JP2004112310A - Transistor circuit - Google Patents

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Tadayuki Inamura
稲村 忠之
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NEC Yamagata Ltd
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NEC Yamagata Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transistor circuit capable of shifting a level of an input signal at a high speed and providing an output with low power consumption. <P>SOLUTION: A voltage drop circuit P2 provided between a power terminal and a power line of a signal input circuit 12 and producing a voltage drop between both terminals and a switch circuit P3 turned ON / OFF in response to an output of the signal input circuit 12 are connected in parallel. The voltage drop circuit P2 drops a voltage at the power terminal of the signal input circuit 12 when a high level is given to the signal input circuit 12 to prevent a through current flowing to the signal input circuit 12 and when a low level is given to the signal input circuit 12, the switch circuit P3 boosts a voltage at the power terminal of the signal input circuit 12 to ensure a high level of the output. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、トランジスタ回路に関する。特にPチャンネル型MOSトランジスタとNチャンネル型MOSトランジスタとを含むCMOSで構成され、入力信号の電圧をレベルシフトして出力するレベルシフト回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、消費電力の低減のため、また、半導体集積回路の高集積化微細化が進むにつれて素子の耐圧が低下するため、内部回路の低電圧化が進められ、内部回路の電源電圧として1.5Vを使用する半導体集積回路も現れている。しかしながら半導体集積回路と外部とのインタフェースには従来通り電圧が3.3Vや5.0Vの信号が使われている。そのため、外部と入出力を行う外部インタフェース回路には、3.3Vまたは5.0Vの電源電圧を与え、内部回路からの1.5V系の信号を3.3Vまたは5.0Vにレベル変換して外部に出力するレベルシフト回路を内蔵することが一般的になっている。
【0003】
この従来のレベルシフト回路について図面を用いて説明する。図9は、従来例1のレベルシフト回路のブロック図である(例えば、特許文献1参照。)。図9のレベルシフト回路は、1.5V系の電源で動作するCMOSインバータI101、I102と、NチャンネルMOSトランジスタN101、N102、PチャンネルMOSトランジスタP101、P102からなるたすきがけ回路、3.3V系の電源で動作するCMOSインバータI103から構成される。これらの回路のグランドにはすべて0Vが与えられ、インバータI101、I102には、1.5Vの電源が、たすきがけ回路とインバータI103には、3.3Vの電源が供給される。ここで、同じ導電型のNチャンネルMOSトランジスタN101とN102同士、およびPチャンネルMOSトランジスタP101とP102同士ではともに同等な駆動能力であるが、NチャンネルMOSトランジスタN101とN102は、PチャンネルMOSトランジスタP101とP102よりかなり大きな駆動能力を持つようにトランジスタのサイズが設定されている。
【0004】
次に、この従来例1のレベルシフト回路の動作について説明する。図10は、図9のレベルシフト回路の波形図である。初期状態t20では、インバータI101の入力INに0Vのローレベルが与えられており、このときインバータI101の出力D点はハイレベルとなりNチャンネルMOSトランジスタN101のゲート電極は1.5Vになるので、NチャンネルMOSトランジスタN101はオンしている。また、インバータI102の出力はローレベルであるので、NチャンネルMOSトランジスタN102はオフし、PチャンネルMOSトランジスタP101はオフ、PチャンネルMOSトランジスタP102は導通している。このときは、E点は0V、F点は3.3Vとなり出力OUTの電圧は0Vとなりローレベルを出力している。
【0005】
次に入力INが立ち上がるとそれに応答してタイミングt21でインバータI102の出力D点が立下りはじめ、それに応答してインバータI102の出力電圧は上昇する。インバータI102の出力電圧がNチャンネルMOSトランジスタN102の閾値電圧分約0.8Vまで上昇するとNチャンネルトランジスタN102は導通を開始し、導通状態にあるPチャンネルトランジスタP102とのオン抵抗のバランスにより、F点の電位は3.3Vから降下を開始する(タイミングt22)。ただし、このt22のタイミングではE点の電圧は0Vのままである。つづいてF点の電位が約2.5Vまで降下すると、PチャンネルMOSトランジスタP101が導通を開始し、E点の電位は0Vから上昇を開始する。E点の電位が約2.5Vまで上昇するとPチャンネルMOSトランジスタP102はオフし、F点の電位は0Vまで降下し、出力OUTからは安定したハイレベル3.3Vを出力する(タイミングt23)。
【0006】
次に、入力INがハイレベル1.5Vからローレベル0Vにたち下がると、インバータI101の出力D点は0Vから1.5Vへ上昇を開始する(タイミングt24)。D点の電位が約0.8Vを超えると、NチャンネルMOSトランジスタN101は導通し始め、導通状態にあるPチャンネルトランジスタP101とのオン抵抗のバランスにより、E点の電位も3.3Vから徐々に降下を開始する(タイミングt25)。また、D点がハイレベルとなるとインバータI102の出力がローレベルとなり、NチャンネルMOSトランジスタN102がオフする。続いてE点の電位が約2.5Vまで下がると今度はPチャンネルMOSトランジスタP102が導通し始め、F点の電位は0Vから上昇し、F点の電位が約2.5Vに達すると、PチャンネルMOSトランジスタP101はオフし、E点の電位は0Vまで低下し、F点は3.3V、OUTは0Vの安定したローレベルを出力する(タイミングt26)。
【0007】
この従来例1のレベルシフト回路は、スイッチングしないとき、電流は流れないが、スイッチング時に、直列接続されているPチャンネルMOSトランジスタとNチャンネルMOSトランジスタ(P101とN101、及びP102とN102)が同時に導通し互いに引っ張りあうタイミングが生ずるので貫通電流が流れ、かつスイッチング動作も遅くなる。
【0008】
次に、上記従来例1とは異なるレベルシフト回路について従来例2として説明する。この従来例2は文献名を特定できないが公知の回路である。
【0009】
図11は従来例2のブロック図であり直列接続された4段のCMOSインバータI111〜I114からなる。ここで、CMOSインバータI111、I113、I114はゲート電極、ドレイン電極がそれぞれ共通接続されたPチャンネルMOSトランジスタ、NチャンネルMOSトランジスタそれぞれ1個づつからなる通常のCMOSインバータであるが、CMOSインバータI112は、図示するように直列接続された2つのPチャンネルMOSトランジスタP111、P112と1つのNMOSトランジスタから構成されている。ここで、NチャンネルMOSトランジスタN111はPチャンネルMOSトランジスタP111及びP112よりかなり大きな駆動能力を持つようにトランジスタのサイズが設定されている。なお、インバータI111には、1.5Vが、インバータI112〜I114には3.3Vが電源として供給されている。グランドは0Vで共通である。
【0010】
次に、図11のレベルシフト回路の動作についてタイミングチャート図12を用いて説明する。初期状態t30ではインバータI111への入力INが0Vであり、インバータI111の出力G点の電位は1.5Vとなる。このとき、PチャンネルMOSトランジスタP111、P112、NチャンネルMOSトランジスタN111はともにオン状態となり、貫通電流が定常的に流れるが、上述したようにNチャンネルMOSトランジスタN111はPチャンネルMOSトランジスタP111及びP112より大きな駆動能力を有しているので、インバータI112の出力H点の電位は0Vに近い電位となる。従ってインバータI113の出力は3.3Vのハイレベル、インバータI114の出力OUTは、0Vのローレベルとなる。
【0011】
次に、t31でインバータI111への入力INの電圧が0Vから1.5Vに変化すると、G点は0Vとなり、NチャンネルMOSトランジスタN111はオフし、インバータI112は貫通電流が流れない状態となってH点の電圧は、3.3Vに上昇する。H点の電圧が3.3Vまで上昇するとそれにつれてインバータI113の出力は0Vとなり、インバータI114の出力OUTは3.3Vのハイレベルが出力される。
【0012】
その後、t32でインバータI111への入力INの電圧が1.5Vから0Vに変化すると、最初の状態に戻り、インバータI112には貫通電流が流れる状態となって出力OUTには、0Vが出力される。
【0013】
次に、従来例3としてTTLレベルの信号をCMOSレベルの信号に変換するトランジスタ回路について説明する(例えば、特許文献2参照。)。図13は、この従来のトランジスタ回路のブロック図である。このトランジスタ回路はPチャンネルMOSトランジスタP121とNチャンネルMOSトランジスタN121からなるCMOSインバータI121と、PチャンネルMOSトランジスタP122とNチャンネルMOSトランジスタN122からなるCMOSインバータI122と、ソース電極がPチャンネルMOSトランジスタP121のソース電極にドレイン電極が正電源VCCにゲート電極が基準バイアス電源VRにそれぞれ接続されたNチャンネルMOSトランジスタN123と、ソース電極が正電源VCCにドレイン電極がインバータI121の出力にゲート電極がインバータI122の出力に接続されたPチャンネルMOSトランジスタP123とを備えている。ここで、正電源VCCは5Vが与えられており、インバータI121とI122のグランドは0Vで共通である。
【0014】
次に、この従来例3のトランジスタ回路について動作を説明する。このトランジスタ回路は、TTLレベルの信号をCMOSレベルの信号に変換する回路であるので、ローレベルの信号を受けているときのI121の入力電圧は0.8Vである。このときインバータI121は、NチャンネルMOSトランジスタN121がオフし、PチャンネルMOSトランジスタP121がオンするのでインバータI121の出力はインバータI122の入力スレッシュホールドレベルより高い電圧が出力される。従ってインバータI122の出力はほぼ0Vとなり、PチャンネルMOSトランジスタP123がオンし、インバータI121の出力はハイレベル5Vまで引き上げられ、インバータI122の出力はローレベル0Vで安定する。
【0015】
次に、インバータI121の入力電圧がローレベル0.8VからTTLレベル2.2Vに変化するとインバータI121の正電源は、ゲート電極が基準バイアス電源VRに接続されたNチャンネルMOSトランジスタN123を介して供給されているので、PチャンネルMOSトランジスタP121のゲートソース間電圧はPチャンネルMOSトランジスタP121のスレッシュホールドレベル以下となり、PチャンネルMOSトランジスタP121がオフ、NチャンネルMOSトランジスタN121がオンとなる。ここで、PチャンネルMOSトランジスタP123がオンしているので、PチャンネルMOSトランジスタP123とNチャンネルMOSトランジスタN121が同時にオンとなり、電源VCCからPチャンネルMOSトランジスタP123とNチャンネルMOSトランジスタN121とを通ってグランドへ貫通電流が流れる。このとき、PインバータI122の入力電圧は、電圧VCCがPチャンネルMOSトランジスタP123のソースドレイン間電圧とNチャンネルMOSトランジスタN121のソースドレイン電圧とで分割される電圧となるが、前述したようにNチャンネルMOSトランジスタN121の駆動能力は、PチャンネルMOSトランジスタP123より大きく設定されているので、インバータI122の入力電圧は徐々に低下する。そして、インバータI122の入力電圧がスレッシュホールド電圧より低くなると、インバータI122の出力は反転し、ハイレベルへと上昇する。さらにインバータI122の出力が5Vに近い電圧まで上昇するとPチャンネルMOSトランジスタP123はオフし、電源VCCからPチャンネルMOSトランジスタP123とNチャンネルMOSトランジスタN121とを通ってグランドに流れる貫通電流がなくなると共に、インバータI121とインバータI122の出力電圧はそれぞれほぼ0V、5Vで固定される。
【0016】
【特許文献1】
特開2000−174610号公報(第3−4頁、図13)
【特許文献2】
特開昭60−70822号公報(第4頁、第6図)
【0017】
【発明が解決しようとする課題】
以上説明した従来例1乃至3のレベルシフト回路として機能するトランジスタ回路は低消費電力で高速なスイッチングを得ようとするには、それぞれ以下に示す問題がある。
【0018】
まず、図9に示す従来例1のトランジスタ回路は、直列に接続されたたすきがけ回路のPチャンネルMOSトランジスタとNチャンネルMOSトランジスタ(P101とN101、P102とN102)のNチャンネルMOSトランジスタのゲートには入力信号が接続されているがPチャンネルMOSトランジスタのゲートにはたすきがけ回路の反対側の出力が接続されている。したがって、入力信号が変化したとき、NチャンネルMOSトランジスタはすぐオンオフするが、オンしたNチャンネルMOSトランジスタと現状のオン状態を維持しようとするPチャンネルMOSトランジスタとの間で貫通電流が流れ、スイッチング速度が遅くなるため、高速なスイッチングが必要な用途には適していない。
【0019】
また、図11に示す従来例2のトランジスタ回路は、入力電圧INがローレベルのとき、I112のPチャンネルMOSトランジスタP111、P112とNチャンネルMOSトランジスタが共にオン状態となるため、入力電圧INがローレベルである限り定常的に貫通電流が流れるため、低消費電力なトランジスタ回路が実現できない。
【0020】
さらに、図13に示す従来例3のトランジスタ回路は、入力電圧がローレベルからハイレベルに立ちあがるとき、トランジスタ回路の出力であるインバータI122の出力を受け現状を維持してオン状態を継続しようとするPチャンネルMOSトランジスタP123と入力信号を受けオン状態に変化するNチャンネルMOSトランジスタN121が同時にオンし、PチャンネルMOSトランジスタP123からNチャンネルMOSトランジスタN121へ貫通電流が流れる。この貫通電流が流れる状態はPチャンネルMOSトランジスタP123とNチャンネルMOSトランジスタN121のレシオによりこの2つのトランジスタの接点の電圧が徐々に上昇し、インバータI122の入力スレッシュホールドレベルを超えるまで解消しない。したがって、入力電圧がローレベルからハイレベルに立ちあがるときのスイッチングは、従来例1のトランジスタ回路と同様に遅くなり、高速なスイッチング動作は期待できない。
【0021】
上記従来のトランジスタ回路を検討した結果、本発明の目的は、低消費電力で高速なトランジスタ回路、またはレベルシフト回路を提供することである。
【0022】
【課題を解決するための手段】
本発明によるトランジスタ回路は、入力信号を受けてオン/オフ動作を実行するトランジスタを含む信号入力回路と、この信号入力回路の電源端と電源供給ラインとの間に設けられ両端間に電圧降下を発生する電圧降下回路と、前記信号入力回路の電源端と前記電源ラインとの間に接続され前記信号入力回路の出力信号に応答して制御されるスイッチ回路であってオンした時に前記信号入力回路の電源端と前記電源ラインとの間に電気通路を形成するスイッチ回路とを有する。
【0023】
このように、本発明では、信号入力回路の電源端と電源供給ラインとの間に設けられ両端間に電圧降下を発生する電圧降下回路と、前記信号入力回路の電源端と前記電源ラインとの間に接続され前記信号入力回路の出力信号に応答して制御されるスイッチ回路であってオンした時に前記信号入力回路の電源端と前記電源ラインとの間に電気通路を形成するスイッチ回路とを設けたので、入力信号のレベルにより、信号入力回路の電源端に与える電源電圧を変えることができ、スイッチング時に貫通電流が流れることがほとんどなく、かつ、高速にスイッチング動作するトランジスタ回路またはレベルシフト回路が実現できる。
【0024】
また、本発明のトランジスタ回路は、前記トランジスタ回路を複数段縦続接続し、各段に含まれる電圧降下回路の電圧降下を後段に含まれる電圧降下回路ほど電圧降下の小さくすることができる。このような構成によれば、縦続接続する段数を増やすことにより入力信号をいくらでも大きな電圧の信号にレベルシフトできる。また、1段あたりのレベルシフトする電圧レベルを小さくすることにより信号入力回路の定常的な貫通電流をより完全に防ぐこともできる。
【0025】
さらに、本発明によるトランジスタ回路は、第1導電型の第1のMOSトランジスタと、ゲート電極とドレイン電極がそれぞれ前記第1のMOSトランジスタのゲート電極とドレイン電極とに接続された第2導電型の第2のMOSトランジスタとを含むCMOSゲート回路と、前記第1のMOSトランジスタのソース電極と電源供給ラインとの間に設けられ両者間に電圧降下を発生させる電圧降下回路と、前記ソース電極と前記電源供給ラインとの間に前記電圧降下回路と並列に接続されたスイッチ回路であって、前記CMOSゲート回路の出力電圧に基づいてオンオフ制御され、オンしたときに前記第1のMOSトランジスタのソース電極と前記電源ラインとの間に電気通路を形成する第1のスイッチ回路とを含んでいる。
【0026】
このように、本発明では、CMOSゲート回路のソース電極と電源ラインとの間に電圧降下回路とスイッチ回路とを並列に接続し、スイッチ回路のオンオフをCMOSゲート回路の出力電圧に基づいて制御するようにしたので、入力信号のレベルにより、CMOSゲート回路に与える電源電圧を変えることができ、スイッチング時に貫通電流が流れることがほとんどなく、かつ、高速にスイッチング動作するトランジスタ回路またはレベルシフト回路が実現できる。
【0027】
さらに、本発明のトランジスタ回路は、前記電源ラインとCMOSゲート回路の電源端との間に前記電圧降下回路と直列に接続された第2のスイッチ回路と、前記前記第2のMOSトランジスタのソース電極とドレイン電極とに接続され、第2のMOSトランジスタに並列に接続された第3のスイッチ回路を更に含み、制御信号により、前記第2のスイッチ回路をオンさせるときは前記第3のスイッチ回路をオフさせ、前記第2のスイッチ回路をオフさせるときは前記第3のスイッチ回路をオンさせるようにしてもよい。このような構成とすることにより、高速なスイッチング動作が不要なときは制御信号によりCMOSゲート回路のリーク電流を防ぐと共に、トランジスタ回路またはレベルシフト回路の出力電圧を固定することができる。
【0028】
さらに、本発明のトランジスタ回路は、前記トランジスタ回路を複数段縦続接続し、各段に含まれる電圧降下回路の電圧降下を後段のトランジスタ回路に含まれる電位差発生回路ほど小さくすることができる。このような構成によれば、縦続接続する段数を増やすことにより入力信号をいくらでも大きな電圧の信号にレベルシフトできる。また、1段あたりのレベルシフトする電圧レベルを小さくすることにより第1のCMOSインバータの定常的な貫通電流をより完全に防ぐこともできる。
【0029】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の第1の実施形態であるトランジスタ回路のブロック図である。図1は、1.5Vの電源が供給されるCMOSインバータI1と、PチャンネルMOSトランジスタP1とNチャンネルMOSトランジスタN1からなるCMOSインバータI2と、3.3Vの電源が供給されるCMOSインバータI3、I4と、上記CMOSインバータI2と上記3.3V電源との間に挿入されるPチャンネルMOSトランジスタからなる電圧降下回路P2と電圧降下回路P2と並列に接続される同じくPチャンネルMOSトランジスタで構成されるスイッチ回路P3とからなる。CMOSインバータI2は信号入力回路またはCMOSゲート回路として入力信号を受け出力信号を出力する。インバータI1は波形生成用のインバータであり、省略してもよく、省略する場合には、1.5V系の入力信号INの反転信号を直接CMOSインバータI2に入力すればよい。CMOSインバータI2のPチャンネルMOSトランジスタP1とNチャンネルMOSトランジスタN1はそれぞれゲート電極がインバータI1の出力に接続される。NチャンネルMOSトランジスタN1はソース電極がグランドに、PチャンネルMOSトランジスタP1のソース電極は電圧降下回路を構成するPチャンネルMOSトランジスタP2のドレイン電極及びゲート電極と、スイッチ回路を構成するPチャンネルMOSトランジスタP3のドレイン電極とに接続される。さらに、PチャンネルMOSトランジスタP1とNチャンネルMOSトランジスタN1のドレイン電極は共通接続され、インバータI3の入力に接続される。インバータI3の出力はインバータI4の入力と、スイッチ回路となるPチャンネルMOSトランジスタP3のゲート電極に接続される。PチャンネルMOSトランジスタP2とP3のソース電極は、3.3Vの電源ラインに接続される。インバータI4は、3.3V系の回路を駆動するために設けられているが、インバータI4を省略してインバータI3から直接出力をとりだしてもよい。
【0030】
次に、図1記載の本発明のレベルシフト回路の動作をタイミングチャート図2、図3を用いて説明する。初期状態t0では、入力INにローレベル0Vが入力されているものとする。このときインバータI1の出力A点の電圧はハイレベル1.5Vとなる。ここでPチャンネルMOSトランジスタP1、P2の閾値(VT)が0.8Vだとすると、共通接続されたPチャンネルMOSトランジスタP2のゲート、ドレイン及びPチャンネルMOSトランジスタP1のソース電極は約3.3V−0.8V=2.5Vの電圧となる。A点の電圧が1.5Vであるので、PチャンネルMOSトランジスタP1は弱くオンしているが、NチャンネルMOSトランジスタN1は強くオンするのでインバータI2の出力B点の電位はほぼローレベル0Vとなる。すると、インバータI3の出力C点はハイレベル3.3Vとなり、インバータI3はローレベル0Vを出力する。このときPチャンネルMOSトランジスタで構成されるスイッチ回路P3はオフとなる。
【0031】
次に、t1で入力INが0Vからハイレベル1.5Vに立ちあがるとインバータI1の出力A点の電圧は0Vにたち下がる。A点が立ち下がるとNチャンネルMOSトランジスタN1はオフし、PチャンネルMOSトランジスタP1がオンし、インバータI2の出力B点は約2.5Vまで立ちあがる(タイミングt2)。B点の電圧が2.5Vに立上るとインバータI3のPチャンネルMOSトランジスタはオフし、NチャンネルトランジスタはオンするのでC点の電圧は0Vまで立ち下がる。C点の電圧が0Vまでたち下がるとOUTは3.3Vのハイレベルを出力すると共に、PチャンネルMOSトランジスタからなるスイッチ回路P3がオンし、PチャンネルMOSトランジスタP1のソース電極は3.3Vまで引き上げられ、それにつれてB点の電圧も2.5Vから3.3Vまでさらに引き上げられる。
【0032】
さらに引き続いて入力INが1.5Vからローレベル0Vに立ち下がったときをタイミングチャート図3を用いて説明する。t3で入力INが立ち下がるとA点の電圧は0Vから1.5Vに立ちあがる。A点の電圧が1.5Vに立ち上がるとNチャンネルトランジスタN1がオンする。この時点では、スイッチ回路P3がオンしているため、PチャンネルMOSトランジスタP1のソース電極には3.3Vとなっており、スイッチ回路P3、PチャンネルMOSトランジスタP1、NチャンネルトランジスタN1を通って貫通電流が流れる。ここで、NチャンネルMOSトランジスタN1の駆動能力はPチャンネルMOSトランジスタP1、P3の駆動能力より大きいので、B点の電位はインバータI3の入力スレッシュホールド電圧以下となる(タイミングt4)。したがって、C点の電圧は約3.3V、出力OUTはローレベル0Vを出力する。C点の電圧は約3.3Vになると、PチャンネルMOSトランジスタからなるスイッチ回路P3はオフし、ダイオード接続したPチャンネルMOSトランジスタP2の電圧ドロップ分だけPチャンネルMOSトランジスタP1のソース電圧は低下し、約2.5Vになる。PチャンネルMOSトランジスタP1のソース電圧が約2.5Vまで低下すると、A点の電圧は1.5Vであるので、PチャンネルMOSトランジスタP1はほとんどオフし、B点の電圧はほぼ0Vになり、インバータI2の貫通電流は若干しか流れないようになる。
【0033】
次に、上述した第1の実施の形態について、従来例1及び従来例2と比較してシミュレーションを行った結果について説明する。シミュレーションは入力側の電源電圧1.35V、出力側の電源電圧3.0V、温度125℃の条件で行った。ここで、各トランジスタのサイズは、図1記載のP1のW/Lは2.5μm/0.39μm、P2のW/Lは10μm/0.39μm、P3のW/Lは0.5μm/0.39μm、N1のW/Lは5μm/0.55μm、図10記載のP101、P102のW/Lはそれぞれ2μm/0.39μm、N101、N102のW/Lはそれぞれ5μm/0.55μm、図12記載のP111、P112のW/Lはそれぞれ1.5μm/0.39μm、N111のW/Lは5μm/0.55μmとした。
【0034】
図4は上記シュミレーションによる入出力波形図である。図1記載の本発明では立ち上がり時間、立下り時間がそれぞれ0.50ns、0.39nsであるのに対して、従来例1では立ち上がり時間、立下り時間はそれぞれ0.95ns、1.06ns、従来例2では立ち上がり時間、立下り時間はそれぞれ0.41ns、0.36nsとなる結果を得た。
【0035】
次に、図5は上記シュミレーションによる中間ノード、すなわちそれぞれ図1のB点、図10のE点、図12のH点の波形図である。従来例1のE点の立ち上がり、立下りはともに直列接続されたPチャンネルMOSトランジスタとNチャンネルMOSトランジスタのバランスによって決まるため、スイッチング速度が遅い。また、従来例2のH点はローレベルを出力しているときもPチャンネルMOSトランジスタP111、P112がオフとならないため、0Vにはならない。さらに、本発明では、B点が立ち上がるときに約2Vまでは高速に立ち上がり出力を反転させ、その後、スイッチ回路P3が導通するのを待って3.0Vまで立ち上がることがわかる。
【0036】
次に、図6は、上記シュミレーションによる電流の波形図である。右軸は3.0V系の電源から流れ出る電流量を示す。従来例1では、立ち上がりと立下りのスイッチング時に長い時間大きな貫通電流が流れる。また、従来例2では、IN、OUTがローレベルのとき、定常的に電流が流れていることがわかる。一方、本発明ではスイッチング時の貫通電流は従来例1に比べると大幅に低減することができる。また、本発明では、0V出力時の定常電流は従来例2に比べると大幅に低減できていることが理解できる。消費電流についてのシミュレーション結果をまとめると、高速にスイッチングしているときの1周期あたりの平均消費電流は本発明が27μAであるのに対して、従来例1では101μA、従来例2では、35μAである。また、0V出力時の定常電流は本発明では8μAなのに対して、従来例1ではほぼ0、従来例2では35μAである。
【0037】
次に、第二の実施の形態として、上述した第一の実施の形態のトランジスタ回路またはレベルシフト回路を複数縦続させることにより、入力と出力で電源電圧に大きな差がある場合にも、高速かつ低消費電力でレベルシフトができるトランジスタ回路を得ることができる。以下、上述したトランジスタ回路またはレベルシフト回路を複数縦続接続させる例を第二の実施の形態として説明する。図7はたとえば、1.5V系の信号を5.0Vまでレベルシフトするのに好適なトランジスタ回路のブロック図である。図1と同じ回路は共通の符号を用い説明は省略する。図7では、図1で3.3Vの電源が供給されていた部分に5.0Vの電源が印加される。また、図7では、電圧降下回路はダイオード接続したPチャンネルMOSトランジスタを4段重ねて使用し大きな電位差を発生させている。さらに、図7では図1のインバータI3に相当するPチャンネルMOSトランジスタP31、NチャンネルMOSトランジスタN31の電源は、5.0V系の電源に直接接続されておらず、ダイオード接続されたPMOSトランジスタP32からなる第2の電位差発生回路及びこの第2の電位差発生回路に並列に5.0V系電源とPチャンネルMOSトランジスタP31のソース電極に接続されたPチャンネルMOSトランジスタP33からなる第二のスイッチ回路を介して5.0V系の電源に接続されている。図7の回路は、信号入力回路(CMOSゲート回路)と、信号入力回路と電源との間に並列に挿入される電圧降下回路、スイッチ回路からなるトランジスタ回路とを2段縦続接続していると考えてもよい。図4のI2とI3、P21〜P24とP32、P3とP33は、それぞれ前段と次段の信号入力回路(CMOSゲート回路)、電圧降下回路、スイッチ回路に相当する。前段の信号入力回路の出力信号は、次段の信号入力回路によって反転され前段のスイッチ回路に与えられている。
【0038】
第一の実施の形態では、入力系の電源電圧と出力系の電源電圧に大きな電位差がある場合には、信号入力回路(図1のI2)に入力される電圧レベルと電圧降下回路P2の発生させる電位差によっては、信号入力回路やこの信号入力回路の出力を受けるゲート(図1のインバータI3)に貫通電流が流れたり、また、入力系の電源電圧と出力系の電源電圧に電位差が大きすぎる場合には動作しない可能性があった。しかし、この第二の実施の形態では上述したようにトランジスタ回路を複数段縦続接続させることにより、入力系の電源電圧と出力系の電源電圧に大きな電位差が必要な場合にも、レベルシフト動作ができる。また、一段あたりのレベルシフト電圧を小さくして定常時に入力信号回路に流れる電流をゼロにすることもできる。図7はトランジスタ回路を2段に接続した例であるが、2段に限らず多段に縦続接続すれば段数を重ねれば重ねるほど入力系の電源電圧より大きなレベルの信号にレベルシフトすることができる。多段に縦続接続させる場合は、前段のトランジスタ回路またはレベルシフト回路に含まれる電圧降下回路が発生させる電圧降下をより大きなものとし、後段のトランジスタ回路に含まれる電圧降下回路ほど電圧降下を小さなものとすればよい。
【0039】
さらに、上述したトランジスタ回路に、高速なスイッチング動作が不要なときは信号入力回路に定常的に流れる貫通電流を防止し、かつ、出力電圧を固定する回路を付加した第三の実施の形態について説明する。図8は、この第三の実施の形態のブロック図である。図8は、図1のトランジスタ回路の電源と信号入力回路(CMOSゲート回路)との間に電圧降下回路と直列に接続されたPチャンネルMOSトランジスタからなる第2のスイッチ回路P41とCMOSインバータI2の出力とグランドとの間に接続されたNチャンネルMOSトランジスタからなる第3のスイッチ回路N41とをさらに備えている。そして、高速なスイッチング動作が不要なときは、スイッチ回路P41がオフし、N41がオンするように外部から制御信号によりオンオフ制御されており、スイッチ回路P41がオフし、N41がオンするとCMOSインバータI2の貫通電流は流れなくなり、B点の電位は0Vに固定される。一方、スイッチ回路P41がオンし、N41がオフするときは、図1と回路動作はまったく同じである。
【0040】
以上、本発明の好ましい実施の形態について説明をしたが、本発明は、上述した実施例には限られない。たとえば、上述した第一ないし第三の実施の形態では、電位差発生回路及び、第1のスイッチ回路は正電源とCMOSインバータとの間に挿入したが、負電源を用い、電位差発生回路及び第1のスイッチ回路は負電源とCMOSインバータのNチャンネルトランジスタソース電極との間に挿入してもよいことは言うまでもない。
【0041】
また、信号入力回路(CMOSゲート回路)は単に1入力1出力のインバータに限られず、複数の入力信号を受け入力信号をNAND、NOR等の論理演算を行って出力信号を出力するゲート回路であってもよい。例えば、図1、図7、図8のCMOSインバータI2をそれぞれCMOSのNANDゲート、NORゲートに置きかえれば、複数の入力信号を受け論理演算を行った結果をレベルシフトして出力するトランジスタ回路またはレベルシフト回路が得られる。図1、図7、図8のI1に相当する入力側のインバータは必要に応じて複数の入力信号毎に設ければよいことは言うまでもない。
【0042】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のトランジスタ回路は、低消費電流かつ高速に低電圧レベルの入力信号を高電圧レベルの信号にレベルシフトして出力することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態のトランジスタ回路を示すブロック図である。
【図2】図1のトランジスタ回路の入出力信号が立ち上がるときの波形図である。
【図3】図1のトランジスタ回路の入出力信号が立ち下がるときの波形図である。
【図4】本発明と従来例とを比較した入出力信号シミュレーション波形図である。
【図5】本発明と従来例とを比較した中間ノード信号シミュレーション波形図である。
【図6】本発明と従来例とを比較した消費電流シミュレーション波形図である。
【図7】本発明の第2の実施形態のトランジスタ回路を示すブロック図である。
【図8】本発明の第3の実施形態のトランジスタ回路を示すブロック図である。
【図9】従来例1のレベルシフト回路を示すブロック図である。
【図10】図9のレベルシフト回路の波形図である。
【図11】従来例2のレベルシフト回路を示すブロック図である。
【図12】図11のレベルシフト回路の波形図である。
【図13】従来例3のレベルシフト回路を示すブロック図である。
【符号の説明】
I1〜1122         CMOSインバータ
P1〜P123         PチャンネルMOSトランジスタ
N1〜N123         NチャンネルMOSトランジスタ
P2、P21〜P24、P32  電圧降下回路
P3、P33、P41、N41  スイッチ回路
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a transistor circuit. In particular, the present invention relates to a level shift circuit which is configured by a CMOS including a P-channel type MOS transistor and an N-channel type MOS transistor and shifts the level of an input signal voltage to output.
[0002]
[Prior art]
In recent years, in order to reduce power consumption and because the withstand voltage of elements decreases as semiconductor integrated circuits become more highly integrated and miniaturized, the voltage of internal circuits has been reduced, and the power supply voltage of internal circuits has been reduced to 1.5V. Some semiconductor integrated circuits using the same have appeared. However, a signal having a voltage of 3.3 V or 5.0 V is conventionally used for an interface between the semiconductor integrated circuit and the outside. Therefore, a power supply voltage of 3.3 V or 5.0 V is applied to an external interface circuit that performs input / output with the outside, and the level of a 1.5 V signal from the internal circuit is converted to 3.3 V or 5.0 V. It is common to incorporate a level shift circuit for outputting to the outside.
[0003]
This conventional level shift circuit will be described with reference to the drawings. FIG. 9 is a block diagram of a level shift circuit of Conventional Example 1 (for example, see Patent Document 1). The level shift circuit shown in FIG. 9 is a crossover circuit composed of CMOS inverters I101 and I102 operating with a 1.5V power supply, N-channel MOS transistors N101 and N102, and P-channel MOS transistors P101 and P102. It comprises a CMOS inverter I103 that operates on a power supply. 0V is applied to the grounds of these circuits, and 1.5V power is supplied to the inverters I101 and I102, and 3.3V power is supplied to the crossing circuit and the inverter I103. Here, the N-channel MOS transistors N101 and N102 and the P-channel MOS transistors P101 and P102 have the same driving capability, and the N-channel MOS transistors N101 and N102 have the same driving capability. The size of the transistor is set so as to have a considerably larger driving capability than P102.
[0004]
Next, the operation of the level shift circuit of the conventional example 1 will be described. FIG. 10 is a waveform diagram of the level shift circuit of FIG. In the initial state t20, a low level of 0 V is applied to the input IN of the inverter I101. At this time, the output point D of the inverter I101 becomes high and the gate electrode of the N-channel MOS transistor N101 becomes 1.5V. The channel MOS transistor N101 is on. Since the output of the inverter I102 is at a low level, the N-channel MOS transistor N102 is off, the P-channel MOS transistor P101 is off, and the P-channel MOS transistor P102 is conducting. At this time, the point E is 0 V, the point F is 3.3 V, the voltage of the output OUT is 0 V, and a low level is output.
[0005]
Next, when the input IN rises, the output point D of the inverter I102 starts falling at the timing t21 in response thereto, and the output voltage of the inverter I102 increases in response thereto. When the output voltage of the inverter I102 rises to about 0.8 V corresponding to the threshold voltage of the N-channel MOS transistor N102, the N-channel transistor N102 starts conducting, and the point F is determined by the balance of the on-resistance with the conducting P-channel transistor P102. Starts dropping from 3.3 V (timing t22). However, the voltage at point E remains at 0 V at the timing of t22. Subsequently, when the potential at the point F drops to about 2.5V, the P-channel MOS transistor P101 starts conducting, and the potential at the point E starts rising from 0V. When the potential at the point E rises to about 2.5 V, the P-channel MOS transistor P102 turns off, the potential at the point F falls to 0 V, and a stable high level of 3.3 V is output from the output OUT (timing t23).
[0006]
Next, when the input IN falls from the high level 1.5V to the low level 0V, the output point D of the inverter I101 starts increasing from 0V to 1.5V (timing t24). When the potential at the point D exceeds about 0.8 V, the N-channel MOS transistor N101 starts to conduct, and the potential at the point E gradually increases from 3.3 V due to the balance of the on-resistance with the P-channel transistor P101 in the conducting state. The descent is started (timing t25). When the point D goes high, the output of the inverter I102 goes low, turning off the N-channel MOS transistor N102. Subsequently, when the potential at the point E drops to about 2.5 V, the P-channel MOS transistor P102 starts to conduct, the potential at the point F rises from 0 V, and when the potential at the point F reaches about 2.5 V, P The channel MOS transistor P101 turns off, the potential at the point E drops to 0V, the point F outputs a stable low level of 3.3V, and the OUT outputs a stable low level of 0V (timing t26).
[0007]
In the level shift circuit of the conventional example 1, no current flows when switching is not performed, but at the time of switching, the P-channel MOS transistor and the N-channel MOS transistor (P101 and N101, and P102 and N102) connected in series conduct simultaneously. Then, a pull-through timing occurs, so that a through current flows and the switching operation is delayed.
[0008]
Next, a level shift circuit different from the first conventional example will be described as a second conventional example. The prior art 2 is a known circuit whose document name cannot be specified.
[0009]
FIG. 11 is a block diagram of the second conventional example, which comprises four stages of CMOS inverters I111 to I114 connected in series. Here, the CMOS inverters I111, I113, and I114 are ordinary CMOS inverters each having one P-channel MOS transistor and one N-channel MOS transistor whose gate electrode and drain electrode are commonly connected, respectively. As shown in the figure, it is composed of two P-channel MOS transistors P111 and P112 and one NMOS transistor connected in series. Here, the size of the N-channel MOS transistor N111 is set so as to have a considerably larger driving capability than the P-channel MOS transistors P111 and P112. 1.5 V is supplied to the inverter I111 and 3.3 V is supplied to the inverters I112 to I114. The ground is common at 0V.
[0010]
Next, the operation of the level shift circuit of FIG. 11 will be described with reference to a timing chart of FIG. In the initial state t30, the input IN to the inverter I111 is 0V, and the potential at the output G of the inverter I111 is 1.5V. At this time, the P-channel MOS transistors P111 and P112 and the N-channel MOS transistor N111 are all turned on, and a through current flows steadily. However, as described above, the N-channel MOS transistor N111 is larger than the P-channel MOS transistors P111 and P112. Since it has the driving capability, the potential at the output H point of the inverter I112 is close to 0V. Therefore, the output of the inverter I113 is at a high level of 3.3V, and the output OUT of the inverter I114 is at a low level of 0V.
[0011]
Next, when the voltage of the input IN to the inverter I111 changes from 0V to 1.5V at t31, the point G becomes 0V, the N-channel MOS transistor N111 turns off, and the inverter I112 enters a state where no through current flows. The voltage at point H rises to 3.3V. When the voltage at the point H rises to 3.3 V, the output of the inverter I113 becomes 0 V as the voltage rises, and the output OUT of the inverter I114 outputs a high level of 3.3 V.
[0012]
Thereafter, when the voltage of the input IN to the inverter I111 changes from 1.5V to 0V at t32, the state returns to the initial state, a through current flows to the inverter I112, and 0V is output to the output OUT. .
[0013]
Next, as a third conventional example, a transistor circuit that converts a TTL level signal into a CMOS level signal will be described (for example, see Patent Document 2). FIG. 13 is a block diagram of this conventional transistor circuit. This transistor circuit includes a CMOS inverter I121 including a P-channel MOS transistor P121 and an N-channel MOS transistor N121, a CMOS inverter I122 including a P-channel MOS transistor P122 and an N-channel MOS transistor N122, and a source electrode connected to the source of the P-channel MOS transistor P121. An N-channel MOS transistor N123 in which the drain electrode is connected to the positive power supply VCC and the gate electrode is connected to the reference bias power supply VR, the source electrode is the positive power supply VCC, the drain electrode is the output of the inverter I121, and the gate electrode is the output of the inverter I122. And a P-channel MOS transistor P123 connected to the Here, 5V is applied to the positive power supply VCC, and the grounds of the inverters I121 and I122 are common to 0V.
[0014]
Next, the operation of the transistor circuit of Conventional Example 3 will be described. Since this transistor circuit is a circuit that converts a TTL level signal to a CMOS level signal, the input voltage of I121 when receiving a low level signal is 0.8V. At this time, since the N-channel MOS transistor N121 is turned off and the P-channel MOS transistor P121 is turned on, the inverter I121 outputs a voltage higher than the input threshold level of the inverter I122. Therefore, the output of the inverter I122 becomes almost 0V, the P-channel MOS transistor P123 is turned on, the output of the inverter I121 is raised to the high level 5V, and the output of the inverter I122 is stabilized at the low level 0V.
[0015]
Next, when the input voltage of the inverter I121 changes from low level 0.8V to TTL level 2.2V, the positive power of the inverter I121 is supplied via the N-channel MOS transistor N123 whose gate electrode is connected to the reference bias power supply VR. Therefore, the gate-source voltage of the P-channel MOS transistor P121 becomes lower than the threshold level of the P-channel MOS transistor P121, the P-channel MOS transistor P121 is turned off, and the N-channel MOS transistor N121 is turned on. Here, since the P-channel MOS transistor P123 is on, the P-channel MOS transistor P123 and the N-channel MOS transistor N121 are simultaneously turned on, and the power supply VCC passes through the P-channel MOS transistor P123 and the N-channel MOS transistor N121 to ground. Through current flows through At this time, the input voltage of the P inverter I122 is a voltage obtained by dividing the voltage VCC by the source-drain voltage of the P-channel MOS transistor P123 and the source-drain voltage of the N-channel MOS transistor N121. Since the driving capability of MOS transistor N121 is set higher than that of P-channel MOS transistor P123, the input voltage of inverter I122 gradually decreases. When the input voltage of the inverter I122 becomes lower than the threshold voltage, the output of the inverter I122 is inverted and rises to a high level. Further, when the output of the inverter I122 rises to a voltage close to 5 V, the P-channel MOS transistor P123 is turned off, and there is no through current flowing from the power supply VCC to the ground through the P-channel MOS transistor P123 and the N-channel MOS transistor N121. The output voltages of I121 and inverter I122 are fixed at approximately 0V and 5V, respectively.
[0016]
[Patent Document 1]
JP-A-2000-174610 (page 3-4, FIG. 13)
[Patent Document 2]
JP-A-60-70822 (page 4, FIG. 6)
[0017]
[Problems to be solved by the invention]
The transistor circuits functioning as the level shift circuits of the conventional examples 1 to 3 described above have the following problems in order to obtain high-speed switching with low power consumption.
[0018]
First, in the transistor circuit of Conventional Example 1 shown in FIG. 9, the gates of the N-channel MOS transistors of the P-channel MOS transistor and the N-channel MOS transistors (P101 and N101, P102 and N102) of the crossing circuit connected in series are connected. The input signal is connected, but the output of the opposite side of the crossing circuit is connected to the gate of the P-channel MOS transistor. Therefore, when the input signal changes, the N-channel MOS transistor immediately turns on and off. However, a through current flows between the turned-on N-channel MOS transistor and the P-channel MOS transistor that is to maintain the current on-state, and the switching speed is reduced. Is not suitable for applications requiring high-speed switching.
[0019]
Further, in the transistor circuit of Conventional Example 2 shown in FIG. 11, when the input voltage IN is at a low level, both the P-channel MOS transistors P111 and P112 of I112 and the N-channel MOS transistor are turned on, so that the input voltage IN is low. Since a through current constantly flows as long as the level is at a level, a transistor circuit with low power consumption cannot be realized.
[0020]
In addition, when the input voltage rises from a low level to a high level, the transistor circuit of Conventional Example 3 shown in FIG. 13 receives the output of the inverter I122, which is the output of the transistor circuit, and tries to maintain the current state and continue the ON state. The P-channel MOS transistor P123 and the N-channel MOS transistor N121 which receives an input signal and changes to the ON state are simultaneously turned on, and a through current flows from the P-channel MOS transistor P123 to the N-channel MOS transistor N121. The state in which the through current flows does not disappear until the voltage at the contact point of the two transistors gradually increases due to the ratio of the P-channel MOS transistor P123 and the N-channel MOS transistor N121 and exceeds the input threshold level of the inverter I122. Therefore, the switching when the input voltage rises from the low level to the high level becomes slow similarly to the transistor circuit of the conventional example 1, and high-speed switching operation cannot be expected.
[0021]
As a result of studying the above conventional transistor circuit, an object of the present invention is to provide a high-speed transistor circuit or a level shift circuit with low power consumption.
[0022]
[Means for Solving the Problems]
A transistor circuit according to the present invention includes a signal input circuit including a transistor that performs an on / off operation in response to an input signal, and a voltage drop provided between a power supply terminal of the signal input circuit and a power supply line. A voltage drop circuit that is generated, and a switch circuit that is connected between a power supply end of the signal input circuit and the power supply line and that is controlled in response to an output signal of the signal input circuit, the signal input circuit being turned on. And a switch circuit for forming an electric path between the power supply end of the power supply line and the power supply line.
[0023]
Thus, in the present invention, the voltage drop circuit provided between the power supply terminal of the signal input circuit and the power supply line and generating a voltage drop between both ends, and the power supply terminal of the signal input circuit and the power supply line A switch circuit connected between the power supply terminal and the power supply line, the switch circuit being configured to be controlled in response to an output signal of the signal input circuit and forming an electric path between a power supply terminal of the signal input circuit and the power supply line when turned on. Since the power supply voltage provided to the power supply terminal of the signal input circuit can be changed depending on the level of the input signal, a through current does not almost flow at the time of switching, and a transistor circuit or a level shift circuit that performs high-speed switching operation Can be realized.
[0024]
In the transistor circuit of the present invention, the transistor circuits are connected in cascade in a plurality of stages, and the voltage drop of the voltage drop circuit included in each stage can be made smaller as the voltage drop circuit included in the subsequent stage. According to such a configuration, the level of the input signal can be shifted to a signal of a large voltage by increasing the number of cascade-connected stages. Further, by reducing the voltage level to be shifted per stage, a steady through current of the signal input circuit can be more completely prevented.
[0025]
Further, the transistor circuit according to the present invention may include a first conductivity type first MOS transistor, and a second conductivity type first MOS transistor having a gate electrode and a drain electrode connected to the gate electrode and the drain electrode of the first MOS transistor, respectively. A CMOS gate circuit including a second MOS transistor; a voltage drop circuit provided between a source electrode of the first MOS transistor and a power supply line to generate a voltage drop therebetween; A switch circuit connected in parallel with the voltage drop circuit between the power supply line and a power supply line, the switch circuit being turned on / off based on an output voltage of the CMOS gate circuit, and being turned on when a source electrode of the first MOS transistor is turned on. And a first switch circuit forming an electric path between the power supply line and the power supply line.
[0026]
As described above, in the present invention, the voltage drop circuit and the switch circuit are connected in parallel between the source electrode of the CMOS gate circuit and the power supply line, and ON / OFF of the switch circuit is controlled based on the output voltage of the CMOS gate circuit. As a result, the power supply voltage applied to the CMOS gate circuit can be changed according to the level of the input signal, and a transistor circuit or a level shift circuit that performs a high-speed switching operation with little through current flowing during switching is realized. it can.
[0027]
Further, the transistor circuit of the present invention includes a second switch circuit connected in series with the voltage drop circuit between the power supply line and a power supply terminal of a CMOS gate circuit, and a source electrode of the second MOS transistor. A third switch circuit connected to the second MOS transistor and connected in parallel with the second MOS transistor. When the second switch circuit is turned on by a control signal, the third switch circuit is turned on. When turning off and turning off the second switch circuit, the third switch circuit may be turned on. With such a configuration, when a high-speed switching operation is not required, a leakage current of the CMOS gate circuit can be prevented by a control signal, and the output voltage of the transistor circuit or the level shift circuit can be fixed.
[0028]
Further, in the transistor circuit of the present invention, the transistor circuits are connected in cascade in a plurality of stages, and the voltage drop of the voltage drop circuit included in each stage can be reduced as the potential difference generation circuit included in the subsequent transistor circuit. According to such a configuration, the level of the input signal can be shifted to a signal of a large voltage by increasing the number of cascade-connected stages. In addition, by reducing the voltage level of the level shift per stage, a steady through current of the first CMOS inverter can be more completely prevented.
[0029]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a transistor circuit according to the first embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a CMOS inverter I1 supplied with 1.5V power, a CMOS inverter I2 composed of a P-channel MOS transistor P1 and an N-channel MOS transistor N1, and CMOS inverters I3 and I4 supplied with 3.3V power. And a voltage drop circuit P2 composed of a P-channel MOS transistor inserted between the CMOS inverter I2 and the 3.3V power supply, and a switch composed of the same P-channel MOS transistor connected in parallel with the voltage drop circuit P2 And a circuit P3. The CMOS inverter I2 receives an input signal as a signal input circuit or a CMOS gate circuit and outputs an output signal. The inverter I1 is an inverter for generating a waveform, and may be omitted. If omitted, the inverted signal of the 1.5V input signal IN may be directly input to the CMOS inverter I2. The gate electrodes of the P-channel MOS transistor P1 and the N-channel MOS transistor N1 of the CMOS inverter I2 are connected to the output of the inverter I1. The source electrode of the N-channel MOS transistor N1 is ground, the source electrode of the P-channel MOS transistor P1 is a drain electrode and a gate electrode of a P-channel MOS transistor P2 forming a voltage drop circuit, and a P-channel MOS transistor P3 forming a switch circuit. Connected to the drain electrode of Further, the drain electrodes of the P-channel MOS transistor P1 and the N-channel MOS transistor N1 are commonly connected and connected to the input of the inverter I3. An output of the inverter I3 is connected to an input of the inverter I4 and a gate electrode of a P-channel MOS transistor P3 serving as a switch circuit. The source electrodes of the P-channel MOS transistors P2 and P3 are connected to a 3.3V power supply line. Although the inverter I4 is provided to drive the 3.3V system circuit, the inverter I4 may be omitted and the output may be taken directly from the inverter I3.
[0030]
Next, the operation of the level shift circuit of the present invention shown in FIG. 1 will be described with reference to timing charts FIGS. In the initial state t0, it is assumed that a low level 0V is input to the input IN. At this time, the voltage at the output point A of the inverter I1 becomes the high level 1.5V. Here, assuming that the threshold value (VT) of the P-channel MOS transistors P1 and P2 is 0.8 V, the gate and drain of the commonly connected P-channel MOS transistor P2 and the source electrode of the P-channel MOS transistor P1 are about 3.3V-0. 8V = 2.5V. Since the voltage at the point A is 1.5V, the P-channel MOS transistor P1 is weakly turned on, but the N-channel MOS transistor N1 is strongly turned on, so that the potential at the output point B of the inverter I2 becomes almost low level 0V. . Then, the output point C of the inverter I3 becomes high level 3.3V, and the inverter I3 outputs low level 0V. At this time, the switch circuit P3 constituted by the P-channel MOS transistor is turned off.
[0031]
Next, when the input IN rises from 0V to a high level of 1.5V at t1, the voltage at the output point A of the inverter I1 drops to 0V. When the point A falls, the N-channel MOS transistor N1 turns off, the P-channel MOS transistor P1 turns on, and the output point B of the inverter I2 rises to about 2.5 V (timing t2). When the voltage at point B rises to 2.5V, the P-channel MOS transistor of inverter I3 turns off and the N-channel transistor turns on, so that the voltage at point C falls to 0V. When the voltage at the point C falls to 0V, OUT outputs a high level of 3.3V, and the switch circuit P3 consisting of a P-channel MOS transistor turns on, and the source electrode of the P-channel MOS transistor P1 rises to 3.3V. As a result, the voltage at point B is further increased from 2.5 V to 3.3 V.
[0032]
Subsequently, a case where the input IN falls from 1.5 V to the low level 0 V will be described with reference to a timing chart of FIG. When the input IN falls at t3, the voltage at the point A rises from 0V to 1.5V. When the voltage at the point A rises to 1.5 V, the N-channel transistor N1 turns on. At this time, since the switch circuit P3 is turned on, the source electrode of the P-channel MOS transistor P1 has 3.3 V, and passes through the switch circuit P3, the P-channel MOS transistor P1, and the N-channel transistor N1. Electric current flows. Here, since the driving capability of the N-channel MOS transistor N1 is larger than the driving capability of the P-channel MOS transistors P1 and P3, the potential at the point B becomes equal to or lower than the input threshold voltage of the inverter I3 (timing t4). Therefore, the voltage at the point C is about 3.3 V, and the output OUT outputs a low level 0 V. When the voltage at the point C becomes about 3.3 V, the switch circuit P3 including the P-channel MOS transistor is turned off, and the source voltage of the P-channel MOS transistor P1 decreases by the voltage drop of the diode-connected P-channel MOS transistor P2. It becomes about 2.5V. When the source voltage of the P-channel MOS transistor P1 drops to about 2.5V, the voltage at the point A is 1.5V, so that the P-channel MOS transistor P1 is almost off, the voltage at the point B becomes almost 0V, and the inverter The through current of I2 only slightly flows.
[0033]
Next, a description will be given of a result of a simulation performed on the first embodiment described above in comparison with Conventional Example 1 and Conventional Example 2. The simulation was performed under the conditions of a power supply voltage of 1.35 V on the input side, a power supply voltage of 3.0 V on the output side, and a temperature of 125 ° C. Here, the size of each transistor is such that the W / L of P1 shown in FIG. 1 is 2.5 μm / 0.39 μm, the W / L of P2 is 10 μm / 0.39 μm, and the W / L of P3 is 0.5 μm / 0. .39 μm, W / L of N1 is 5 μm / 0.55 μm, W / L of P101 and P102 shown in FIG. 10 are 2 μm / 0.39 μm, respectively, and W / L of N101 and N102 are 5 μm / 0.55 μm, respectively. The W / L of P111 and P112 described in No. 12 was 1.5 μm / 0.39 μm, respectively, and the W / L of N111 was 5 μm / 0.55 μm.
[0034]
FIG. 4 is an input / output waveform diagram by the above simulation. In the present invention shown in FIG. 1, the rise time and the fall time are 0.50 ns and 0.39 ns, respectively, whereas in the conventional example 1, the rise time and the fall time are 0.95 ns and 1.06 ns, respectively. In Example 2, the rise time and the fall time were 0.41 ns and 0.36 ns, respectively.
[0035]
Next, FIG. 5 is a waveform diagram of an intermediate node by the above simulation, that is, a point B of FIG. 1, a point E of FIG. 10, and a point H of FIG. Since the rise and fall of the point E in the conventional example 1 are both determined by the balance between the P-channel MOS transistor and the N-channel MOS transistor connected in series, the switching speed is slow. Further, the point H in the conventional example 2 does not become 0 V even when the low level is output because the P-channel MOS transistors P111 and P112 are not turned off. Further, in the present invention, when the point B rises, it rises at a high speed up to about 2 V, inverts the output, and then waits for the switch circuit P3 to conduct to rise to 3.0 V.
[0036]
Next, FIG. 6 is a waveform diagram of a current by the above simulation. The right axis indicates the amount of current flowing from the 3.0 V power supply. In Conventional Example 1, a large through current flows for a long time during switching between rising and falling. In addition, in Conventional Example 2, when IN and OUT are at the low level, it can be seen that the current constantly flows. On the other hand, in the present invention, the through current at the time of switching can be significantly reduced as compared with the conventional example 1. In addition, according to the present invention, it can be understood that the steady-state current at the time of 0V output is significantly reduced as compared with the conventional example 2. Summarizing the simulation results for the current consumption, the average current consumption per cycle during high-speed switching is 27 μA in the present invention, 101 μA in Conventional Example 1, and 35 μA in Conventional Example 2. is there. Further, the steady-state current at the time of 0V output is 8 μA in the present invention, whereas it is almost 0 in Conventional Example 1 and 35 μA in Conventional Example 2.
[0037]
Next, as a second embodiment, by cascading a plurality of the transistor circuits or the level shift circuits of the above-described first embodiment, even when there is a large difference in power supply voltage between input and output, high speed and high speed can be achieved. A transistor circuit which can perform level shift with low power consumption can be obtained. Hereinafter, an example in which a plurality of the above-described transistor circuits or level shift circuits are connected in cascade will be described as a second embodiment. FIG. 7 is a block diagram of a transistor circuit suitable for level-shifting a 1.5V-system signal to 5.0V, for example. The same circuits as those in FIG. In FIG. 7, the power of 5.0 V is applied to the portion where the power of 3.3 V was supplied in FIG. In FIG. 7, the voltage dropping circuit uses a diode-connected P-channel MOS transistor in four stages to generate a large potential difference. Further, in FIG. 7, the power sources of the P-channel MOS transistor P31 and the N-channel MOS transistor N31 corresponding to the inverter I3 of FIG. 1 are not directly connected to the 5.0V system power source, but are connected to the diode-connected PMOS transistor P32. A second potential difference generating circuit and a second switch circuit including a P-channel MOS transistor P33 connected in parallel with the second potential difference generating circuit to a 5.0 V power supply and a source electrode of the P-channel MOS transistor P31. Connected to a 5.0 V system power supply. The circuit shown in FIG. 7 has a two-stage cascade connection of a signal input circuit (CMOS gate circuit) and a transistor circuit including a voltage drop circuit and a switch circuit inserted in parallel between the signal input circuit and the power supply. You may think. In FIG. 4, I2 and I3, P21 to P24 and P32, and P3 and P33 correspond to the previous and next signal input circuits (CMOS gate circuits), voltage drop circuits, and switch circuits, respectively. The output signal of the preceding signal input circuit is inverted by the next signal input circuit and supplied to the preceding switch circuit.
[0038]
In the first embodiment, when there is a large potential difference between the power supply voltage of the input system and the power supply voltage of the output system, the voltage level input to the signal input circuit (I2 in FIG. 1) and the generation of the voltage drop circuit P2 Depending on the potential difference to be applied, a through current flows through the signal input circuit or the gate (the inverter I3 in FIG. 1) that receives the output of the signal input circuit, or the potential difference between the input system power supply voltage and the output system power supply voltage is too large. In that case it might not work. However, in the second embodiment, by cascading a plurality of transistor circuits as described above, even when a large potential difference is required between the input system power supply voltage and the output system power supply voltage, the level shift operation can be performed. it can. Further, the current flowing through the input signal circuit at the time of steady state can be reduced to zero by reducing the level shift voltage per stage. FIG. 7 shows an example in which transistor circuits are connected in two stages. However, the number of stages is not limited to two, and the more the number of stages is increased, the more the level can be shifted to a signal having a level higher than the power supply voltage of the input system. it can. In the case of cascade connection in multiple stages, the voltage drop generated by the voltage drop circuit included in the preceding transistor circuit or the level shift circuit should be larger, and the voltage drop circuit included in the subsequent transistor circuit should have smaller voltage drop. do it.
[0039]
Further, a description will be given of a third embodiment in which the above-described transistor circuit is provided with a circuit for preventing a shoot-through current constantly flowing to a signal input circuit when a high-speed switching operation is unnecessary and for fixing an output voltage. I do. FIG. 8 is a block diagram of the third embodiment. FIG. 8 shows a second switch circuit P41 composed of a P-channel MOS transistor connected in series with a voltage drop circuit between the power supply of the transistor circuit of FIG. 1 and a signal input circuit (CMOS gate circuit) and a CMOS inverter I2. A third switch circuit N41 composed of an N-channel MOS transistor connected between the output and the ground is further provided. When a high-speed switching operation is not required, on / off control is performed by an external control signal so that the switch circuit P41 is turned off and N41 is turned on. When the switch circuit P41 is turned off and N41 is turned on, the CMOS inverter I2 is turned on. Does not flow, and the potential at point B is fixed at 0V. On the other hand, when the switch circuit P41 turns on and the N41 turns off, the circuit operation is exactly the same as in FIG.
[0040]
Although the preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments. For example, in the above-described first to third embodiments, the potential difference generating circuit and the first switch circuit are inserted between the positive power supply and the CMOS inverter. It is needless to say that the switch circuit may be inserted between the negative power supply and the N-channel transistor source electrode of the CMOS inverter.
[0041]
The signal input circuit (CMOS gate circuit) is not limited to a one-input one-output inverter, but is a gate circuit that receives a plurality of input signals, performs a logical operation on the input signals such as NAND and NOR, and outputs an output signal. You may. For example, if the CMOS inverter I2 shown in FIGS. 1, 7, and 8 is replaced with a CMOS NAND gate and a NOR gate, respectively, a transistor circuit that receives a plurality of input signals, performs a logical operation on the result, and level-shifts and outputs the result. A level shift circuit is obtained. Needless to say, an input-side inverter corresponding to I1 in FIGS. 1, 7, and 8 may be provided for each of a plurality of input signals as needed.
[0042]
【The invention's effect】
As described above, the transistor circuit of the present invention can shift the level of an input signal of a low voltage level to a signal of a high voltage level with low current consumption and at a high speed and output the signal.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram illustrating a transistor circuit according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a waveform diagram when an input / output signal of the transistor circuit of FIG. 1 rises.
FIG. 3 is a waveform diagram when an input / output signal of the transistor circuit of FIG. 1 falls.
FIG. 4 is an input / output signal simulation waveform diagram comparing the present invention with a conventional example.
FIG. 5 is an intermediate node signal simulation waveform diagram comparing the present invention with a conventional example.
FIG. 6 is a current consumption simulation waveform diagram comparing the present invention with a conventional example.
FIG. 7 is a block diagram illustrating a transistor circuit according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a block diagram showing a transistor circuit according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a block diagram showing a level shift circuit of Conventional Example 1.
FIG. 10 is a waveform diagram of the level shift circuit of FIG. 9;
FIG. 11 is a block diagram showing a level shift circuit of Conventional Example 2.
FIG. 12 is a waveform diagram of the level shift circuit of FIG. 11;
FIG. 13 is a block diagram showing a level shift circuit of Conventional Example 3.
[Explanation of symbols]
I1-212 CMOS inverter
P1 to P123 P-channel MOS transistor
N1 to N123 N-channel MOS transistor
P2, P21 to P24, P32 Voltage drop circuit
P3, P33, P41, N41 switch circuit

Claims (7)

入力信号を受けてオン/オフ動作を実行するトランジスタを含む信号入力回路と、この信号入力回路の電源端と電源供給ラインとの間に設けられ両端間に電圧降下を発生する電圧降下回路と、前記信号入力回路の電源端と前記電源ラインとの間に接続され前記信号入力回路の出力信号に応答して制御されるスイッチ回路であってオンした時に前記信号入力回路の電源端と前記電源ラインとの間に電気通路を形成するスイッチ回路とを有するトランジスタ回路。A signal input circuit including a transistor that performs an on / off operation in response to an input signal; a voltage drop circuit provided between a power supply terminal of the signal input circuit and a power supply line to generate a voltage drop between both ends; A switch circuit connected between a power supply terminal of the signal input circuit and the power supply line and controlled in response to an output signal of the signal input circuit, and when turned on, a power supply terminal of the signal input circuit and the power supply line And a switch circuit that forms an electric path between the transistor circuit. 請求項1記載のトランジスタ回路を複数段縦続接続し、後段に含まれる電圧降下回路ほど電圧降下の小さな電圧降下回路であることを特徴とするトランジスタ回路。A transistor circuit comprising a plurality of cascade-connected transistor circuits according to claim 1, wherein a voltage drop circuit included in a subsequent stage has a smaller voltage drop. 第1導電型の第1のMOSトランジスタと、ゲート電極とドレイン電極がそれぞれ前記第1のMOSトランジスタのゲート電極とドレイン電極とに接続された第2導電型の第2のMOSトランジスタとを含むCMOSゲート回路と、
前記第1のMOSトランジスタのソース電極と電源供給ラインとの間に設けられ両者間に電圧降下を発生させる電圧降下回路と、
前記ソース電極と前記電源供給ラインとの間に前記電圧降下回路と並列に接続されたスイッチ回路であって、前記CMOSゲート回路の出力電圧に基づいてオンオフ制御され、オンしたときに前記第1のMOSトランジスタのソース電極と前記電源ラインとの間に電気通路を形成する第1のスイッチ回路とを含むことを特徴とするトランジスタ回路。
A CMOS including a first MOS transistor of a first conductivity type and a second MOS transistor of a second conductivity type having a gate electrode and a drain electrode connected to a gate electrode and a drain electrode of the first MOS transistor, respectively. A gate circuit,
A voltage drop circuit provided between a source electrode of the first MOS transistor and a power supply line to generate a voltage drop therebetween;
A switch circuit connected in parallel with the voltage drop circuit between the source electrode and the power supply line, wherein the switch circuit is on / off controlled based on an output voltage of the CMOS gate circuit, and is turned on and off when turned on. A transistor circuit, comprising: a first switch circuit that forms an electric path between a source electrode of a MOS transistor and the power supply line.
前記第1のスイッチ回路はソース電極が前記電源ラインに、ドレイン電極が前記第1のMOSトランジスタのソース電極に接続された第1導電型の第3のMOSトランジスタを含み、前記CMOSゲート回路の出力の反転信号を前記第3のMOSトランジスタのゲート電極に与えオンオフ制御させたことを特徴とする請求項3記載のトランジスタ回路。The first switch circuit includes a first conductivity type third MOS transistor having a source electrode connected to the power supply line and a drain electrode connected to a source electrode of the first MOS transistor, and an output of the CMOS gate circuit. 4. The transistor circuit according to claim 3, wherein an inverted signal of the third MOS transistor is applied to a gate electrode of said third MOS transistor to perform on / off control. 前記電圧降下回路は、ゲート電極とソース電極を共通接続させ、ドレイン電極との間に定電位差を発生させるようにした第4のMOSトランジスタを含むことを特徴とする請求項3または4記載のトランジスタ回路。5. The transistor according to claim 3, wherein the voltage drop circuit includes a fourth MOS transistor that connects a gate electrode and a source electrode in common and generates a constant potential difference between the drain electrode and the gate electrode. circuit. 前記電源ラインと前記第1のMOSトランジスタのソース電極との間に前記電位降下回路と直列に接続された第2のスイッチ回路と、
前記前記第2のMOSトランジスタのソース電極とドレイン電極とに接続され、第2のMOSトランジスタに並列に接続された第3のスイッチ回路を更に含み、
制御信号により、前記第2のスイッチ回路をオンさせるときは前記第3のスイッチ回路をオフさせ、前記第2のスイッチ回路をオフさせるときは前記第3のスイッチ回路をオンさせるようにしたことを特徴とする請求項3乃至5いずれか1項記載のトランジスタ回路。
A second switch circuit connected in series with the potential drop circuit between the power supply line and a source electrode of the first MOS transistor;
A third switch circuit connected to a source electrode and a drain electrode of the second MOS transistor and connected in parallel to the second MOS transistor;
According to a control signal, when the second switch circuit is turned on, the third switch circuit is turned off, and when the second switch circuit is turned off, the third switch circuit is turned on. The transistor circuit according to any one of claims 3 to 5, wherein:
請求項3乃至6いずれか1項記載のトランジスタ回路を複数段縦続接続し、各段に含まれる前記電圧降下回路の電圧降下は後段のトランジスタ回路に含まれる電圧降下回路ほど小さくなっていることを特徴とするトランジスタ回路。7. The transistor circuit according to claim 3, wherein a plurality of stages are cascaded, and a voltage drop of the voltage drop circuit included in each stage is smaller as a voltage drop circuit included in a transistor circuit of a subsequent stage. Characteristic transistor circuit.
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