and the electronic device mounted therein is required to be small.

図8(A)を参照して、従来型のセンサ装置100を示す(特許文献1)。この図に示すセンサ装置100は、実装基板103と、3個の磁気センサ素子であるX軸磁気センサ素子101X、Y軸磁気センサ素子101Y、およびZ軸磁気センサ素子101Zと、これらの各磁気センサ素子を駆動するための磁気センサ用IC102から構成されている。   Referring to FIG. 8A, a conventional sensor device 100 is shown (Patent Document 1). The sensor device 100 shown in this figure includes a mounting substrate 103, three magnetic sensor elements, an X-axis magnetic sensor element 101X, a Y-axis magnetic sensor element 101Y, and a Z-axis magnetic sensor element 101Z, and each of these magnetic sensors. It is composed of a magnetic sensor IC 102 for driving the element.

そのX軸磁気センサ素子101X、Y軸磁気センサ素子101Y、およびZ軸磁気センサ素子101Zは、それぞれその感磁部108aの長手方向がX軸、Y軸、Z軸に沿って互いに直交するように配置されて、3軸磁気センサを構成している。   The X-axis magnetic sensor element 101X, the Y-axis magnetic sensor element 101Y, and the Z-axis magnetic sensor element 101Z are arranged such that the longitudinal direction of the magnetic sensing portion 108a is orthogonal to each other along the X-axis, Y-axis, and Z-axis. The three-axis magnetic sensor is arranged.

また磁気センサ用IC102によって、これらの各磁気センサ素子101X、101Y、101Zの励磁用コイルに励磁電流を流した時に、検出用コイルから出力される検出信号に基いて方位角を演算することができる。   The magnetic sensor IC 102 can calculate the azimuth angle based on the detection signal output from the detection coil when an excitation current is passed through the excitation coils of the magnetic sensor elements 101X, 101Y, and 101Z. .

そして、各X軸、Y軸、Z軸磁気センサ素子101X、101Y、101Zを保護するために封止樹脂105(図8(B)参照)を形成し、さらに、これらの磁気センサ素子を載置した実装基板103に、磁気センサ用IC102を駆動するための電源端子、各磁気センサ素子の検出信号に基づいて演算した方位角のデータ(信号)を出力するための出力端子などを設けて、電子方位計としてモジュール20を構成する。   A sealing resin 105 (see FIG. 8B) is formed to protect the X-axis, Y-axis, and Z-axis magnetic sensor elements 101X, 101Y, and 101Z, and these magnetic sensor elements are mounted. The mounting substrate 103 is provided with a power supply terminal for driving the magnetic sensor IC 102, an output terminal for outputting azimuth angle data (signal) calculated based on the detection signal of each magnetic sensor element, and the like. The module 20 is configured as an azimuth meter.

また、各センサ素子の上面には、センサ部と接続された接続パッドが設けられる。そして、実装基板103の上面に設けられたパッド115と、各センサ素子の接続パッドとは、金属細線111を経由して接続される。   A connection pad connected to the sensor unit is provided on the upper surface of each sensor element. Then, the pads 115 provided on the upper surface of the mounting substrate 103 and the connection pads of the sensor elements are connected via the fine metal wires 111.

特開2007−279029号公報JP 2007-279029 A

しかしながら、上記したようにセンサ素子側の接続パッドと実装基板103上のパッド115とを金属細線111にて接続すると、金属細線111による接続信頼性に問題があった。   However, when the connection pad on the sensor element side and the pad 115 on the mounting substrate 103 are connected by the thin metal wire 111 as described above, there is a problem in connection reliability by the thin metal wire 111.

具体的には、図8(B)を参照して、Z軸磁気センサ素子101Zに関しては、上面を部分的に窪ませた窪み部110が形成され、この窪み部110の上面に配置された接続パッドに、金属細線111がワイヤボンディングされる。   Specifically, referring to FIG. 8B, with respect to the Z-axis magnetic sensor element 101Z, a recess 110 having a partially recessed upper surface is formed, and a connection disposed on the upper surface of the recess 110 is formed. A fine metal wire 111 is wire bonded to the pad.

窪み部110の幅は、数百μm程度と非常に狭いため、この狭い領域の上面に配置された接続パッドに対して、金属細線111の端部を安定して接続することは困難であった。また、仮に金属細線111が接続されたとしても、金属細線111が接続される部分の機械的強度が不十分であるために、封止樹脂で封止する工程に於いて金属細線111が接続部にて破断してしまう恐れがある。   Since the width of the recess 110 is very narrow, about several hundred μm, it is difficult to stably connect the end of the metal thin wire 111 to the connection pad arranged on the upper surface of this narrow region. . Further, even if the fine metal wire 111 is connected, the mechanical strength of the portion to which the fine metal wire 111 is connected is insufficient, so that the fine metal wire 111 is connected to the connecting portion in the sealing process with the sealing resin. May break.

本発明は上記した問題に鑑みて成されたものであり、本発明の目的は、磁気センサ素子が安定して電気的に接続されたセンサ装置およびその製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a sensor device in which magnetic sensor elements are stably electrically connected and a method for manufacturing the same.

本発明のセンサ装置は、上面に導電パターンが形成された回路基板と、センサ部と接続された第1接続パッドが上面に形成され、前記第1接続パッドと前記回路基板の導電パターンとが金属細線を経由して接続された第1センサ素子と、センサ部と接続された第2接続パッドが上面に形成され、前記第2接続パッドと前記回路基板の導電パターンとが金属細線を経由して接続されると共に、長手方向が前記第1センサ素子の長手方向に対して直交するように配置された第2センサ素子と、センサ部と接続された第3接続パッドが側面に形成され、前記第3接続パッドと前記回路基板の前記導電パターンとが導電性接合材を介して接続された第3センサ素子と、を備え、前記第3センサ素子の前記第3接続パッドは、局所的に厚く形成された前記導電パターンから成るポストに前記導電性接合材を介して接続されることを特徴とする。   In the sensor device of the present invention, a circuit board having a conductive pattern formed on the upper surface, a first connection pad connected to the sensor unit is formed on the upper surface, and the first connection pad and the conductive pattern of the circuit board are made of metal. A first sensor element connected via a thin line and a second connection pad connected to the sensor unit are formed on the upper surface, and the second connection pad and the conductive pattern of the circuit board are connected via a metal fine line. A second sensor element that is connected so that a longitudinal direction thereof is orthogonal to a longitudinal direction of the first sensor element, and a third connection pad that is connected to the sensor unit is formed on a side surface; And a third sensor element in which the conductive pattern of the circuit board is connected via a conductive bonding material, and the third connection pad of the third sensor element is locally thickly formed. Before Post made of conductive pattern through the conductive bonding material, characterized in that it is connected.

本発明のセンサ装置の製造方法は、上面に導電パターンが形成された回路基板を用意する工程と、センサ部と接続された接続パッドを上面に有する第1センサ素子および第2センサ素子を、前記回路基板の上面に固着すると共に、前記第1センサ素子および第2センサ素子が備える前記接続パッドと前記回路基板上の前記導電パターンとを金属細線を経由して接続する工程と、センサ部と接続された接続パッドを側面に有する第3センサ素子を、前記回路基板の上面に固着すると共に、前記第3センサ素子の前記接続パッドと前記回路基板上の前記導電パターンとを導電性固着材を介して接続する工程と、を備え、前記第3センサの側面に設けられた前記接続パッドは、局所的に厚く形成された前記導電パターンから成るポストに、前記導電性接合材を介して接続されることを特徴とする。   The method for manufacturing a sensor device of the present invention includes a step of preparing a circuit board having a conductive pattern formed on an upper surface, and a first sensor element and a second sensor element having connection pads connected to a sensor unit on the upper surface. A step of connecting the connection pads provided on the first sensor element and the second sensor element and the conductive pattern on the circuit board via a fine metal wire, and fixing to the upper surface of the circuit board; A third sensor element having a connection pad on the side surface is fixed to the upper surface of the circuit board, and the connection pad of the third sensor element and the conductive pattern on the circuit board are connected via a conductive fixing material. And the connection pad provided on the side surface of the third sensor includes a conductive pattern formed on the side surface of the third sensor. Characterized in that it is connected by means of a bonding material.

本発明によれば、回路基板の上面に設けられた導電パターンを部分的に厚くすることでポストを設け、センサ素子の側面に設けられた接続パッドとポストとを、導電性接合材を介して接続している。この様にすることで、センサ素子の側面に設けられたパッドと、回路基板上のポストとが、導電性接合材を用いて接続されるので、金属細線を経由して接続した場合と比較すると接続信頼性を向上させることができる。   According to the present invention, the post is provided by partially thickening the conductive pattern provided on the upper surface of the circuit board, and the connection pad and the post provided on the side surface of the sensor element are connected via the conductive bonding material. Connected. By doing in this way, the pads provided on the side surface of the sensor element and the posts on the circuit board are connected using a conductive bonding material, so compared with the case where they are connected via a thin metal wire Connection reliability can be improved.

更に、ポストは、センサ素子の実装に使用される絶縁性接着材よりも厚く形成される。従って、センサ素子を実装するために、液状の絶縁接着材がポストの近傍に塗布しても、ポストが比較的厚く形成されているので、ポストの上面が絶縁性固着材により被覆されてしまうことが抑制されている。結果的に、センサ素子の側面に設けられた接続パッドとポストとを、導電性接合材を介して良好に接続できる。   Further, the post is formed to be thicker than the insulating adhesive used for mounting the sensor element. Therefore, even if a liquid insulating adhesive is applied in the vicinity of the post in order to mount the sensor element, the post is formed to be relatively thick, so that the upper surface of the post is covered with the insulating fixing material. Is suppressed. As a result, the connection pad and the post provided on the side surface of the sensor element can be satisfactorily connected via the conductive bonding material.

本発明のセンサ装置を示す図であり、(A)は平面図であり、(B)および(C)は断面図である。It is a figure which shows the sensor apparatus of this invention, (A) is a top view, (B) and (C) are sectional drawings. 本発明のセンサ装置を示す図であり、(A)および(B)はセンサ素子18が接続される構成を示す断面図である。It is a figure which shows the sensor apparatus of this invention, (A) And (B) is sectional drawing which shows the structure to which the sensor element 18 is connected. 本発明のセンサ装置の製造方法を示す図であり、(A)は平面図であり、(B)は断面であり、(C)は断面図である。It is a figure which shows the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention, (A) is a top view, (B) is a cross section, (C) is sectional drawing. 本発明のセンサ装置の製造方法を示す図であり、(A)は平面図であり、(B)は拡大された平面図であり、(C)は断面図である。It is a figure which shows the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention, (A) is a top view, (B) is the expanded top view, (C) is sectional drawing. 本発明のセンサ装置の製造方法を示す図であり、(A)および(B)は断面図であり、(C)は平面図である。It is a figure which shows the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention, (A) and (B) are sectional drawings, (C) is a top view. 本発明のセンサ装置の製造方法を示す図であり、(A)は平面図であり、(B)は断面図である。It is a figure which shows the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention, (A) is a top view, (B) is sectional drawing. 本発明のセンサ装置の製造方法を示す平面図である。It is a top view which shows the manufacturing method of the sensor apparatus of this invention. 背景技術のセンサ装置を示す図であり、(A)は斜視図であり、(B)は断面図である。It is a figure which shows the sensor apparatus of background art, (A) is a perspective view, (B) is sectional drawing.

本実施の形態に係るセンサ装置10の構成を、図1を参照して説明する。図1(A)はセンサ装置10を示す平面図であり、図1(B)は図1(A)のI−I線に於ける断面図であり、図1(C)は図1(A)のII−II線における断面図である。   The configuration of the sensor device 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 1A is a plan view showing the sensor device 10, FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line I-I in FIG. 1A, and FIG. 1C is FIG. It is sectional drawing in the II-II line.

本実施形態のセンサ装置10は、回路基板12と、回路基板12の上面に配置されたセンサ素子14、16、18と、これらのセンサ素子を被覆する封止樹脂32とを主要に備えた構成となっている。   The sensor device 10 of this embodiment mainly includes a circuit board 12, sensor elements 14, 16, and 18 disposed on the upper surface of the circuit board 12, and a sealing resin 32 that covers these sensor elements. It has become.

図1(A)を参照して、先ず、センサ装置10を説明するための方向に関して説明する。X軸方向はセンサ装置10の横方向の軸であり、Y軸方向は縦方向の軸であり、Z軸方向は厚み方向(紙面上では紙面を突き抜ける方向)の軸であり、これらの方向は互いに直交している。また、回路基板12の主面は、X−Y平面に対して平行に載置されている。   With reference to FIG. 1 (A), the direction for describing the sensor apparatus 10 is demonstrated first. The X-axis direction is the horizontal axis of the sensor device 10, the Y-axis direction is the vertical axis, the Z-axis direction is the thickness direction (the direction that penetrates the paper surface), and these directions are They are orthogonal to each other. The main surface of the circuit board 12 is placed in parallel to the XY plane.

図1(A)および図1(B)を参照して、回路基板12は、ガラスエポキシ基板等の樹脂を主材料とする基板であり、回路基板12の上面および下面には所定形状の導電パターンが形成されている。回路基板12の上面に形成された導電パターンと、下面に形成された導電パターンとは、所定の箇所にて回路基板12を貫通して接続されている。また、回路基板12の裏面に形成されるパッド状の裏面電極36には、半田バンプ38が形成されている。図1(B)を参照すると、2層の多層配線が構成されているが、4層や6層に積層された配線層が構成されても良い。   1A and 1B, a circuit board 12 is a board mainly made of a resin such as a glass epoxy board, and a conductive pattern having a predetermined shape is formed on the upper and lower surfaces of the circuit board 12. Is formed. The conductive pattern formed on the upper surface of the circuit board 12 and the conductive pattern formed on the lower surface are connected through the circuit board 12 at a predetermined location. Solder bumps 38 are formed on the pad-like back electrode 36 formed on the back surface of the circuit board 12. Referring to FIG. 1B, a two-layer multilayer wiring is configured, but a wiring layer laminated in four layers or six layers may be configured.

本実施の形態では、回路基板12の上面に、3つの磁気センサ素子(センサ素子14、16、18)を配置し、これらのセンサ素子は互いに直交する3つの軸方向(X軸、Y軸およびZ軸)の磁界を検出している。この様にすることで、測定された3つの磁界を合成することにより、センサ装置10が水平面に対して傾斜して配置された場合でも、正確に方位角を求めることができる。また、本実施の形態では、センサ素子としてフラックスゲート型の磁気センサ素子が採用されている。従って、各センサ素子のセンサ部には、励磁用コイルと検出用コイルが設けられ、励磁用コイルに励磁電流を流した時に、検出用コイルから出力される検出信号に基いて方位角を演算することができる。   In the present embodiment, three magnetic sensor elements (sensor elements 14, 16, 18) are disposed on the upper surface of the circuit board 12, and these sensor elements have three axial directions (X axis, Y axis, and (Z axis) magnetic field is detected. In this way, by synthesizing the three measured magnetic fields, the azimuth angle can be accurately obtained even when the sensor device 10 is disposed to be inclined with respect to the horizontal plane. In this embodiment, a flux gate type magnetic sensor element is employed as the sensor element. Accordingly, the sensor portion of each sensor element is provided with an excitation coil and a detection coil, and when an excitation current is passed through the excitation coil, the azimuth angle is calculated based on the detection signal output from the detection coil. be able to.

図1(A)および図1(C)を参照して、センサ素子14は、Y軸方向に対して平行に長手方向を備えており、Y軸方向の磁界を測定する磁気センサ素子である。センサ素子14の構造は、非磁性の材料である半導体材料(例えばシリコン)から成る半導体基板の上面に、センサ部26と、このセンサ部26と接続された接続パッド14Aが設けられている。また、センサ部26は磁性コア材にコイルが巻回されており、このコイルはセンサ素子14の上面に形成された接続パッド14Aに接続されている。更に、センサ素子14が備える接続パッド14Aは、金属細線24を経由して回路基板12の上面に形成されたパッド34と接続されている。   Referring to FIGS. 1A and 1C, sensor element 14 is a magnetic sensor element that has a longitudinal direction parallel to the Y-axis direction and measures a magnetic field in the Y-axis direction. The sensor element 14 has a structure in which a sensor portion 26 and a connection pad 14A connected to the sensor portion 26 are provided on the upper surface of a semiconductor substrate made of a semiconductor material (for example, silicon) which is a nonmagnetic material. The sensor unit 26 has a coil wound around a magnetic core material, and this coil is connected to a connection pad 14 </ b> A formed on the upper surface of the sensor element 14. Further, the connection pad 14 </ b> A included in the sensor element 14 is connected to the pad 34 formed on the upper surface of the circuit board 12 through the fine metal wire 24.

センサ素子14の上面に形成されたセンサ部26は、窒化膜または酸化膜から成る保護膜により保護されている。この様にすることで、各センサ素子を被覆する封止樹脂32が硬化収縮することにより圧縮応力がセンサ素子14に作用しても、この保護膜により応力が緩和されることで、センサ素子14の変形が抑制される。更に、センサ素子14の下面は、エポキシ樹脂等から成る絶縁接着材を介して回路基板12の上面に固着される。センサ素子14の高さは例えば500μm程度である。   The sensor unit 26 formed on the upper surface of the sensor element 14 is protected by a protective film made of a nitride film or an oxide film. In this way, even if a compressive stress acts on the sensor element 14 due to the curing and shrinkage of the sealing resin 32 covering each sensor element, the stress is relieved by this protective film, so that the sensor element 14 Is prevented from being deformed. Further, the lower surface of the sensor element 14 is fixed to the upper surface of the circuit board 12 via an insulating adhesive made of epoxy resin or the like. The height of the sensor element 14 is, for example, about 500 μm.

更に、図1(C)を参照して、センサ素子14の基板の上部を一部分窪ませることにより段差領域19が形成され、センサ素子14の接続パッド14Aはこの段差領域19の底面に形成されている。段差領域19では、底面および側面の両方に、接続パッド14Aとなる配線が形成されている。   Further, referring to FIG. 1C, a step region 19 is formed by partially denting the upper portion of the substrate of sensor element 14, and connection pad 14 A of sensor element 14 is formed on the bottom surface of this step region 19. Yes. In the step region 19, wiring to be the connection pad 14 </ b> A is formed on both the bottom surface and the side surface.

尚、図1の各図を参照すると、全てのセンサ素子に段差領域19が設けられているが、Z軸の磁界を検出するセンサ素子18のみに段差領域19を設け、他のセンサ素子14およびセンサ素子16には段差領域19を設けなくても良い。更には、全てのセンサ素子に対して、段差領域19を設けずに、平坦面から成るセンサ素子の上面または側面に、センサ部および接続パッドを設けても良い。   Referring to each drawing of FIG. 1, the step region 19 is provided in all sensor elements. However, the step region 19 is provided only in the sensor element 18 that detects the Z-axis magnetic field, and the other sensor elements 14 and The sensor element 16 need not be provided with the step region 19. Further, the sensor portion and the connection pad may be provided on the upper surface or the side surface of the sensor element formed of a flat surface without providing the step region 19 for all the sensor elements.

図1(A)および図1(B)を参照して、センサ素子16は、X軸方向に対して平行に長手方向を備えており、X軸方向の磁界を測定する磁気センサである。センサ素子16の構造は、上記したセンサ素子14と同様であり、半導体から成る基板の上面にセンサ部28および接続パッド16Aが設けられている。接続パッド16Aは、金属細線24を経由して、回路基板12の上面に設けられたパッドと接続される。   Referring to FIGS. 1A and 1B, sensor element 16 is a magnetic sensor having a longitudinal direction parallel to the X-axis direction and measuring a magnetic field in the X-axis direction. The structure of the sensor element 16 is the same as that of the sensor element 14 described above, and a sensor portion 28 and connection pads 16A are provided on the upper surface of a substrate made of a semiconductor. The connection pad 16 </ b> A is connected to a pad provided on the upper surface of the circuit board 12 via the fine metal wire 24.

センサ素子18は、X軸方向に対して平行に長手方向を備えており、Z軸方向の磁界を測定する磁気センサである。センサ素子18では、Z軸方向の磁界を測定するために、基板の側面にセンサ部30が設けられている。原理的には、センサ部30が設けられる基板の側面は、装置の内側に面する基板の側面でも良いし、外側に面する基板の側面でも良い。ここでは、内側に面するセンサ素子18の基板の側面にセンサ部30が形成されている。センサ素子18は、基板側面に設けられるセンサ部30に含まれるコイルの長さを確保するために、他のセンサ素子よりも高く形成される。具体的には、センサ素子18の高さは800μm程度である。   The sensor element 18 has a longitudinal direction parallel to the X-axis direction and is a magnetic sensor that measures a magnetic field in the Z-axis direction. In the sensor element 18, a sensor unit 30 is provided on the side surface of the substrate in order to measure a magnetic field in the Z-axis direction. In principle, the side surface of the substrate on which the sensor unit 30 is provided may be the side surface of the substrate facing the inside of the apparatus or the side surface of the substrate facing the outside. Here, the sensor part 30 is formed on the side surface of the substrate of the sensor element 18 facing inward. The sensor element 18 is formed higher than the other sensor elements in order to ensure the length of the coil included in the sensor unit 30 provided on the side surface of the substrate. Specifically, the height of the sensor element 18 is about 800 μm.

更に、センサ素子18は、センサ素子14、16とは接続される構造が異なる。具体的には、センサ素子14、16は金属細線24を経由して回路基板12の上面のパッドと接続されるのに対し、センサ素子18は半田(導電性接合材)を介して接続されている。この様にすることで、センサ部30および接続パッド18Aを側面に備えるセンサ素子18を、高い接続信頼性をもって回路基板12の上面に設けられたポスト35と接続することができる。センサ素子18が接続される構造の詳細は、図2を参照して後述する。   Furthermore, the sensor element 18 is different in structure from the sensor elements 14 and 16. Specifically, the sensor elements 14 and 16 are connected to the pads on the upper surface of the circuit board 12 via the fine metal wires 24, while the sensor elements 18 are connected via solder (conductive bonding material). Yes. By doing in this way, the sensor element 18 provided with the sensor part 30 and the connection pad 18A on the side surface can be connected to the post 35 provided on the upper surface of the circuit board 12 with high connection reliability. Details of the structure to which the sensor element 18 is connected will be described later with reference to FIG.

上記したセンサ素子14、16、18は、回路基板12の上面において半導体素子20を囲むように、コの字形状に配置されている。   The sensor elements 14, 16, and 18 are arranged in a U shape so as to surround the semiconductor element 20 on the upper surface of the circuit board 12.

半導体素子20は、回路基板12の上面において中央部付近に載置されており、回路基板12の上面に形成されたパッドおよび金属細線を経由して、センサ素子14、16、18と接続されている。半導体素子20は、各センサ素子の出力に基づいて方位角を算出する回路が組み込まれている。LSIである半導体素子20の厚みは例えば300μm程度であり、センサ素子14等と比較すると薄く形成されている。   The semiconductor element 20 is placed near the center on the upper surface of the circuit board 12 and is connected to the sensor elements 14, 16, and 18 via pads and metal wires formed on the upper surface of the circuit board 12. Yes. The semiconductor element 20 incorporates a circuit that calculates an azimuth angle based on the output of each sensor element. The thickness of the semiconductor element 20 which is an LSI is, for example, about 300 μm, and is thinner than the sensor element 14 or the like.

加速度センサ22は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)が採用されたセンサであり、センサ装置10に作用した加速度を計測して、計測された加速度を示す電気信号を出力する機能を備えている。加速度センサ22の周辺部に設けられた電極は、回路基板12の上面に設けられたパッドに金属細線を経由して接続される。加速度センサ22の厚みは、例えば半導体素子20と同様の300μm程度である。ここで、加速度センサ22を省いてセンサ装置10が構成されても良い。   The acceleration sensor 22 is a sensor employing MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), and has a function of measuring an acceleration acting on the sensor device 10 and outputting an electric signal indicating the measured acceleration. The electrodes provided in the peripheral part of the acceleration sensor 22 are connected to pads provided on the upper surface of the circuit board 12 via fine metal wires. The thickness of the acceleration sensor 22 is, for example, about 300 μm, which is the same as that of the semiconductor element 20. Here, the sensor device 10 may be configured without the acceleration sensor 22.

封止樹脂32は、回路基板12の上面に配置された各センサ等および回路基板12の上面が被覆されるように形成されている。具体的には、センサ素子14、16、18、半導体素子20、加速度センサ22および金属細線が封止樹脂32により被覆されている。封止樹脂32は、シリカ粒子等から成るフィラーが充填された樹脂材料から成る。封止樹脂32を構成する樹脂材料としては、トランスファーモールドにより形成されるエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂や、インジェクションモールドにより形成されるアクリル樹脂等の熱可塑性樹脂が採用される。封止樹脂32全体に対してフィラーが含まれる割合は、例えば85重量%以上90重量%以下である。   The sealing resin 32 is formed so as to cover each sensor and the like disposed on the upper surface of the circuit board 12 and the upper surface of the circuit board 12. Specifically, the sensor elements 14, 16, 18, the semiconductor element 20, the acceleration sensor 22, and the fine metal wires are covered with a sealing resin 32. The sealing resin 32 is made of a resin material filled with a filler made of silica particles or the like. As the resin material constituting the sealing resin 32, a thermosetting resin such as an epoxy resin formed by transfer molding, or a thermoplastic resin such as an acrylic resin formed by injection molding is employed. The ratio of the filler contained in the entire sealing resin 32 is, for example, 85% by weight or more and 90% by weight or less.

図2を参照して、センサ素子18が回路基板に接続される構造を説明する。図2(A)はセンサ素子18が接続される構成を示す断面図であり、図2(B)は他の構成を示す断面図である。   A structure in which the sensor element 18 is connected to a circuit board will be described with reference to FIG. 2A is a cross-sectional view showing a configuration to which the sensor element 18 is connected, and FIG. 2B is a cross-sectional view showing another configuration.

図2(A)を参照して、センサ素子18の下面は、絶縁接着材15を介して回路基板12の上面に固着されている。絶縁接着材15は、エポキシ樹脂等の樹脂材料から成る接着材であり、液状又は半固形状の状態で回路基板12の上面に塗布した後に加熱硬化することにより形成されている。絶縁接着材15の厚みL1は例えば20μm程度である。   Referring to FIG. 2A, the lower surface of sensor element 18 is fixed to the upper surface of circuit board 12 with insulating adhesive material 15 interposed therebetween. The insulating adhesive 15 is an adhesive made of a resin material such as an epoxy resin, and is formed by being applied to the upper surface of the circuit board 12 in a liquid or semi-solid state and then cured by heating. The thickness L1 of the insulating adhesive 15 is, for example, about 20 μm.

上記したようにセンサ素子18の側面には、センサ部30と、センサ部30と接続された接続パッド18Aが設けられている。この接続パッド18Aは、半田11を介してポスト35に接続されている。ここでは、両者を接続させる導電性固着材として半田11が採用されているが、Ag等から成る金属粉を樹脂材料に添加した導電ペーストが採用されても良い。   As described above, the sensor unit 30 and the connection pad 18 </ b> A connected to the sensor unit 30 are provided on the side surface of the sensor element 18. The connection pad 18A is connected to the post 35 via the solder 11. Here, the solder 11 is employed as a conductive fixing material for connecting the two, but a conductive paste in which a metal powder made of Ag or the like is added to a resin material may be employed.

ここで、ポスト35は、回路基板12の上面に形成される他の導電パターンよりも厚く形成される。一例として、他の導電パターンの厚みが20μm程度であれば、ポスト35の厚みL2は40μm以上100μm以下程度に設定される。更に、ポスト35は絶縁接着材15よりも厚く形成されるので、ポスト35の上面は絶縁接着材15の上面よりも上方に位置している。   Here, the post 35 is formed thicker than other conductive patterns formed on the upper surface of the circuit board 12. As an example, if the thickness of the other conductive pattern is about 20 μm, the thickness L2 of the post 35 is set to about 40 μm or more and 100 μm or less. Further, since the post 35 is formed thicker than the insulating adhesive 15, the upper surface of the post 35 is located above the upper surface of the insulating adhesive 15.

ポスト35を他の導電パターンよりも厚く形成する構造としては、導電パターンに銅片等の金属片を積層させても良いし、局所的にメッキ膜を積層させることにより厚いポスト35を形成しても良い。   As a structure in which the post 35 is formed thicker than other conductive patterns, a metal piece such as a copper piece may be laminated on the conductive pattern, or a thick post 35 may be formed by locally laminating a plating film. Also good.

この様にポスト35を絶縁接着材15よりも厚く形成することにより、ポスト35の上面が絶縁接着材15により被覆されることが抑制される。具体的には、絶縁接着材15は、液状または半固形状でポスト35近傍の回路基板12の上面に塗布され、その後に絶縁接着材15の上面にセンサ素子18が載置される。従って、絶縁接着材15の上面にセンサ素子18を載置すると、センサ素子18の重みにより絶縁接着材15は側方に広がり、その一部はポスト35に接触する場合がある。ここで、ポスト35の厚みが絶縁接着材15と同等以下であれば、広がった絶縁接着材15によりポスト35の上面が覆われる恐れがある。しかしながら、本形態では、ポスト35の厚みを絶縁接着材15よりも厚く設定しているので、絶縁接着材15がポスト35の側面に付着することはあっても、ポスト35の上面は絶縁接着材15により被覆されない。従って、半田11を介した接続が絶縁接着材15により阻害されることがない。   By forming the post 35 thicker than the insulating adhesive 15 in this manner, the upper surface of the post 35 is suppressed from being covered with the insulating adhesive 15. Specifically, the insulating adhesive 15 is applied in a liquid or semi-solid state on the upper surface of the circuit board 12 in the vicinity of the post 35, and then the sensor element 18 is placed on the upper surface of the insulating adhesive 15. Therefore, when the sensor element 18 is placed on the upper surface of the insulating adhesive material 15, the insulating adhesive material 15 spreads to the side due to the weight of the sensor element 18, and a part thereof may contact the post 35. Here, if the thickness of the post 35 is equal to or less than that of the insulating adhesive 15, the upper surface of the post 35 may be covered with the spread insulating adhesive 15. However, in this embodiment, since the thickness of the post 35 is set to be thicker than that of the insulating adhesive 15, the insulating adhesive 15 may adhere to the side surface of the post 35, but the upper surface of the post 35 is insulated insulating material. 15 is not covered. Therefore, the connection via the solder 11 is not hindered by the insulating adhesive 15.

図2(B)に示す断面図では、ポスト35の下部を窪ませることで窪み部17を設けている。具体的には、上記と同様に、導電パターンを局所的に厚くすることによりポスト35を設け、このポスト35の下部を内側に窪ませることにより、窪み部17を設けている。窪み部17は、上部に載置されたセンサ素子18の重みにより絶縁接着材15が広がった際に、ポスト35に向かって接近した絶縁接着材15を収納する機能を備えている。   In the cross-sectional view shown in FIG. 2B, the recess 17 is provided by recessing the lower portion of the post 35. Specifically, in the same manner as described above, the post 35 is provided by locally thickening the conductive pattern, and the recess 17 is provided by recessing the lower portion of the post 35 inward. The recess 17 has a function of accommodating the insulating adhesive 15 approaching the post 35 when the insulating adhesive 15 spreads due to the weight of the sensor element 18 placed on the upper portion.

この図では、ポスト35の左右両方の下部に窪み部17が設けられているが、左側(センサ素子18に面する側)のみの下部に窪み部17を設けても良い。更に、窪み部17の形状に関しては、四角形形状が図示されているが、三角形形状の他の形状でも良い。窪み部17の高さL3に関しては特に制限はないが、L3を絶縁接着材15の厚みL1よりも長くすると、より多量の絶縁接着材15を貯留することが可能となる。   In this figure, the depressions 17 are provided on both the left and right lower portions of the post 35, but the depressions 17 may be provided only on the left side (side facing the sensor element 18). Furthermore, as for the shape of the recess portion 17, a quadrangular shape is illustrated, but other shapes may be used. Although there is no restriction | limiting in particular regarding the height L3 of the hollow part 17, When L3 is made longer than the thickness L1 of the insulating adhesive material 15, it will become possible to store a larger amount of insulating adhesive materials 15. FIG.

窪み部17を備えたポスト35を形成する方法としては、断面が四角形形状の厚いポスト35を形成した後に、部分的なエッチングを行うことで窪み部17を形成することができる。更には、厚みが一様の導電パターンを形成した後に、幅が広い金属片を導電パターンの上面に載置することによっても、ポスト35を形成することができる。更にまた、所定形状のメッキレジストを用いてメッキ処理を行うことで、窪み部17を備えたポスト30を積み上げ、その後にメッキレジストを除去することも可能である。   As a method of forming the post 35 provided with the hollow portion 17, the hollow portion 17 can be formed by performing partial etching after forming the thick post 35 having a square cross section. Further, the post 35 can also be formed by forming a wide metal piece on the upper surface of the conductive pattern after forming a conductive pattern having a uniform thickness. Furthermore, by performing a plating process using a plating resist having a predetermined shape, it is possible to pile up the posts 30 provided with the depressions 17 and then remove the plating resist.

図3から図7を参照して、上記した構成のセンサ装置の製造方法を説明する。   With reference to FIGS. 3 to 7, a method of manufacturing the sensor device having the above-described configuration will be described.

図3を参照して、先ず、回路基板40の表面に導電パターンを形成する。図3(A)は回路基板40の一部分を示す平面図であり、図3(B)は回路基板40の一部を示す断面図であり、図3(C)はポスト35を示す断面図である。   With reference to FIG. 3, first, a conductive pattern is formed on the surface of the circuit board 40. 3A is a plan view showing a part of the circuit board 40, FIG. 3B is a cross-sectional view showing a part of the circuit board 40, and FIG. 3C is a cross-sectional view showing the post 35. is there.

図3(A)を参照して、ガラスエポキシ等の樹脂を主体とする材料から成る回路基板40の上面には、マトリックス状に配置された素子配置領域44から成るブロック42が形成されている。ここで、素子配置領域44とは1つのセンサ装置となる部位のことである。そして、後の工程にてブロック42毎に樹脂封止が行われている。また、紙面上では1つのみのブロック42が示されているが、実際には短冊形の外形を備えた回路基板40に、離間されて複数個のブロック42が一列またはマトリックス状に配置される。   Referring to FIG. 3A, a block 42 made up of element arrangement regions 44 arranged in a matrix is formed on the upper surface of a circuit board 40 made of a material mainly made of resin such as glass epoxy. Here, the element arrangement region 44 is a part that becomes one sensor device. Then, resin sealing is performed for each block 42 in a later step. Further, although only one block 42 is shown on the paper surface, in practice, a plurality of blocks 42 are arranged in a row or in a matrix on a circuit board 40 having a strip-shaped outer shape. .

更に図3(A)および図3(B)を参照して、各素子配置領域44の内部では、回路基板40の上面に、素子配置領域44毎に同一形状の導電パターン46が形成され、回路基板40の下面には同一形状の導電パターン48が形成されている。そして、導電パターン46と導電パターン48とは、回路基板40を貫通して所定の箇所にて接続されている。ここでは、2層の多層配線が回路基板40に形成されているが、更に多層の配線(例えば4層や6層)が回路基板40に構成されても良い。   Further, referring to FIG. 3A and FIG. 3B, in each element arrangement region 44, a conductive pattern 46 having the same shape is formed on the upper surface of the circuit board 40 for each element arrangement region 44. A conductive pattern 48 having the same shape is formed on the lower surface of the substrate 40. The conductive pattern 46 and the conductive pattern 48 penetrate through the circuit board 40 and are connected at predetermined positions. Here, two layers of multilayer wiring are formed on the circuit board 40, but multilayer wiring (for example, four layers or six layers) may be formed on the circuit board 40.

図3(C)を参照して、本工程では、パッド状の導電パターン46を部分的に厚く形成してポスト35が形成されている。一例として、他の導電パターン46の厚みが20μm程度であれば、ポスト35の厚みL2は40μm以上100μm以下に設定される。   Referring to FIG. 3C, in this step, the pad 35 is partially thickened to form the post 35. As an example, if the thickness of the other conductive pattern 46 is about 20 μm, the thickness L2 of the post 35 is set to 40 μm or more and 100 μm or less.

ポスト35を他の導電パターン46よりも厚く形成する方法としては、導電パターンに銅片等の金属片を積層させても良いし、局所的にメッキ膜を厚く積層させることにより厚いポスト35を形成しても良い。   As a method of forming the post 35 thicker than the other conductive pattern 46, a metal piece such as a copper piece may be laminated on the conductive pattern, or a thick post 35 is formed by locally laminating a thick plating film. You may do it.

更に、ポスト35の下部を内側に窪ませることにより窪み部17が形成されている。窪み部17を形成する方法としては、断面が四角形形状の厚いポスト35を形成した後に、部分的なエッチングを行うことで窪み部17を形成することができる。更には、厚みが一様の導電パターンを形成した後に、幅が広い金属片を導電パターンの上面に載置することによっても、ポスト35を形成することができる。   Further, a recess 17 is formed by recessing the lower portion of the post 35 inward. As a method of forming the depression 17, the depression 17 can be formed by performing partial etching after forming the thick post 35 having a quadrangular cross section. Further, the post 35 can also be formed by forming a wide metal piece on the upper surface of the conductive pattern after forming a conductive pattern having a uniform thickness.

図4及び図5を参照して、次に、回路基板40の上面に各素子を配置し、回路基板40の上面に形成された導電パターン46と各素子とを金属細線24を経由して接続する。本工程では、センサ素子14、16を金属細線を介して接続し、センサ素子18は半田を介して接続している。また、本工程では、センサ素子14、16を接続した後に、センサ素子18を接続しているが、この順番は逆でも良い。   Next, referring to FIGS. 4 and 5, each element is arranged on the upper surface of the circuit board 40, and the conductive pattern 46 formed on the upper surface of the circuit board 40 and each element are connected via the fine metal wires 24. To do. In this step, the sensor elements 14 and 16 are connected via fine metal wires, and the sensor element 18 is connected via solder. Moreover, in this process, after connecting the sensor elements 14 and 16, the sensor element 18 is connected, but this order may be reversed.

図4の各図を参照して、本工程では、先ず、回路基板40の各素子配置領域44の上面に、センサ素子14、16、半導体素子20および加速度センサ22を固着し、各素子を金属細線を経由して回路基板上の導電パターンと接続する。図4(B)を参照して、センサ素子14は、Y軸方向に長手方向を備えてY軸方向の磁界を測定する磁気センサであり、半導体から成る基板の上面にセンサ部26を備えている。センサ素子16は、X軸方向に長手方向を備えてX軸方向の磁界を測定する磁気センサであり、基板の上面にセンサ部28を備えている。各センサ素子の上面には、センサ部と接続された接続パッドが設けられており、これらの接続パッドは金属細線24を経由して回路基板40の上面に形成されたパッド状の導電パターン46と接続される。また、各センサ素子の底面は、エポキシ樹脂等の絶縁性材料から成る絶縁接着材を介して、回路基板40の上面に固着される。   4, in this step, first, sensor elements 14 and 16, semiconductor element 20 and acceleration sensor 22 are fixed to the upper surface of each element arrangement region 44 of circuit board 40, and each element is made of metal. It connects with the conductive pattern on a circuit board via a thin line. Referring to FIG. 4B, the sensor element 14 is a magnetic sensor that measures a magnetic field in the Y-axis direction with a longitudinal direction in the Y-axis direction, and includes a sensor unit 26 on the upper surface of a substrate made of a semiconductor. Yes. The sensor element 16 is a magnetic sensor that has a longitudinal direction in the X-axis direction and measures a magnetic field in the X-axis direction, and includes a sensor unit 28 on the upper surface of the substrate. Connection pads connected to the sensor unit are provided on the upper surface of each sensor element, and these connection pads are connected to a pad-like conductive pattern 46 formed on the upper surface of the circuit board 40 via the fine metal wires 24. Connected. The bottom surface of each sensor element is fixed to the upper surface of the circuit board 40 via an insulating adhesive made of an insulating material such as an epoxy resin.

半導体素子20は所定の回路が上面に組み込まれたLSIであり、センサ素子14、16により囲まれる領域の内部に固着される。半導体素子20の上面に設けられた電極は、金属細線24および導電パターン46を経由して各センサ素子と接続され、各センサ素子の出力に基づいて方位角を算出する。   The semiconductor element 20 is an LSI in which a predetermined circuit is incorporated on the upper surface, and is fixed inside a region surrounded by the sensor elements 14 and 16. The electrodes provided on the upper surface of the semiconductor element 20 are connected to each sensor element via the fine metal wire 24 and the conductive pattern 46, and the azimuth angle is calculated based on the output of each sensor element.

加速度センサ22は、半導体素子20に隣接するように回路基板40の上面に固着され、上面に設けられた電極は金属細線24を経由して導電パターン46と接続される。加速度センサ22は、作用した加速度を示す電気信号を出力する機能を備える。   The acceleration sensor 22 is fixed to the upper surface of the circuit board 40 so as to be adjacent to the semiconductor element 20, and the electrode provided on the upper surface is connected to the conductive pattern 46 via the fine metal wire 24. The acceleration sensor 22 has a function of outputting an electrical signal indicating the applied acceleration.

図5を参照して、次に、半田を介してセンサ素子18を接続する。センサ素子18は、Z軸方向の磁界を測定する磁気センサであり、基板の側面にセンサ部30および接続パッド18Aを備えている。図5(A)および図5(B)は本工程を示す断面図であり、図5(C)は本工程が終了した状態の素子配置領域44を示す平面図である。   Referring to FIG. 5, next, sensor element 18 is connected via solder. The sensor element 18 is a magnetic sensor that measures a magnetic field in the Z-axis direction, and includes a sensor unit 30 and a connection pad 18A on the side surface of the substrate. 5A and 5B are cross-sectional views showing this step, and FIG. 5C is a plan view showing the element arrangement region 44 in a state where this step is completed.

図5(A)を参照して、先ず、回路基板12の上面にセンサ素子18を固着する。具体的には、エポキシ樹脂等の樹脂材料から成る絶縁接着材15を、回路基板12の上面に液状または半固形状の状態で塗布する。次に、塗布された絶縁接着材15の上部にセンサ素子18を載置した後に、絶縁接着材15を加熱硬化することで、センサ素子18が回路基板12に固着される。また、ポスト35の上面には、半フラックスが塗布された半田ボール11Aが塗布されている。   Referring to FIG. 5A, first, sensor element 18 is fixed to the upper surface of circuit board 12. Specifically, the insulating adhesive 15 made of a resin material such as an epoxy resin is applied to the upper surface of the circuit board 12 in a liquid or semi-solid state. Next, the sensor element 18 is fixed to the circuit board 12 by placing the sensor element 18 on the applied insulating adhesive 15 and then curing the insulating adhesive 15 by heating. Further, a solder ball 11A coated with a half flux is applied to the upper surface of the post 35.

図5(B)を参照して、次に、半田ボール11Aを溶融した後に冷却することにより、半田11がポスト35の上面および接続パッド18Aの両方に付着する。このことで、半田11を経由して、センサ素子の接続パッド18Aとポスト35とが接続される。   Referring to FIG. 5B, next, the solder ball 11A is melted and then cooled, so that the solder 11 adheres to both the upper surface of the post 35 and the connection pad 18A. As a result, the sensor element connection pad 18 </ b> A and the post 35 are connected via the solder 11.

上記工程が終了した後の平面図を図5(C)に示す。3軸方向(X軸方向、Y軸方向およびZ軸方向)の磁界を検出するために、センサ素子14、16、18は全体として、半導体素子20を囲むようにコの字状に配置される。   FIG. 5C shows a plan view after the above process is completed. In order to detect a magnetic field in three axial directions (X-axis direction, Y-axis direction, and Z-axis direction), the sensor elements 14, 16, and 18 are arranged in a U shape so as to surround the semiconductor element 20 as a whole. .

図5(A)を参照して、センサ素子18が絶縁接着材15の上部に載置されると、センサ素子18の重みにより絶縁接着材15が周囲に広がり、その一部はポスト35に接触する。そして、広がった絶縁接着材15によりポスト35の上面が被覆されると。センサ素子18の接続パッド18Aと、ポスト35とが導電性接合材を経由して良好に接続されない恐れがある。   Referring to FIG. 5A, when the sensor element 18 is placed on top of the insulating adhesive 15, the insulating adhesive 15 spreads around due to the weight of the sensor element 18, and a part thereof contacts the post 35. To do. Then, when the upper surface of the post 35 is covered with the spread insulating adhesive 15. There is a possibility that the connection pad 18A of the sensor element 18 and the post 35 may not be well connected via the conductive bonding material.

本形態では、ポスト35を厚く形成し、更に窪み部17を設けることにより、絶縁接着材15によりポスト35の上面が被覆されることを防止している。   In this embodiment, the post 35 is formed thick and further provided with the recess 17 to prevent the upper surface of the post 35 from being covered with the insulating adhesive 15.

具体的には、図5(A)を参照して、ポスト35の厚みL2を、40μm以上100μm以下程度にすることにより、絶縁接着材15の厚みL1(20μm)よりも厚くしている。この様にすることで、絶縁接着材15の一部がポスト35側に広がっても、ポスト35の側面には絶縁接着材15は付着するが、ポスト35の上面は絶縁接着材15により覆われなくなる。   Specifically, referring to FIG. 5A, the thickness L2 of the post 35 is set to about 40 μm or more and 100 μm or less, thereby making it thicker than the thickness L1 (20 μm) of the insulating adhesive 15. By doing so, even if a part of the insulating adhesive 15 spreads to the post 35 side, the insulating adhesive 15 adheres to the side surface of the post 35, but the upper surface of the post 35 is covered with the insulating adhesive 15. Disappear.

更に本形態では、ポスト35の側面下端付近を内側に窪ませた窪み部17を設けている。従って、センサ素子18の重量により広がった絶縁接着材15がポスト35側に接近しても、接近した絶縁接着材15が窪み部17に収納されてポスト35の上面までは這い上がらない。   Furthermore, in this embodiment, a recessed portion 17 is provided in which the vicinity of the lower end of the side surface of the post 35 is recessed inward. Therefore, even if the insulating adhesive 15 spread due to the weight of the sensor element 18 approaches the post 35 side, the approaching insulating adhesive 15 is accommodated in the recessed portion 17 and does not crawl up to the upper surface of the post 35.

以上のことにより、センサ素子18の接続パッド18Aは、絶縁接着材15に覆われずに、半田11を介して確実にポスト35と電気的に接続される。   As described above, the connection pad 18 </ b> A of the sensor element 18 is reliably connected to the post 35 via the solder 11 without being covered with the insulating adhesive 15.

更に本工程では、センサ素子18に段差領域19を設け、この段差領域19の側壁に設けられた接続パッド18Aとポスト35とを半田11で接続している。従って、センサ素子18が備える段差領域19に、ポスト35の一部(紙面上では左側の端部)を収納させることが可能となるので、センサ素子18の実装に必要とされる面積を低減させて実装密度を向上させることができる。   Further, in this step, a step region 19 is provided in the sensor element 18, and the connection pad 18 A provided on the side wall of the step region 19 and the post 35 are connected by the solder 11. Accordingly, a part of the post 35 (the left end on the paper surface) can be accommodated in the step region 19 included in the sensor element 18, thereby reducing the area required for mounting the sensor element 18. Mounting density can be improved.

図6を参照して、次に、回路基板40の上面に配置された各素子を、金型を用いた射出成形により樹脂封止する。図6(A)は本工程を示す平面図であり、図6(B)は断面図である。   Referring to FIG. 6, next, each element arranged on the upper surface of the circuit board 40 is resin-sealed by injection molding using a mold. FIG. 6A is a plan view showing this step, and FIG. 6B is a cross-sectional view.

図6(A)および図6(B)を参照して、本工程では、モールド用の金型50のキャビティ60に各ブロック42を収納させて樹脂封止を行っている。即ち本工程では、回路基板40の上面に設けられた複数の素子配置領域44を一括して樹脂封止した後に、各素子配置領域44を分離するMAP(multi area package)を行っている。キャビティ60の紙面上に於ける右側の側辺には、封止樹脂が注入されるゲート56が設けられ、左側の側辺にはキャビティ60内部の空気が放出されるエアベント58が設けられている。   Referring to FIGS. 6A and 6B, in this step, each block 42 is accommodated in a cavity 60 of a mold 50 for molding and resin sealing is performed. In other words, in this step, a plurality of element arrangement regions 44 provided on the upper surface of the circuit board 40 are collectively sealed with resin, and then MAP (multi area package) for separating the element arrangement regions 44 is performed. A gate 56 into which sealing resin is injected is provided on the right side of the cavity 60 on the paper surface, and an air vent 58 through which air inside the cavity 60 is discharged is provided on the left side. .

図6(B)を参照して、本工程で用いる金型50は、上金型52と下金型54とから構成される。下金型54の上面に回路基板40を載置した後に、上金型52と下金型54とを当接させることにより、ブロック42に含まれる各素子がキャビティ60の内部に収納される。この状態で、液状または半固形状の封止樹脂32を、ゲート56からキャビティ60に注入すると、注入された封止樹脂32によりキャビティ60は充填される。封止樹脂32の注入に伴い、キャビティ60内部の空気はエアベント58を経由して外部に放出される。封止樹脂32のキャビティ60への注入が終了した後は、注入された封止樹脂32を硬化させた後に、上金型52と下金型54とを離形させて、各ブロック42が樹脂封止された回路基板40を金型50から取り出す。   With reference to FIG. 6B, the mold 50 used in this step includes an upper mold 52 and a lower mold 54. After placing the circuit board 40 on the upper surface of the lower mold 54, the upper mold 52 and the lower mold 54 are brought into contact with each other, whereby each element included in the block 42 is accommodated in the cavity 60. In this state, when the liquid or semi-solid sealing resin 32 is injected into the cavity 60 from the gate 56, the cavity 60 is filled with the injected sealing resin 32. Along with the injection of the sealing resin 32, the air inside the cavity 60 is discharged to the outside via the air vent 58. After the injection of the sealing resin 32 into the cavity 60 is completed, the injected sealing resin 32 is cured, and then the upper mold 52 and the lower mold 54 are separated, and each block 42 is made of resin. The sealed circuit board 40 is taken out from the mold 50.

キャビティ60に注入される封止樹脂32は、粒状のフィラーが高充填された樹脂材料からなり、封止樹脂32全体に対してフィラーが含まれる割合は例えば85重量%程度である。また、封止樹脂32を構成する樹脂材料としては、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂またはアクリル樹脂等の熱可塑性樹脂が採用される。   The sealing resin 32 injected into the cavity 60 is made of a resin material highly filled with granular filler, and the ratio of the filler to the entire sealing resin 32 is, for example, about 85% by weight. As the resin material constituting the sealing resin 32, a thermosetting resin such as an epoxy resin or a thermoplastic resin such as an acrylic resin is employed.

図7の平面図を参照して、次に、封止樹脂32および回路基板40を分離して、分離された素子配置領域44から成るセンサ装置を得る。   With reference to the plan view of FIG. 7, next, the sealing resin 32 and the circuit board 40 are separated to obtain a sensor device including the separated element arrangement regions 44.

本工程では、素子配置領域44同士の間に規定されたダイシングラインDLに沿って、高速で回転するブレードを移動させることにより、封止樹脂32および回路基板40のダイシングを行う。尚、本工程のダイシングは、回路基板40全体の下面をダイシングシートに貼着した後に行っても良いし、ブロック42に含まれる封止樹脂および回路基板を、回路基板40の周辺部から分離した後に、ブロック42を個別にダイシングシートに貼着した後に行っても良い。   In this step, the sealing resin 32 and the circuit board 40 are diced by moving a blade that rotates at high speed along a dicing line DL defined between the element arrangement regions 44. The dicing in this step may be performed after the lower surface of the entire circuit board 40 is attached to the dicing sheet, or the sealing resin and the circuit board included in the block 42 are separated from the peripheral portion of the circuit board 40. It may be performed after the blocks 42 are individually attached to the dicing sheet.

以上の工程を経て、図1に構造を示すセンサ装置10が製造される。   Through the above steps, the sensor device 10 having the structure shown in FIG. 1 is manufactured.

10 センサ装置
11 半田
11A 半田ボール
12 回路基板
14 センサ素子
14A 接続パッド
15 絶縁接着材
16 センサ素子
16A 接続パッド
17 窪み部
18 センサ素子
18A 接続パッド
19 段差領域
20 半導体素子
22 加速度センサ
24 金属細線
26 センサ部
28 センサ部
30 センサ部
32 封止樹脂
34 パッド
35 ポスト
36 裏面電極
38 半田バンプ
40 回路基板
42 ブロック
44 素子配置領域
46 パターン
48 パターン
50 金型
52 上金型
54 下金型
56 ゲート
58 エアベント
60 キャビティ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Sensor apparatus 11 Solder 11A Solder ball 12 Circuit board 14 Sensor element 14A Connection pad 15 Insulating adhesive 16 Sensor element 16A Connection pad 17 Recessed part 18 Sensor element 18A Connection pad 19 Step area 20 Semiconductor element 22 Acceleration sensor 24 Metal thin wire 26 Sensor Part 28 sensor part 30 sensor part 32 sealing resin 34 pad 35 post 36 back electrode 38 solder bump 40 circuit board 42 block 44 element placement area 46 pattern 48 pattern 50 mold 52 upper mold 54 lower mold 56 gate 58 air vent 60 cavity

Claims (7)

上面に導電パターンが形成された回路基板と、
センサ部と接続された第1接続パッドが上面に形成され、前記第1接続パッドと前記回路基板の導電パターンとが金属細線を経由して接続された第1センサ素子と、
センサ部と接続された第2接続パッドが上面に形成され、前記第2接続パッドと前記回路基板の導電パターンとが金属細線を経由して接続されると共に、長手方向が前記第1センサ素子の長手方向に対して直交するように配置された第2センサ素子と、
センサ部と接続された第3接続パッドが側面に形成され、前記第3接続パッドと前記回路基板の前記導電パターンとが導電性接合材を介して接続された第3センサ素子と、を備え、
前記第3センサ素子の前記第3接続パッドは、局所的に厚く形成された前記導電パターンから成るポストに前記導電性接合材を介して接続されることを特徴とするセンサ装置。
A circuit board having a conductive pattern formed on the upper surface;
A first connection element connected to the sensor unit is formed on the upper surface, and the first sensor element is connected to the first connection pad and the conductive pattern of the circuit board via a thin metal wire;
A second connection pad connected to the sensor unit is formed on the upper surface, the second connection pad and the conductive pattern of the circuit board are connected via a fine metal wire, and the longitudinal direction of the first sensor element is A second sensor element arranged to be orthogonal to the longitudinal direction;
A third connection pad connected to the sensor unit is formed on a side surface, and the third connection pad and the conductive pattern of the circuit board are connected to each other through a conductive bonding material.
3. The sensor device according to claim 1, wherein the third connection pad of the third sensor element is connected to a post made of the conductive pattern formed locally thick via the conductive bonding material.
前記第3センサ素子の下面は、絶縁接着材を介して前記回路基板の上面に固着され、
前記ポスト厚みは、前記絶縁接着材よりも厚く形成されることを特徴とする請求項1記載のセンサ装置。
The lower surface of the third sensor element is fixed to the upper surface of the circuit board via an insulating adhesive,
The sensor device according to claim 1, wherein the post thickness is formed to be thicker than the insulating adhesive.
前記ポストの前記第3センサ素子側の下部を窪ませて窪み部を設けることを特徴とする請求項2記載のセンサ装置。   The sensor device according to claim 2, wherein a recess is provided by recessing a lower portion of the post on the third sensor element side. 第3センサ素子の前記第3接続パッドは、前記第3センサ素子を構成する基板を段差形状に窪ませた段差部の側壁に設けられることを特徴とする請求項3記載のセンサ装置。   4. The sensor device according to claim 3, wherein the third connection pad of the third sensor element is provided on a side wall of a stepped portion in which a substrate constituting the third sensor element is recessed in a stepped shape. 上面に導電パターンが形成された回路基板を用意する工程と、
センサ部と接続された接続パッドを上面に有する第1センサ素子および第2センサ素子を、前記回路基板の上面に固着すると共に、前記第1センサ素子および第2センサ素子が備える前記接続パッドと前記回路基板上の前記導電パターンとを金属細線を経由して接続する工程と、
センサ部と接続された接続パッドを側面に有する第3センサ素子を、前記回路基板の上面に固着すると共に、前記第3センサ素子の前記接続パッドと前記回路基板上の前記導電パターンとを導電性固着材を介して接続する工程と、を備え、
前記第3センサの側面に設けられた前記接続パッドは、局所的に厚く形成された前記導電パターンから成るポストに、前記導電性接合材を介して接続されることを特徴とするセンサ装置の製造方法。
Preparing a circuit board having a conductive pattern formed on the upper surface;
The first sensor element and the second sensor element having a connection pad connected to the sensor unit on the upper surface are fixed to the upper surface of the circuit board, and the connection pad included in the first sensor element and the second sensor element and the Connecting the conductive pattern on the circuit board via a fine metal wire;
A third sensor element having a connection pad connected to the sensor portion on a side surface is fixed to the upper surface of the circuit board, and the connection pad of the third sensor element and the conductive pattern on the circuit board are electrically conductive. A step of connecting via a fixing material,
The connection pad provided on the side surface of the third sensor is connected to a post made of the conductive pattern formed locally thick via the conductive bonding material. Method.
前記第3センサの下面は、絶縁接着材を介して前記回路基板の上面に固着され、
前記ポストは、前記絶縁接着材よりも厚く形成されることを特徴とする請求項5記載のセンサ装置の製造方法。
The lower surface of the third sensor is fixed to the upper surface of the circuit board via an insulating adhesive,
6. The method of manufacturing a sensor device according to claim 5, wherein the post is formed thicker than the insulating adhesive.
前記ポストの前記第3センサ素子側の下部を窪ませて窪み部を設け、
液状または半固形状の状態で前記回路基板の上面に供給される前記絶縁接着材の一部を、前記窪み部に収納させることを特徴とする請求項6記載のセンサ装置の製造方法。
The lower part of the post on the third sensor element side is recessed to provide a recessed part,
The method for manufacturing a sensor device according to claim 6, wherein a part of the insulating adhesive supplied to the upper surface of the circuit board in a liquid or semi-solid state is stored in the recess.
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